JIS C 6115-2:2006 ｐｉｎ-ＦＥＴモジュール測定方法

                                                                                  C 6115-2 : 2006

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協会(OITDA)/財団
法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業
標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 62007-2:1999,Semiconductor
optoelectronic devices for fibre optic system applications−Part 2 : Measuring methodsを基礎として用いた。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
  JIS C 6115-2には,次に示す附属書がある。
    附属書1(参考)JISと対応する国際規格との対比表
  JIS C 6115規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 6115-1: pin-FETモジュール通則
    JIS C 6115-2: pin-FETモジュール測定方法

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 6115-2 pdf 1] ―――――

C 6115-2 : 2006

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[1]
•  3. 定義・・・・[1]
•  4. 測定の状態・・・・[1]
•  4.1 標準状態・・・・[1]
•  4.2 基準状態・・・・[1]
•  4.3 判定状態・・・・[2]
•  5. 測定用機器及び装置・・・・[2]
•  5.1 測定用電源・・・・[2]
•  5.2 計器及び測定器・・・・[2]
•  5.3 光パワーメータ・・・・[2]
•  5.4 光スペクトラムアナライザ・・・・[2]
•  6. 電気的・光学的特性の測定方法・・・・[2]
•  6.1 最小受信光入力・・・・[2]
•  6.2 最大受信光入力・・・・[4]
•  6.3 受光感度・・・・[5]
•  6.4 暗電流・・・・[6]
•  6.5 上昇時間・・・・[7]
•  6.6 遮断周波数・・・・[8]
•  6.7 周波数応答平たん度・・・・[10]
•  6.8 出力雑音電力密度・・・・[11]
•  6.9 低周波雑音・・・・[12]
•  6.10 光反射減衰量・・・・[13]
•  附属書1(参考) JISと対応する国際規格との対比表・・・・[16]

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 6115-2 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           C 6115-2 : 2006

pin-FETモジュール測定方法

Measuring methods of pin-FET modules

序文

 この規格は,1999年に第1版として発行されたIEC 62007-2,Semiconductor optoelectronic devices for
fibre optic system applications−Part 2 : Measuring methodsにおいて,pin-FETモジュールの測定方法の関連部
分を翻訳し,技術的内容を変更して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で,側線又は点線の下線を施してある箇所は,原国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表をその説明を付けて,附属書1に示す。

1. 適用範囲

 この規格は,pin-FETモジュールの電気的・光学的特性の測定方法について規定する。
    備考1. ここでいうpin-FETモジュールとは,pin形フォトダイオード(以下,フォトダイオードとい
            う。),電界効果トランジスタ又は増幅回路及び光ファイバとの接続部から構成されるもので
            ある。
        2. この規格の対応国際規格を,次に示す。
              なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
            (修正している),NEQ(同等でない)とする。
          IEC 62007-2:1999,Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications−Part 2 :
              Measuring methods (MOD)

2. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の一部を構成する。こ
れらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 1102-1 直動式指示電気計器 第1部 : 定義及び共通する要求事項
    JIS C 6115-1 pin-FETモジュール通則

3. 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS C 6115-1による。

4. 測定の状態

4.1 標準状態

 測定は,規定がない限り,温度1535 ℃,相対湿度2585 %,気圧8601060 hPaの
もとで行う。ただし,この標準状態での測定値の判定に疑義が生じた場合,又は特に要求された場合は,
4.3による。また,基準状態への換算を必要とする場合には,4.2による。
  なお,標準状態で測定することが困難な場合には,判定に疑義が生じない限り,標準状態以外の状態で
測定を行ってもよい。

4.2 基準状態

 基準状態は,温度25 ℃,相対湿度45 %,気圧8601 060 hPaとする。ただし,温度だ
けをもって基準状態としてもよい。

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C 6115-2 : 2006

4.3 判定状態

 判定状態は,温度25±2 ℃,相対湿度4555 %及び気圧8601 060 hPaとする。

5. 測定用機器及び装置

5.1 測定用電源

 直流電源は,リプル含有率3 %以下,交流電源は高調波含有率5 %以下のものとする。
ただし,商用周波数の場合は,高調波含有率10 %以下とする。
  なお,特に交流出力を測定する試験では,直流電源のリプル含有率,交流電源の高調波含有率及び交流
の流れる直流電源回路の交流インピーダンスは,測定に影響を与えないように小さい値とする。また,サ
ージの侵入に対する十分な防護措置が施されていなければならない。

