JIS C 61300-3-6:2011 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－６部：反射減衰量測定

                                                                               C 61300-3-6 : 2011

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 概要・・・・[2]
•  3.1 OCWR測定法・・・・[2]
•  3.2 OTDR測定法・・・・[2]
•  3.3 OLCR測定法・・・・[2]
•  3.4 OFDR測定法・・・・[2]
•  3.5 基準測定法の選択・・・・[3]
•  4 機器及び記号・・・・[3]
•  4.1 供試品(DUT)・・・・[3]
•  4.2 OCWR測定法・・・・[3]
•  4.3 OTDR測定法・・・・[5]
•  4.4 OLCR測定法・・・・[5]
•  4.5 OFDR測定法・・・・[6]
•  5 手順・・・・[8]
•  5.1 励振条件・・・・[8]
•  5.2 前処理・・・・[8]
•  5.3 試験1 : OCWR測定法・・・・[8]
•  5.4 試験2 : OTDR測定法・・・・[11]
•  5.5 試験3 : OLCR測定法・・・・[14]
•  5.6 試験4 : OFDR測定法・・・・[14]
•  6 個別規格に規定する事項・・・・[16]
•  6.1 OCWRによる反射減衰量測定・・・・[16]
•  6.2 OTDRによる反射減衰量測定・・・・[16]
•  6.3 OLCRによる反射減衰量測定・・・・[17]
•  6.4 OFDRによる反射減衰量測定・・・・[17]
•  6.5 測定手順・・・・[18]
•  附属書A(参考)四つの測定法によって検出できる反射減衰量の比較・・・・[19]
•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[20]

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C 61300-3-6 : 2011

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協会(OITDA)及
び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,
日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 61300の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 61300-1 第1部 : 通則
    JIS C 61300-2-12 第2-12部 : 落下衝撃試験
    JIS C 61300-2-14 第2-14部 : 光パワー損傷のしきい値試験
    JIS C 61300-2-17 第2-17部 : 低温試験
    JIS C 61300-2-18 第2-18部 : 高温試験
    JIS C 61300-2-19 第2-19部 : 高温高湿試験(定常状態)
    JIS C 61300-2-45 第2-45部 : 浸水試験
    JIS C 61300-2-48 第2-48部 : 温湿度サイクル試験
    JIS C 61300-3-3 第3-3部 : 挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法
    JIS C 61300-3-6 第3-6部 : 反射減衰量測定
    JIS C 61300-3-20 第3-20部 : 波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
    JIS C 61300-3-28 第3-28部 : 過渡損失測定
    JIS C 61300-3-30 第3-30部 : 多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置
        測定
    JIS C 61300-3-31 第3-31部 : 光ファイバ光源の結合パワー比測定

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――――― [JIS C 61300-3-6 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 61300-3-6 : 2011

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-6部 : 反射減衰量測定

Fiber optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 3-6: Examinations and measurements-Return loss

序文

  この規格は,2008年に第3版として発行されたIEC 61300-3-6を基に,技術的内容を変更することなく
作成し,構成については一部変更して作成された日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 適用範囲

  この規格は,光ファイバ接続デバイス及び光受動部品の反射減衰量(RL)の測定手順について規定する。
    注記1 関連する試験及び測定方法の通則は,JIS C 61300-1に規定する。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 61300-3-6:2008,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
                measurement procedures−Part 3-6: Examinations and measurements−Return loss(MOD)
              なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 61300-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第1部 : 通則
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
             test and measurement procedures−Part 1: General and guidance(IDT)
    IEC 60793-2 (all parts),Optical fibres−Product specifications
    IEC 61300-3-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
        procedures−Part 3-1: Examinations and measurements−Visual examination
    IEC 61300-3-39,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
        procedures−Part 3-39: Examinations and measurements−PC optical connector reference plug selection

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C 61300-3-6 : 2011

3 概要

  この規格で反射減衰量(略記号RL)とは,供試品に入力又は入射された光パワーPiと供試品から反射さ
れた総光パワーPrとの比を意味し,デシベル単位で示す[式(1)参照]。
                                      Pr
                         RL   10  log     (1)
                                      Pi
  反射減衰量は,正の値である。
  反射減衰量を測定する方法として,次の四つの測定法について規定する。
− OCWR(Optical Continuous Wave Reflectometer,連続光反射率計)による測定法(試験1)
− OTDR(Optical Time Domain Reflectometer,光時間領域反射率計)による測定法(試験2)
− OLCR(Optical Low Coherence Reflectometer,光低コヒーレンス反射率計)による測定法(試験3)
− OFDR(Optical Frequency Domain Reflectometer,光周波数領域反射率計)による測定法(試験4)
  これら四つの測定法はそれぞれ異なった特性をもち,また,空間分解能及び測定限界に関して,それぞ
れ異なるアプリケーションをもつ(附属書Aに,四つの測定法による反射減衰量の測定限界の比較を記述
する。)。

