JIS C 61300-3-3:2009 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－３部：挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法

                                                            C 61300-3-3 : 2009 (IEC 61300-3-3 : 2003)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 概要・・・・[2]
•  3.1 予防措置・・・・[2]
•  4 装置・・・・[2]
•  4.1 方法1,方法2及び方法3・・・・[2]
•  4.2 方法4及び方法5・・・・[5]
•  5 手順・・・・[7]
•  5.1 単一試料の挿入損失及び反射減衰量のモニタ : 方法1・・・・[7]
•  5.2 1×N光ブランチングデバイスを用いた複数試料の挿入損失及び反射減衰量のモニタ : 方法2・・・・[7]
•  5.3 二つの1×N光スイッチを用いた複数試料の挿入損失及び反射減衰量のモニタ : 方法3・・・・[8]
•  5.4 双方向OTDRによる複数試料の挿入損失及び反射減衰量のモニタ : 方法4・・・・[10]
•  5.5 単一方向OTDRによる複数試料の挿入損失及び反射減衰量のモニタ : 方法5・・・・[13]
•  6 個別に規定する事項・・・・[13]
•  6.1 方法1・・・・[13]
•  6.2 方法2及び方法3・・・・[13]
•  6.3 方法4及び方法5・・・・[14]

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C 61300-3-3 : 2009 (IEC 61300-3-3 : 2003)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協会(OITDA)及び財
団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工
業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責
任はもたない。
  JIS C 61300の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 61300-1 第1部 : 通則
    JIS C 61300-2-17 第2-17部 : 低温試験
    JIS C 61300-2-18 第2-18部 : 高温試験
    JIS C 61300-2-19 第2-19部 : 高温高湿試験(定常状態)
    JIS C 61300-2-45 第2-45部 : 浸水試験
     JIS C 61300-2-48 第2-48部 : 温湿度サイクル試験(予定)
     JIS C 61300-3-3 第3-3部 : 挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法
    JIS C 61300-3-20 第3-20部 : 波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
    JIS C 61300-3-28 第3-28部 : 過渡損失測定
    JIS C 61300-3-31 第3-31部 : 光ファイバ光源の結合パワー比測定

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 61300-3-3 : 2009
                                                                       (IEC 61300-3-3 : 2003)

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-3部 : 挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法

Fiber optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 3-3:Examinations and measurements-Active monitoring of changes in attenuation and return loss

序文

  この規格は,2003年に第2版として発行されたIEC 61300-3-3を基に,技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。

1 適用範囲

  この規格は,環境的又は機械的な試験に付随し,光受動部品又は光ファイバ接続デバイスの挿入損失及
び/又は反射減衰量の変化を監視する手順について規定する。これを一般的にはアクティブモニタ法と呼
ぶ。多くの場合,挿入損失及び反射減衰量は同時に測定するほうがより効率的である。
  この測定法は,単一試料測定又は複数試料同時測定に適用し,単一波長又は複数波長による測定を規定
し,必要に応じて光ブランチングデバイス又は光スイッチを使用する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 61300-3-3:2003,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
               measurement procedures−Part 3-3: Examinations and measurements−Active monitoring of
               changes in attenuation and return loss (IDT)
            なお,対応の程度を表す記号(IDT)は,ISO/IEC Guide 21に基づき,一致していることを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 61300-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第1部 : 通則
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
             test and measurement procedures−Part 1: General and guidance (IDT)
    IEC 61300-3-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
        procedures−Part 3-1:Examinations and measurements−Visual examination
    IEC 61300-3-6,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

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C 61300-3-3 : 2009 (IEC 61300-3-3 : 2003)
        procedures−Part 3-6:Examinations and measurements−Return loss
    IEC/PAS 61300-3-35,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
        measurement procedures−Part 3-35:Examinations and measurements−Fibre optic cylindrical connector
        endface visual inspection

3 概要

  この規格は,各種のアクティブモニタ法を規定する。方法1は,単独の光受動部品の機械/環境試験時
における試験方法についての規定である。方法2及び方法3は,複数の光受動部品の測定法を規定し,方
法4及び方法5は,光パルス試験器(OTDR)を用いた測定法を規定する。方法4及び方法5は,OTDR
アベレージ時間が試験状態の変化時間と比較して十分に短い場合だけに用いる。それぞれの測定法におい
て何らかの測定の不確かさがある場合には,方法1を標準測定法とする。
  すべての測定法は,挿入損失及び反射減衰量の同時測定が可能な構成とすることができる。必要な光学
試験パラメータは個別規格に規定する。
  複数の部品を長期間(数日数週間以上)モニタする場合は,自動データ収集装置を用いるのが一般的
である。また,光学特性の変化量が非常に小さい場合は,測定系の長期間の安定性の確保が重要である。