5.2 計器及び測定器

 規定がない限り,計器は JIS C 1102-1 に規定する0.5級のもの,測定器はこれと
同等以上の確度をもつものとし,これらの入力インピーダンスは測定系への影響を無視できる値とする。

5.3 光パワーメータ

 測定に使用する光パワーメータは,該当する波長で校正され,かつ,受光面感度
分布が十分に平たんなものとする。

5.4 光スペクトラムアナライザ

 測定に使用する光スペクトラムアナライザは,該当する波長で,十分
なダイナミックレンジ(十分低い迷光)と,横(波長)軸,縦(レベル)軸の確度,及び発振スペクトル
を分離するのに十分な分解能をもつものとする。

6. 電気的・光学的特性の測定方法

6.1 最小受信光入力

 [φeDmin(D),φeDmin(A)]
6.1.1  目的 規定された状態での,最小受信光入力を測定することを目的とする。
6.1.2  測定回路 最小受信光入力の測定は,図1及び図2によって次の方法で行う。
6.1.3  測定方法
a) アナログによる測定方法 規定の電源電圧をモジュールに印加し,光源出力を規定値に調整する。規
    定の直流光入力パワーにおいて,電圧計の電圧V1を測定する。次に,光源に正弦波変調を加え,式(1)
    を満足するV2の値になるように変調器の変調電流を調整する。
                        V2   1 C/ N V    (1)
      光パワーメータなどの光信号測定器を用いて,変調された光入力パワーΔφeを測定する。これがモ
    ジュールの最小受信光入力となる。
b) ディジタルによる測定方法 規定の電源電圧をモジュールに印加し,十分に高い消光比の条件下で光
    源を変調する。一定の消光比と誤り率検出器への適切な入力条件を保つように増幅器の利得を調整し
    ながら,光入力パワーを調整する。規定の符号誤り率が得られる最小の光入力パワーを光パワーメー
    タなどの光信号測定器を用いて測定する。これがモジュールの最小受信光入力となる。
6.1.4  測定上の注意 光パワーメータなどの光信号測定器は,校正されていなければならない。光分岐を
用いる場合には,分岐比を事前に測定し温度及び偏波に対する変動が十分に小さいことを確認する。検出
ノイズの増大を避けるために,光源のC/Nは十分に高くなければならない。
6.1.5  個別規格に規定すべき項目
a) アナログ測定の場合は,次による。
  1) 周囲温度Ta又はケース温度Tc
  2) 電源電圧
  3) 光入力パワー
  4) 光源のピーク波長及びスペクトル幅

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                                                                                  C 6115-2 : 2006
  5) 変調周波数
  6) バンド幅
  7)   /N
  8) イコライザのパラメータ(必要であれば)
b) ディジタル測定の場合は,次による。
  1) 周囲温度Ta又はケース温度Tc
  2) 電源電圧
  3) 光源のピーク波長及びスペクトル幅
  4) 伝送速度
  5) 変調形式
  6) 符号誤り率
  7) 信号パターン(ビットシーケンス及びマーク率)
  8) イコライザのパラメータ(必要であれば)
              光源
                        光分岐      供試モジュール
                                                           F
                                                                    C       A
                                                        RL                       V
                                                             RL : 負荷抵抗器
            信号発生器  光信号
                                      電源
                                                             V : 電圧計
            (変調器)   測定器
                                                             C : カップリングコンデンサ
                                                              F : フィルタ
                                                             A : 増幅器
備考 直流測定の場合には,カップリングコンデンサは使用しない。
                   図 1 最小受信光入力の測定回路(アナログによる測定方法)

――――― [JIS C 6115-2 pdf 5] ―――――

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