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C 6115-2 : 2006
方向性結合器
光源
端子2 完全反射処理又は無反射終端処理
基準光ファイバコード1又は2
P0
光パワーメータ
図 13 光反射減衰量測定方法 (手順1)
方向性結合器 供試モジュール
光源
端子2
基準光ファイバコード3
P1
光パワーメータ
図 14 光反射減衰量測定方法 (手順2−1)
方向性結合器 供試モジュール
光源
端子2
基準光ファイバコード3
P1
光パワーメータ
図 15 光反射減衰量測定方法 (手順2−2)
――――― [JIS C 6115-2 pdf 16] ―――――
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C 6115-2 : 2006
関連規格 JIS C 0617-1 電気用図記号 第1部 : 概説
JIS C 0617-2 電気用図記号 第2部 : 図記号要素,限定図記号及びその他の一般用途図記号
JIS C 0617-3 電気用図記号 第3部 : 導体及び接続部品
JIS C 0617-4 電気用図記号 第4部 : 基礎受動部品
JIS C 0617-8 電気用図記号 第8部 : 計器,ランプ及び信号装置
JIS C 0617-10 電気用図記号 第10部 : 電気通信 : 伝送
JIS Z 8202-0 量及び単位−第0部 : 一般原則
JIS Z 8202-1 量及び単位−第1部 : 空間及び時間
JIS Z 8202-2 量及び単位−第2部 : 周期現象及び関連現象
JIS Z 8202-3 量及び単位−第3部 : 力学
JIS Z 8202-4 量及び単位−第4部 : 熱
JIS Z 8202-5 量及び単位−第5部 : 電気及び磁気
JIS Z 8202-6 量及び単位−第6部 : 光及び関連する電磁放射
JIS Z 8203 国際単位系 (SI) 及びその使い方
――――― [JIS C 6115-2 pdf 17] ―――――
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C 6115-2 : 2006
附属書1(参考) JISと対応する国際規格との対比表
JIS C 6115-2:2006 pin-FETモジュール測定方法IEC 62007-2:1999,光ファイバ伝送システム用光電子半導体デバイスー第2部 : 測定方法
(I)JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV)JISと国際規格との技術的差(V)JISと国際規格との技術的差異の理由
国際規 異の項目ごとの評価及びその内容 及び今後の対策
格番号 表示箇所 : 本体
表示方法 : 点線の下線
項目番号 内容 項 内容 項目ごとの 技術的差異の内容
目 評価
番
号
1.適用範囲 pin-FETモジュールの電気IEC 1 光半導体モジュール全般 MOD/削除 JISは,pin-FETモジュ削除した部分は別のJISとして制定済み又は
62007-2
的・光学的特性の測定方法 (pin-FETモジュール,LED,光 ールに限定して規定。制定予定である[詳細は,この対比表の(I)
について規定。 伝送用半導体レーザモジュール JISの規定の項目番号6.に記載]。
など)の測定方法について規定。
2.引用規格 2 − MOD/追加 引用規格にJIS規格 JISは,IEC規格にはない図記号及び計器を
を追加 規定しているため,必要な引用規格を追加。
通常一般的に広く使用されている規定であ
り,商取引上必要なので追加。IEC規格へ提
案を図る。
3.定義 JIS C 6155-1に規定の用語 − − MOD/追加 通常一般的に広く使用され,かつ,商取引上
の定義による。 必要な用語を追加規定。IEC規格へ提案を図
る。
4.測定の状 測定の状態(標準状態,基 − − MOD/追加 測定条件の追加 pin-FETモジュールの測定時に通常広く採用
態 準状態及び判定状態)につ されている,温度などの条件を追加規定。IEC
いて規定。 規格へ提案を図る。
5.測定用機 測定用電源など,測定用機 − − MOD/追加 測定器及びその精度 pin-FETモジュールの測定に使用する機器及
器及び装置 器及び装置について規定。 を追加 び装置として必要な精度の規定を追加。IEC
規格へ提案を図る。
――――― [JIS C 6115-2 pdf 18] ―――――
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C 6115-2 : 2006
(I)JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV)JISと国際規格との技術的差(V)JISと国際規格との技術的差異の理由
国際 異の項目ごとの評価及びその内容 及び今後の対策
規格 表示箇所 : 本体
番号 表示方法 : 点線の下線
項目番号 内容 項目 内容 項目ごとの 技術的差異の内容
番号 評価
6.電気的・光6.1最小受信光入力 4.10 最小受信光入力 IDT IEC規格は,複数の光能動部品に対する測定
学的特性の 方法を規定している。JISは,IEC規格のう
6.2最大受信光入力 − − MOD/追加
測定方法 ち,pin-FETモジュールに関する測定方法だ
6.3受光感度 4.6 受光感度 IDT けを規定するとともに,現在日本で一般的に
6.4暗電流 − − MOD/追加 使用されており,かつ,商習慣上必要な項目
の測定方法を追加規定した。これら追加測定
6.5上昇時間及び下降時間 − − MOD/追加 方法については,IEC規格へ提案を図る。
6.6遮断周波数 − − MOD/追加
6.7周波数応答平たん度 4.7 周波数応答平たん度 IDT
6.8出力雑音電力密度 4.8 出力雑音電力密度 IDT
6.9低周波雑音及びコーナ 4.9 低周波雑音及びコーナ周波数 IDT
ー周波数
6.10光反射減衰量 − − MOD/追加
− pin-FETモジュールに関連する MOD/削除 削除した部分は,別のJISとして制定済み又
もの以外の項目 は制定予定である。
制定済み :
JIS C 5941(光伝送用半導体レーザ)
JIS C 5943(光伝送用半導体レーザモジュー
ル)
JIS C 5951(光伝送用発光ダイオード)
JIS C 5991(光伝送用フォトダイオード)
――――― [JIS C 6115-2 pdf 19] ―――――
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C 6115-2 : 2006
(I)JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV)JISと国際規格との技術的差(V)JISと国際規格との技術的差異の理由
国際 異の項目ごとの評価及びその内容 及び今後の対策
規格 表示箇所 : 本体
番号 表示方法 : 点線の下線
項目番号 内容 項目 内容 項目ごとの 技術的差異の内容
番号 評価
6.電気的・光 制定予定 :
学的特性の ・光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュー
測定方法 ル
(続) ・光変調器モジュール
・デュプレクサモジュール
・LEDアレイ
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : MOD
備考1. 項目ごとの評価欄の意味は,次のとおりである。
− IDT ・・・・・・・技術的差異がない。
− MOD/追加・・・・国際規格にない規定項目又は内容を追加している。
− MOD/削除・・・・国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
− MOD・・・・・・・国際規格を修正している。
JIS C 6115-2:2006の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 62007-2:1999(MOD)
JIS C 6115-2:2006の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.01 : 光ファイバシステム一般
- 31 : エレクトロニクス > 31.260 : オプトエレクトロニクス.レーザー設備
JIS C 6115-2:2006の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC1102-1:2007
- 直動式指示電気計器―第1部:定義及び共通する要求事項
- JISC6115-1:2006
- pin-FETモジュール通則