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C 61812-1 : 2014 (IEC 61812-1 : 2011)
14.2.4 ソケットの機械的強度
ソケットは,IEC 61984の要求事項及び試験を満たさなければならない。
ただし,IEC 61984の腐食試験は,JIS C 60068-2-2の5.2(試験Bb : 発熱がない供試品に対する緩やか
な温度変化を伴う高温試験)の70 ℃・240時間の試験Bbによる乾燥加熱定常試験に置き換える。
注記1 この加速試験は,タイマとソケットとを組み合わせた場合の機械的性能及び電気的性能を確
認するものである。
タイマとソケット端子部との間の抵抗値を測定するため,測定用のタイマダミーを使用してもよい。
製造業者の指定による,タイマの仕様書又はカタログに記載したソケットを使用して試験を実施しなけ
ればならない。
注記2 この基準範囲内では,タイマとソケットとの組合せだけを評価している。
14.2.5 その他の端子形の機械的強度
その他の端子形では,この規格に適合し,関連JIS又はIEC規格(存在する場合)を満たすのであれば
許容される。
15 耐熱性及び耐火性
タイマは,所定の条件における異常過熱及び火災に耐える構造でなければならない。
電気的作用,及び装置の安全性劣化による熱ストレスにさらされる絶縁材料の部品は,異常過熱及び火
災に耐えなければならない。
絶縁材の加熱及び火災に対する耐久性が要求事項を満たすかを確認するために,グローワイヤ試験を行
う。タイマ製造業者は,材料試験報告書で代用してもよい。
絶縁材料は,JIS C 60695-2-11に従って最低限度の次の要求事項を満さなければならない。
− きょう(筐)体 : 750 ℃
− 導電支持部 : 850 ℃
− 試験時間 : 30秒
試験済み部品の熱源を取り除いた後,30秒以内に炎及び赤熱部が消えれば試験は合格とする。
16 振動及び衝撃
16.1 振動
動作状態及び非動作状態の双方においてタイマの試験を行わなければならない。
作動状態での試験中,5.2による作動範囲下限,すなわち定格入力電圧の80 %,85 %及び90 %でタイマ
を評価しなければならない。
試験中,接続動作を監視することが望ましい。接点が開放状態になる接点開離は,3 msまでは許容する。
次の条件で(船舶規格などで製造業者が別途指定しない限り)JIS C 60068-2-6に従って試験を実施する。
− 周波数範囲 : 10 Hz 150 Hz
− 折れ点周波数 : 60 Hz
− 60 Hz未満の周波数 : 一定振幅±0.15 mm
− 60 Hzを超える周波数 : 一定加速度20 m/s2(2 g)
− 1方向当たりの掃引サイクル数 : 10
− 掃引速度 : 1オクターブ/分
設定時間は,振動応力によって変化してはならない。更に絶縁物の破損があってはならない。
――――― [JIS C 61812-1 pdf 31] ―――――
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C 61812-1 : 2014 (IEC 61812-1 : 2011)
試験終了時,外観検査及び機能試験を実施しなければならない。
16.2 衝撃
機械的衝撃値は,製造業者が指定し,JIS C 60068-2-27に従って試験を実施しなければならない。試験
終了時,外観検査及び機能試験を実施しなければならない。その他の試験(例えば,船舶規格など)は,
製造業者が指定する。
17 電磁両立性(EMC)
17.1 一般事項
この規格の適用対象となる製品が置かれる環境などには,次の2種類がある(表16参照)。
a) 工業地域,工業用地及び工業用機器
b) 住宅環境,商業環境及び軽工業環境
表16−電磁両立性に影響を与える環境条件
高エミッション 低エミッション
低イミュニティ 適用不可 住宅[b) 参照]
高イミュニティ 工業[a) 参照] 住宅及び工業
工業用機器の用途例には,固定設備に永久接続された機器及び機器内開閉装置がある。
工業用地は,次の一つ又は二つの機器が存在する敷地である。
− 工業,科学又は医療用(ISM)機器(CISPR 11の定義による)
− 頻繁に電流を切り換える大形誘導負荷又は容量負荷をもつ機器
− 高電流磁気探傷器
住宅用途の例は,その応用機器や同様の負荷をもつ機器である。
17.2 イミュニティ
電磁両立性(EMC)の要求事項は,電磁的外乱に対して,タイマの耐量を十分に確保するように選ばれ
ている。工業環境の表17,及び住宅環境・商業環境・軽工業環境の表18の規定によって試験を実施しな
ければならない。
タイマ用に規定した温度・湿度・気圧の動作範囲内,かつ,定格供給電圧において試験を実施する。タ
