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C 61300-3-3 : 2009 (IEC 61300-3-3 : 2003)
に,光スイッチの波長依存性を考慮する。
4.1.4 光検出器(D) 光検出器は,適切なコネクタプラグと接続が可能で,接続したコネクタプラグか
らの全光量を受光する必要がある。
安定性及び分解能の規定に加えて,次の条件を満たさなければならない。
直線性 : マルチモード : ±0.25 dB(−60 dBm−5 dBm以上 の範囲で)
シングルモード : ±0.1 dB(−60 dBm−5 dBm以上 の範囲で)
注記 光パワーメータの直線性は,測定波長において−23 dBmのレベルを基準とする。
光検出器は,供試品の測定波長範囲において高いダイナミックレンジをもち,ゼロ補正が可能でなけれ
ばならない。
4.1.5 ストレス負荷装置 ストレス負荷装置は,供試品に規定のストレスを与えることが可能な構造とす
る。環境ストレス試験においては,一般的にストレス負荷装置は規定の最高・最低温度及び最高・最低湿
度を実現可能な環境チャンバとする。機械ストレス試験は,衝撃試験機,引張り試験機,振動板など試験
仕様に応じた適切なストレス負荷装置とする。
4.1.6 光ブランチングデバイス(BD) 光ブランチングデバイスは,分岐比が一定であり,偏光依存性
がないものとする。ディレクティビティは,測定する最大反射減衰量より10 dB以上大きくなければなら
ない。
4.1.7 テンポラリジョイント(TJ) 通常,供試品と試験装置との間の一般的な接続には,試験安定性
の要求条件からメカニカルスプライス又は融着接続が望ましい。
4.1.8 データ収集装置 データ収集は,手動又は自動で行う。測定は,規定の間隔で行う。測定が自動の
場合は,データ収集装置もそれに適合したものを用いる。
4.1.9 基準サンプル 基準サンプルは,試験下のサンプルと直接的な特性比較を行う目的のもので,環境
試験で用いる。基準サンプルは,供試品を実装していないことを除けば,試験下のサンプルと同等とする。
例えば,コネクタが供試品の場合は,基準サンプルは同形式で同等の長さの光ファイバケーブルとする。
基準サンプルはできる限り供試品と近い位置に置くことが望ましい。
4.1.10 基準光ファイバ 基準光ファイバは,光源の不安定性のモニタ及びその補償に用いる。基準光ファ
イバは,基準サンプルがなく,かつ,光源が不安定で規定の測定精度の確保が難しい場合に用いる。
供試品
ストレス負荷装置
図1−方法1 ストレス試験中の単一試料の挿入損失及び反射減衰量のモニタ
――――― [JIS C 61300-3-3 pdf 6] ―――――
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C 61300-3-3 : 2009 (IEC 61300-3-3 : 2003)
1×N
供試品
N
ストレス負荷装置
図2−方法2 1×N光ブランチングデバイスを用いた複数試料の挿入損失及び反射減衰量のモニタ
TJ
モードフィルタ
光スイッチ3
光スイッチ1 光スイッチ2
光源
供試品
ブランチング
供試品
デバイス
供試品
供試品
供試品
供試品
モニタサンプル
基準反射減衰量ストレス負荷装置
基準光ファイバ
図3−方法3 二つの1×N光スイッチを用いた複数試料の挿入損失及び反射減衰量のモニタ
4.2 方法4及び方法5
方法4及び方法5に使用する装置及び複数の供試品をモニタする構成を,図4及び図5に示す。これら
の測定方法で特別に使用する装置は,次による。
4.2.1 OTDR
方法4及び方法5では,OTDRを自動測定装置として使用する。OTDRは,1種類以上のパルス幅及び
一定速度の繰返し光パルスを発生することができなければならない。詳細特性は別途個別規定に記載する。
――――― [JIS C 61300-3-3 pdf 7] ―――――
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C 61300-3-3 : 2009 (IEC 61300-3-3 : 2003)
注記 反射減衰量の測定には長いアベレージング時間を要するため,連続測定の最小周期時間を制限
することがある。
4.2.2 バッファ光ファイバ
供試品とOTDR装置とを空間的に分離させるために必要な長さの光ファイバをバッファ光ファイバとす
る。
4.2.3 光スイッチ
方法2及び方法3における光スイッチとの主要な相違点は,次による。
a) 再現性 OTDRは,供試品と光スイッチの特性とを区別することが可能なため,方法4及び方法5に
おいては光スイッチの個々のチャンネルの挿入損失は長時間にわたる高い再現性は必要ない。
b) 反射減衰量 光スイッチに反射があるとOTDR測定結果の誤差が増大するため,方法4及び方法5に
おいては,光スイッチの反射減衰量は非常に大きい必要がある。
バッファ光ファイバ
TJ
モードフィルタ
光スイッチ1 光スイッチ2
供試品
供試品
供試品
供試品
供試品
供試品
モニタサンプル
ストレス負荷装置
図4−方法4 双方向OTDRによる複数試料の挿入損失及び反射減衰量のモニタ
――――― [JIS C 61300-3-3 pdf 8] ―――――
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C 61300-3-3 : 2009 (IEC 61300-3-3 : 2003)
バッファ光ファイバ
TJ
モードフィルタ
光スイッチ1
供試品
供試品
供試品
供試品
供試品
供試品
モニタサンプル
ストレス負荷装置
図5−方法5 単一方向OTDRによる複数試料の挿入損失及び反射減衰量のモニタ
5 手順
5.1 単一試料の挿入損失及び反射減衰量のモニタ : 方法1