3.1 予防措置

  次の要求条件を,満足しなければならない。
3.1.1  クラッドモードが測定に影響を与えないように予防措置を講じる。クラッドモードは光ファイバコ
ーティングの機能によって除去する。
3.1.2  光ファイバの曲げ損失の変動が測定に影響を与えないように,供試品と測定装置との間の光ファイ
バケーブルが動かないように予防措置を講じる。
3.1.3  測定装置の安定度は,供試品の最低挿入損失の0.05 dB又は10 %のうち低い値以下とする。また,
測定中安定度を保持する。測定精度は,マルチモード又はシングルモードにかかわらず,0.01 dBとする。
3.1.4  信頼性のあるデータを取得するため,製造業者の指定した方法で,すべての供試品を清掃するとと
もに外観検査する。外観検査は,IEC 61300-3-1及びIEC/PAS 61300-3-35による。
3.1.5  光ファイバ中の光パワーは,非線形散乱を生じるレベル以下とする(通常,3 mW以下。)。
3.1.6  モニタする供試品自体の偏光依存性は,光ブランチングデバイス,光スイッチ又は光検出器などの
測定装置の構成要素に起因する偏光依存性より小さいこともあるため,偏光度の小さい光源を使用するか,
偏光度を低減する光学系を用いることが一般的である。
3.1.7  光合波器,光減衰器などのような波長依存性の大きな部品の測定時は,測定精度に影響を与えない
範囲の波長の光源を使用する。
3.1.8  測定装置からの反射量は,測定精度に影響を与えないレベルとする。
3.1.9  マルチモード測定時に,光スイッチ又は光ブランチングデバイスを使用する場合は,これらの部品
はモードによって不均一な光パワー分布が生じ,測定値の誤差の要因になることがあるので,特に注意を
する。

4 装置

4.1 方法1,方法2及び方法3

  方法1,方法2及び方法3に使用する装置を,図1,図2及び図3に示す。

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                                                                                              3
                                                            C 61300-3-3 : 2009 (IEC 61300-3-3 : 2003)
4.1.1  光源(S) 光源は,安定性及び光パワーレベルの要求に対し,次の条件を満たす必要がある。
    中心波長 :  別途規定。
    スペクトル線幅 :  フィルタ付LED :  ≦150 nm FWHM
                    LD                  :  <10 nm FWHM
  マルチモード光ファイバにはLEDのような広帯域光源を使用する。
  シングルモード光ファイバにはLED又はLDを使用する。
    注記1 マルチモード光ファイバ中では,コヒーレント光のモード干渉によってスペックル パターン
            が生じる。スペックル パターンは,特有の時間が検出器の分析時間よりも長いため,スペッ
            クル雑音及びモード雑音を生み,光パワー変動となる。したがって,マルチモード測定にお
            いてコヒーレント光では安定な励振条件を実現できない。結果的に,マルチモード部品の測
            定にはOTDR光源を含むレーザは避け,LED又は他のインコヒーレントな光源を使用するこ
            とが望ましい。
  複数波長の測定法には多くの方法がある。図3はその一例であり,独立した光源が光スイッチ3(SW3)
で結合している。
    注記2 複数波長測定時には,測定装置の波長依存性について考慮することが極めて大切である。例
            えば,異なる光スイッチポートが同一の波長依存性をもっていないとする。その場合は,基
            準チャンネルと任意の測定チャンネルとの比較測定に影響がある。なぜなら,両者を異なる
            光スイッチポートに接続しているからである。したがって,その場合は,測定装置の正確な
            波長特性を試験前に測定しておく必要がある。
4.1.2  励振条件(E) 特に規定しない場合には,励振条件はJIS C 61300-1の附属書Bに準拠する。励
振条件は,クラッドモードを完全に除去し,定常モード分布とする。
4.1.3  モニタ装置 複数測定を行う場合は,複数光路の光をモニタするのに適した装置を用いる。
  図2では,光源からの光を1×N光ブランチングデバイスによってN本の光路に分離して,個々のモニ
タチャンネルに使用している。この方法は,複数の光ブランチングデバイス(2×2)及び光検出器を必要
とするため,供試品の数があまり多くない場合に適している。
  図3では,供試品の光路を光スイッチによって選択する機構を示す。装置は,方向性結合器及び自動制
御機能のある二つの1×N光スイッチで構成する。この方式は,複数の供試品の試験に対応が可能であり,
必要に応じて幾つかのリファレンス光路及びリファレンス反射光路をもつ。
    注記 複数試料の測定システムの設計は,コスト,測定能力などの相反する要因を考慮して決定する。
          例えば,マルチモード部品の測定には,モード損失の問題,それにかかる費用などから,光ブ
          ランチングデバイス及び光スイッチの使用は適切ではない。しかし,シングルモード部品の測
          定には,特に光源及び光検出器のコスト並びに測定安定性を考慮した場合は,光スイッチの使
          用はコスト的に有利である。
  規定すべき光スイッチパラメータは,次による。
a) 再現性 光スイッチのチャンネルごとの挿入損失の再現性は,供試品の挿入損失及び反射減衰量測定
    の確度に直接関連するため,高い必要がある。また,一般的に環境試験は長期間かかることがあるの
    で,再現性を試験期間全体で保証しなければならない。
b) 反射減衰量 光スイッチの反射減衰量特性は,方法2及び方法3における測定に過度に影響を与えな
    い範囲とする。
c) 波長依存性 多波長測定を行うときは,方法2及び方法3における測定に過度に影響を与えないよう

――――― [JIS C 61300-3-3 pdf 5] ―――――

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