イマの各機能又は各指定時間の全ての試験ができない場合は,最も厳しい動作モードを選択しなければな
らない。
イミュニティ試験でのタイマの動作は,指定時間中及び指定時間後に適切な測定装置を使用して監視し
なければならない。
判定基準A : 時間機能(例 オンディレイ,オフディレイ)に変化がなく,また計時機能も再起動しな
い場合,機能異常があってはならない。これは,計時中及び計時後に適用する。試験中の
時間変動は,ノイズ印加前の10 %を超えてはならない。表示障害(LED点滅及び判読不
可表示など)があってはならない。
いかなるタイマの出力障害もあってはならない。
判定基準B : 時間機能(例 オンディレイ,オフディレイ)に変化がなく,また計時機能も再起動しな
い場合,機能異常があってはならない。これは,計時中及び計時後に適用する。試験中の
時間変動は,ノイズ印加前の10 %を超えてはならない。試験中の短い表示障害(LED点
滅及び判読不可表示など)は故障ではない。
――――― [JIS C 61812-1 pdf 32] ―――――
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C 61812-1 : 2014 (IEC 61812-1 : 2011)
試験中,出力状態が変わってはならない。
判定基準C : 機能の自己回復又はシステムリセットによる復元が可能であれば,一次的機能低下があっ
てもよい。
試験中の動作構成及びモードは,試験報告書に正確に記載しなければならない。各試験について製造業
者は各試験レベルを記載しなければならない。
表17−工業環境のイミュニティ試験
試験の種類及び適用規格 要求試験レベル及び適用ポート 性能判定
静電気放電 ±8 kV(気中放電) : きょう(筐)体ポート B
JIS C 61000-4-2 ±4 kV(接触放電) : きょう(筐)体ポート
放射無線周波電磁界 A
JIS C 61000-4-3
80 MHz1 GHz 10 V/m : きょう(筐)体ポート
1.4 GHz2 GHz 3 V/m : きょう(筐)体ポート
2 GHz2.7 GHz 1 V/m : きょう(筐)体ポート
電気的ファストトランジェント/±2 kV,5 kHz又は100 kHz : 交流又は直流電源ポート B
バースト ±1 kV : 制御及び出力ポートa), b)
JIS C 61000-4-4
サージ(1.2/50 s8/20 s) ±2 kV(対地間) : 50 Vを超える交流又は直流電源ポートf) B
JIS C 61000-4-5 ±1 kV(対地間) : 制御ポート,及び50 V未満の交流又は直流電
源ポートf)
±1 kV(線間) : 50 Vを超える交流又は直流電源ポート
±0.5 kV(線間) : 50 V未満の交流又は直流電源入力
伝導無線周波数150 kHz80 MHz 10 V b) : 制御ポート,出力ポート,及び交流又は直流電源ポート
A
IEC 61000-4-6
商用周波数磁界のイミュニティ 適用しない。 A
IEC 61000-4-8 c)
電圧ディップ クラス2 d) B
JIS C 61000-4-11 交流電源ポートの1サイクル中の残留電圧0 %
交流電源ポートの25/30サイクルg) 中の残留電圧70 %
短時間停電e) 交流電源ポートの250/300サイクルg) 中の残留電圧0 % C
JIS C 61000-4-11
注a) 容量性クランプを用いる場合,試験レベルは2 kVとする。試験中,制御ポートを電源に接続する場合に適用
する。
b) 制御ポートは,製造業者の機能仕様に従って接続する制御ポートだけに適用できる。そのインタフェースに
用いるケーブルは,全長が3 mを超えてもよい。
c) 製造業者が指定した,電源周波数の磁界に影響されやすい装置を含む機器は,30 A/mで試験を行わなければ
ならない。
d) クラス2は,一般的に工業環境での共通結合部及び現場共通結合部に適用する。機能損失又は性能低下の時
間が要求試験レベルと異なる場合,これを試験報告書に明記する。
e) 機能損失又は性能低下の時間が要求試験レベルと異なる場合,これを試験報告書に明記する。
f) 製造業者が指定する場合,全長が30 mを超えるケーブル及びインタフェースで接続する制御ポートにも適用
できる。
g) 例えば,“25/30サイクル”の表記は,“50 Hzの試験に対しては25サイクル”及び“60 Hzの試験に対しては
30サイクル”の継続時間を適用することを意味している。
――――― [JIS C 61812-1 pdf 33] ―――――
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C 61812-1 : 2014 (IEC 61812-1 : 2011)
表18−住宅環境,商業環境及び軽工業環境のイミュニティ試験