この方法は,光ブランチングデバイスを用いて,ストレス負荷装置中の供試品の挿入損失及び反射減衰
量をモニタする方法を含む。通過光パワー(D1における測定値)及び反射光パワー(D2における測定値)
を基準光パワー(D3における測定値)と比較する。
注記 短期間の挿入損失のモニタに限り,光ブランチングデバイス(BD)を省略することができる。
この場合は,挿入損失の変動が試験中の供試品によるものであり,試験装置による変動でない
ことを検証する必要がある。そのような供試品の測定は,IEC 61300-3-4に準拠することが望ま
しい。
5.1.1 挿入損失のモニタ : 方法1
個別に規定した時間間隔で,D1及びD3の値を読む。D1とD3との比の対数が供試品の挿入損失(dB)に
比例する。ストレス負荷試験における供試品の挿入損失の変化を見るため,このD1/D3比の変化をモニタ
する。通常は,D1/D3比の変化を時間軸上に表示する。
5.1.2 反射減衰量のモニタ : 方法1
規定した時間間隔で,D2及びD3の値を読む。D2とD3との比の対数が供試品の反射減衰量(dB)に比例
する。ストレス負荷試験における供試品の反射減衰量の変化を見るため,このD2/D3比の変化をモニタす
る。通常は,D2/D3比の変化を時間軸上に表示する。
5.2 1×N光ブランチングデバイスを用いた複数試料の挿入損失及び反射減衰量のモニタ : 方法2
この方法は,1×N光ブランチングデバイス及び多数の1×2又は2×2光ブランチングデバイスを用いて,
――――― [JIS C 61300-3-3 pdf 9] ―――――
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C 61300-3-3 : 2009 (IEC 61300-3-3 : 2003)
ストレス負荷装置中の複数の供試品の挿入損失及び反射減衰量をモニタする方法を含む。個々の試料ごと
に,通過光パワー(D1における測定値)及び反射光パワー(D2における測定値)を基準光パワー(D3に
おける測定値)と比較する。
モニタ測定の確度を把握するため,光源Sと1×N光ブランチングデバイスとを組み合わせて,個々の
出力ポートの分岐比の安定性を測定しておく必要がある。
5.2.1 挿入損失のモニタ : 方法2
規定した時間間隔で,個々の供試品のD1及びD3の値を読む。D1とD3との比の対数が供試品の挿入損
失(dB)に比例する。ストレス負荷試験における供試品の挿入損失の変化を見るため,個々の供試品の
D1/D3比の変化をモニタする。通常は,個々の試料のD1/D3比の変化を時間軸上に表示する。
5.2.2 反射減衰量のモニタ : 方法2
規定した時間間隔で,個々の供試品のD2及びD3の値を読む。D2とD3との比の対数が供試品の反射減
衰量(dB)に比例する。ストレス負荷試験における供試品の反射減衰量の変化を見るため,個々の供試品
のD2/D3比の変化をモニタする。通常は,個々の試料のD2/D3比の変化を時間軸上に表示する。
5.3 二つの1×N光スイッチを用いた複数試料の挿入損失及び反射減衰量のモニタ : 方法3
試験装置が複雑なため,通常装置の幾つかの部分をコンピュータ制御とする。この制御は,必要数の測
定を行うために光源を適切な時間で切り替えるため,1×N光スイッチ同士が同期して動作する機能を備え
る。また,この制御はストレス負荷試験の期間中,個別に規定した条件に従って周期的に手順を繰り返す
機能を備える。
5.3.1 挿入損失のモニタ : 方法3
ある時間“t”におけるチャンネル“i”の試験部品の挿入損失の測定は,次による。
Li,tJi Pi,t
ここに, Pi,t = pi,t−pm,t : 規格化光パワー(dB)
pm,t : モニタチャンネルを通過した光パワー(dBm)
pi,t : 光スイッチ1及び2が両方ともチャンネル“i”に
セットしたときの光パワー測定値(dBm)
Ji : チャンネル“i”に対する定数(dB)
基準チャンネルが複数ある場合は,pm,tの値は全基準チャンネルの平均値とする。
注記1 大文字は規格化光パワーを表し,小文字は測定値を表す。チャンネル“i”の規格化光パワー
は,チャンネル“i”を通過した光パワーから全基準チャンネルを通過した光パワーの平均値
を引いたものである。規格化光パワーを使うことで,光源の強度の変動及び損失の変動を分
離することができる。
注記2 添え字“t”は,一連の測定,すなわち,特定条件の測定群を参照していることを意味する。
注記3 図3,図4及び図5の装置において“m”はモニタ試料を表す。モニタ試料は,ストレスチャ
ンバ内の供試品に対して光ファイバ自体で生じる変化をモニタするために用いる。
Pi,tを決定する一連の測定中には,測定系内の光パワーレベルの変動が生じないように注意を払う必要が
ある。
定数Jiは,試験手順の完了時にカットバック法によって求める(図6参照)。
――――― [JIS C 61300-3-3 pdf 10] ―――――
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JIS C 61300-3-3:2009の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61300-3-3:2003(IDT)
JIS C 61300-3-3:2009の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.20 : 光ファイバ接続装備
JIS C 61300-3-3:2009の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC61300-1:2019
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第1部:通則