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C 6115-2 : 2006
光源 光分岐 供試モジュール
F
C A
RL
M
光信号 電源
信号
発生器 測定器
RL : 負荷抵抗器
M : 誤り率検出器
C : カップリングコンデンサ
F : フィルタ
A : 増幅器
備考 光分岐は,空間伝送の場合はビームスプリッタなど,ファイバ結合の場合はファイバカプラなどを指す。
図 2 最小受信光入力の測定回路(ディジタルによる測定方法)
6.2 最大受信光入力
[φeDmax(D)]
6.2.1 目的 規定された状態での,最大受信光入力を測定することを目的とする。
6.2.2 測定回路 最大受信光入力の測定は,図3によって次の方法で行う。
6.2.3 測定方法 規定の電源電圧をモジュールに印加し,十分に高い消光比の条件下で光源を変調する。
一定の消光比と誤り率検出器への適切な入力条件を保つように増幅器の利得を調整しながら,光入力パワ
ーを調整する。規定の符号誤り率が得られる最大の光入力パワーを光パワーメータなどの光信号測定器を
用いて測定する。これがモジュールの最大受信光入力となる。
6.2.4 測定上の注意 光パワーメータなどの光信号測定器は,校正されていなければならない。光分岐を
用いる場合には,分岐比を事前に測定し温度及び偏波に対する変動が十分に小さいことを確認する。検出
ノイズの増大を避けるために,光源のC/Nは十分に高くなければならない。
6.2.5 個別規格に規定すべき項目
a) 周囲温度Ta又はケース温度Tc
b) 電源電圧
c) 光源のピーク波長及びスペクトル幅
d) 伝送速度
e) 変調形式
f) 符号誤り率
g) 信号パターン(ビットシーケンス及びマーク率)
――――― [JIS C 6115-2 pdf 6] ―――――
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C 6115-2 : 2006
h) イコライザのパラメータ(必要であれば)
光源 光分岐 供試モジュール
F
C A
RL
M
光信号 電源
信号
発生器 測定器
RL : 負荷抵抗器
M : 誤り率検出器
C : カップリングコンデンサ
F : フィルタ
A : 増幅器
備考 光分岐は,空間伝送の場合はビームスプリッタなど,ファイバ結合の場合はファイバカプラなどを指す。
図 3 最大受信光入力の測定回路
6.3 受光感度
(RD)6.3.1 目的 規定された変調条件下における光入力状態での,受光感度を測定することを目的とする。6.3.2 測定回路 受光感度の測定は,図4によって次の方法で行う。
6.3.3 測定方法 供試モジュールに規定の電源電圧を印加する。光源を規定の直流光入力パワーφeと変
調周波数に調整し,モジュールに入力する。電圧計の交流出力V0(rms)を測定し,次式を用いて受光感度を
求める。
RD V0 rms/Δ e rms
(pdf 一覧ページ番号 2)
6.3.4 測定上の注意 Δφe(rms)は直流光入力パワーより十分に小さく,規定された変調周波数帯で一定で
ある。
6.3.5 個別規格に規定すべき項目
a) 周囲温度Ta又はケース温度Tc
b) 電源電圧
c) 負荷抵抗 RL
――――― [JIS C 6115-2 pdf 7] ―――――
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C 6115-2 : 2006
d) 光源のピーク波長及びスペクトル幅
e) 直流光入力パワー
f) 変調周波数
供試モジュール
C
光源
RL V
電源
RL : 負荷抵抗器
V : 交流電圧計
又は電圧測定器
C : カップリングコンデンサ
図 4 受光感度測定
6.4 暗電流
(ID)
6.4.1 目的 規定された状態での,暗電流を測定することを目的とする。
6.4.2 測定回路 暗電流の測定は,図5によって次の方法で行う。
6.4.3 測定方法 光の入力がない状態で,供試pin-FETモジュールのPD電源端子に規定の電圧を印加
し,そのときの暗電流を測定する。
6.4.4 個別規格に規定すべき項目
a) 周囲温度Ta又はケース温度Tc
b) 逆電圧
――――― [JIS C 6115-2 pdf 8] ―――――
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C 6115-2 : 2006
R
A
VPD VCC
+ ID +
E E
V V
− RL −
供試モジュール
Vee
R : 保護抵抗器
A : 直流電流計
V : 直流電圧計
E : 直流電源
RL : 負荷抵抗器
VPD : PD逆電圧
VCC : 電源端子
Vee : 電源端子
備考 この測定方法は,PD電源端子が独立して存在するpin-FETモジュールに対して適用する。
図 5 暗電流測定
6.5 上昇時間
(tr)及び下降時間(tf)6.5.1 目的 規定された状態での,上昇時間及び下降時間を測定することを目的とする。6.5.2 測定回路 上昇時間及び下降時間の測定は,図6によって次の方法で行う。
6.5.3 測定方法 供試モジュールに規定の電源電圧を印加する。光源に規定光出力を得るための直流電流
及び規定の振幅並びにパルス幅及び繰返し周波数のく(矩)形電流パルスを重畳する。このようにして得
られた光パルスを供試モジュールに入力し,出力信号をオシロスコープなどで測定し,上昇時間及び下降
時間を求める。規定がない場合には,出力信号が最大値の1090 %までに増加するために要する時間を
上昇時間とする。また,出力信号が最大値の9010 %までに減少するために要する時間を下降時間とす
る(図 7を参照)。
なお,駆動パルス波形,周辺回路,配置などが測定結果に影響する場合があるので,必要に応じて,こ
れらを明示することが望ましい。
6.5.4 測定上の注意 光源は,供試モジュールの上昇時間及び下降時間よりも十分に高速な特性をもち,
安定な光出力であるものを使用する。
6.5.5 個別規格に規定すべき項目
a) 周囲温度Ta又はケース温度Tc
b) 電源電圧
c) 入力光パルス波形
d) 光源のピーク波長及びスペクトル
e) 光入力パワー
f) 負荷抵抗,負荷容量
――――― [JIS C 6115-2 pdf 9] ―――――
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C 6115-2 : 2006
供試モジュール
C
光源
波形観測装置
RL
信号
発生器
電源
同期信号
RL : 負荷抵抗器
C : カップリングコンデンサ
図 6 上昇時間及び下降時間の測定
(%)
100
出 90
力
信
号
10
0
tr tf
上昇時間 下降時間
図 7 上昇時間及び下降時間
6.6 遮断周波数
(fc)6.6.1 目的 規定された状態での,遮断周波数を測定することを目的とする。6.6.2 測定回路 遮断周波数の測定は,図8によって次の方法で行う。
――――― [JIS C 6115-2 pdf 10] ―――――
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JIS C 6115-2:2006の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 62007-2:1999(MOD)
JIS C 6115-2:2006の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.01 : 光ファイバシステム一般
- 31 : エレクトロニクス > 31.260 : オプトエレクトロニクス.レーザー設備
JIS C 6115-2:2006の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC1102-1:2007
- 直動式指示電気計器―第1部:定義及び共通する要求事項
- JISC6115-1:2006
- pin-FETモジュール通則