試験の種類及び適用規格 要求試験レベル及び適用ポート 性能判定
静電気放電 ±8 kV(気中放電) : きょう(筐)体ポート B
JIS C 61000-4-2 ±4 kV(接触放電) : きょう(筐)体ポート
放射無線周波電磁界 A
JIS C 61000-4-3
80 MHz1 GHz 3 V/m : きょう(筐)体ポート
1.4 GHz2 GHz 3 V/m : きょう(筐)体ポート
2 GHz2.7 GHz 1 V/m : きょう(筐)体ポート
電気的ファストトランジェント/±1 kV : 交流電源ポート B
バースト ±0.5 kV : 直流電源ポート
JIS C 61000-4-4 0.5 kV : 静電結合クランプを使用する制御ポートa)
サージ(1.2/50 s8/20 s) ±2 kV(対地間) : 50 Vを超える交流又は直流電源ポートd) B
JIS C 61000-4-5 ±1 kV(対地間) : 50 V未満の交流又は直流電源ポートd)
±1 kV(線間) : 50 Vを超える交流又は直流電源ポート
±0.5 kV(線間) : 50 V未満の交流又は直流電源入力
伝導無線周波数150 kHz80 MHz 3 V : 実効値制御ポートd)及び交流又は直流電源ポート A
IEC 61000-4-6
商用周波数磁界のイミュニティ 適用しない。 A
IEC 61000-4-8 b)
電圧ディップc) 交流電源ポートの10サイクル中の残留電圧0 % C
JIS C 61000-4-11 交流電源ポートの10サイクル中の残留電圧40 %
交流電源ポートの10サイクル中の残留電圧70 %
短時間停電c) 交流電源ポートの250/300サイクルe) 中の残留電圧0 % C
JIS C 61000-4-11
注a) ±1 kV : 試験中,制御入出力を電源に接続する場合に適用する。
b) 製造業者が指定した,商用周波数磁界に影響されやすい装置を含む機器は,3 A/mで試験を行う。
c) 機能損失又は性能低下の時間が要求試験レベルと異なる場合,これを容認し,試験報告書に明記する。
d) 製造業者が指定する場合,全長が30 mを超えるケーブル及びインタフェースで接続する制御ポートにも適用
できる。
e) “250/300サイクル”の表記は,“50 Hzの試験に対しては250サイクル”及び“60 Hzの試験に対しては300
サイクル”の継続時間を適用することを意味している。
17.3 放射及び伝導エミッション
タイマは,CISPR 11又はCISPR 22の規定を満たさなければならない。
工業用機器のタイマは,工業要求事項のクラスAを満たさなければならない。
住宅用機器のタイマは,住宅環境,商業環境及び軽工業環境のクラスBを満たさなければならない。
――――― [JIS C 61812-1 pdf 34] ―――――
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C 61812-1 : 2014 (IEC 61812-1 : 2011)
附属書A
(参考)
ボールプレッシャ試験
ボールプレッシャ試験の目的は,材料に過度の変形がなく,高温での機械的圧力に耐えることができる
ことを評価することである。
試験はJIS C 60695-10-2に従って実施するが,恒温槽内部の温度は20 ℃+加熱試験中の最高温度値か,
又は次のいずれか高い方の温度を示す。
− 外部取付け部品では,75 ℃。
− 作動部品を支える部品では,125 ℃。
試験を行う部品の表面は,厚さ3 mmの鋼板上の水平位置に置く。供試品の厚さは2.5 mm未満になって
はならない。必要であれば,試験用層材を2枚以上重ねて使用する。
直径5 mmの鋼球を20 Nで供試品の表面に押し当てる。試験中は,鋼球が動かないように固定すること
が望ましい。
1時間後,鋼球を取り外し,供試品を室温に冷やす。鋼球による痕跡の直径を精度0.1 mm単位で測定し,
直径が2 mm未満であることを確認する。鋼球による痕跡を除いて,周りに供試品の変形がないことを確
認する。
注記 試験は,セラミック材の部品には適用しない。
――――― [JIS C 61812-1 pdf 35] ―――――
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JIS C 61812-1:2014の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61812-1:2011(IDT)
JIS C 61812-1:2014の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 61812-1:2014の関連規格と引用規格一覧
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