3.1 OCWR測定法

  この測定法は,式(1)で与える反射減衰量の定義に最も近い。この測定法では,入射光パワー及び反射光
パワーを直接測定する。測定器のデータ処理に影響されることはなく,また,参照反射光を用いることが
ないため,絶対的な測定値が得られる(手法A)。この測定法では,幾つかの制限要因がある。同一光軸上
にある二つの異なる反射点を空間的に見分けることができない。また,ダイナミックレンジは,光ブラン
チングデバイスの特性,及び供試品の出力ポートにおいて反射を抑制する終端の特性に依存する。

3.2 OTDR測定法

  この測定法は,OTDRを用いることによって,75 dB以上(パルス幅に依存する)のダイナミックレン
ジで,メートル単位の空間分解能で,光軸上の複数の反射点からの反射減衰量を測定することができる。

3.3 OLCR測定法

  この測定法は,低コヒーレンス光の干渉を用い,高いダイナミックレンジ(90 dB以上)で,マイクロ
メートル単位の空間分解能で,シングルモード光学素子の反射プロファイルを測定することを目的とする。
  反射プロファイルを,シングルモード光学素子の独立した端面又は接続点における反射の分布として定
義する。ある点からの反射が−R dBのとき,その点における反射減衰量はR dBである。この測定法では,
ある点からの反射を,反射光と参照光との光学的干渉によって形成されるビート信号のパワーとして測定
する。分散した反射点をもつ部品を測定した場合は,各反射点を測定系の空間分解能より高い分解能で特
定し,測距することができる。

3.4 OFDR測定法

  この測定法は,OFDRを用いて,高いダイナミックレンジ(70 dB以上)で,センチメートル単位の空
間分解能で,シングルモード光学素子の反射減衰量を測定することを目的とする。
  この測定法の大きな利点は,測定対象である点からの反射を,供試品の接続点,無終端処理部などの測
定対象ではない点からの反射と空間的に区別して測定することができることである。さらに,OFDR測定
法は,信頼性が高く,また,測定装置を小さくできる。
  周波数領域での測定は,逆フーリエ変換によって時間領域の情報に変換する能力に基づいている。この
測定法では,数kHz1 GHzで変調された光源を用いることによって,数センチメートルの分解能で光軸
上にある二つの反射点を分離することができる。

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                                                                               C 61300-3-6 : 2011

3.5 基準測定法の選択

  四つの測定法が異なる特徴と適用領域とをもつため,基準測定法は,供試品の種類によって異なる。反
射減衰量が55 dB以下の部品に対しては,試験1が基準測定法である。55 dBを超える反射減衰量の部品
に対しては,100 ns以下のパルス幅を用いた試験2が基準測定法である。5 m以内の距離で分離された反
射点を分解して測定する場合は,試験3が基準測定法である。

4 機器及び記号

4.1 供試品(DUT)

  供試品が組立部品の一端に実装された光コネクタである場合,基準プラグは,その供試品におけるテン
ポラリジョイント(TJ)の半分とみなし,測定する光コネクタと同一の端面をもち,被測定光コネクタと
して要求される最低限の光学特性を満たす。
  供試品が光コネクタの有無にかかわらずピッグテールで終端されている組立部品である場合は,基準と
なるピッグテール付きプラグ及び必要がある場合は基準アダプタをこれらのポートに光コネクタ終端とと
もに取り付け,ピッグテール光コネクタ付きアセンブリとする。基準プラグは,テンポラリジョイントの
半分とみなし,測定する光コネクタと同一の端面をもち,被測定光コネクタとして要求される最低限の光
学特性を満たす。全ての使用されないポートは,4.2.5に規定する方法で終端する。
  その他の規定がない場合,基準プラグは,IEC 61300-3-39に規定する要求事項に合致したものを用いる。
また,基準アダプタは,相当するJIS又はIEC規格に規定する光コネクタの寸法に合致し,繰り返し再現
性及び空間再現精度に優れたものを用いる。試験に用いるアダプタは,100回の挿抜ごとに目視によって
検査し,500回の挿抜後には交換することを推奨する。

4.2 OCWR測定法

                               図1−OCWRによる反射減衰量測定
  図1に示す回路は,OCWRによる反射減衰量測定に用いる代表的な(ただし,唯一ではない)測定系で
ある。測定する数値が,次の二つの条件を満たすことが要求条件である。
− Pa(光パワーメータD1によって測定する光パワー)は,供試品からの反射光パワーPrと比例しており,
    測定系において供試品以外から反射された光パワーP0を加えたものである[式(2)参照]。
                         Pa C1  Pr P0 (mW) (2)
− Pref(光パワーメータD2によって測定する光パワー)は,供試品への入射光パワーPiに比例しなけれ
    ばならない[式(3)参照]。
                        Pref C2  Pi (mW)  (3)
                      ここに,    Pr :  供試品が反射する光パワー[式(1)]

――――― [JIS C 61300-3-6 pdf 5] ―――――

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