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C 62024-2 : 2011 (IEC 62024-2 : 2008)
内側若しくは事前に巻線の内部に配置することが最適な位置になる。
測定位置は,個別規格に規定する。
e) 供試インダクタの温度t1及び周囲温度ta1を,直流電流を流す前に測定する。
f) 直流電源から供試インダクタに直流電流を流す。供試インダクタの温度が安定した後に,供試インダ
クタの温度t2及び周囲温度ta2を再び測定する。
g) 流す直流電流の値を調節して,温度上昇値は,次の式によって算出する。
t t2 ta2 t1 ta1
ここに, t : 温度上昇値(℃)
t1 : 供試インダクタの初期温度(℃)
t2 : 直流電流を流したときの供試インダクタの温度(℃)
ta1 : 初期の周囲温度(℃)
ta2 : 直流電流を流したときの周囲温度(℃)
h) 温度上昇値が個別規格に規定する温度上昇値となる電流値によって温度上昇許容電流値を決定する。
i) 個別規格に規定する温度上昇値は,20 ℃又は40 ℃とすることが望ましい。
6.5 品質確認検査
個別規格に規定する直流電流を,6.36.4に規定する方法に従って供試インダクタに流す。その後,温
度上昇値を測定する。
供試インダクタの温度上昇値は,規定値以内とする。
7 定格電流の決定
インダクタに定格電流を適用する場合は,この規格に規定する定義及び測定による直流重畳許容電流値
又は温度上昇許容電流値のいずれか小さい方を定格電流とする。
8 個別規格に規定する事項
8.1 直流重畳許容電流の測定方法
次の事項を個別規格に規定する。
a) 周波数fs及び電圧Es[5.3 b)及び5.5 d)参照]
b) 取付けジグ(5.4参照)
c) インダクタンスの許容低下率[5.5 f)参照]
d) 直流重畳許容電流(5.6参照)
8.2 温度上昇許容電流の測定方法
次の事項を個別規格に規定する。
a) 測定ジグ(6.3参照)
b) 測定方法(6.4参照)
c) 温度上昇値[6.4.1 h)及び6.4.2 h)参照]
d) 測定位置(熱電対法を適用する場合)[6.4.2 d)参照]
e) 温度上昇許容電流(6.5参照)
――――― [JIS C 62024-2 pdf 11] ―――――
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C 62024-2 : 2011 (IEC 62024-2 : 2008)
附属書A
(参考)
製品仕様書及びカタログへの記載の推奨例
直流重畳許容電流値及び温度上昇許容電流値の両方を,製品仕様書及びカタログで記載することが望ま
しい。
直流重畳許容電流値は,インダクタンスの低下率が,10 %又は30 %のいずれのときの値であるかを記載
することが望ましい。
注記1 バイアス電流を流さないときのインダクタンス値に対して,バイアス電流を増加してインダ
クタンス値が30 %低下したところから,更にバイアス電流を10 %増加したときに8 %以上の
インダクタンス値の低下がある場合に,急しゅんな変化(急しゅんな飽和)という。バイア
ス電流を流さないときのインダクタンス値に対して,バイアス電流を増加してインダクタン
ス値が30 %低下したところから,更にバイアス電流を10 %増加したときに8 %未満のインダ
クタンス値の低下がある場合に,緩やかな変化(緩やかな飽和)という。
急しゅんに変化するインダクタは,変曲点を超えると,インダクタンスが急勾配で減少す
る。したがって,変曲点以下の負荷電流で動作するように規定し,設計している。代表的な
設計ポイントとして,10 %を標準的に用いている。その他の値は,例えば,20 %又は30 %
を製造業者と使用者との間での合意で用いている。
緩やかに変化するインダクタは,明確な変曲点がなく,インダクタンスは,連続的かつ段
階的な減少を示す。したがって,通常,20 %50 %又は用途によってそれ以上のインダクタ
ンスの低下率となる負荷電流で動作するように規定し,設計している。必ずしも必須ではな
いが,代表的な設計ポイントとして,30 %を標準的に用いている。その他の値は,例えば,
20 %又は50 %を,製造業者と使用者との間での合意で用いている。
温度上昇許容電流値は,インダクタの温度上昇が20 ℃又は40 ℃のいずれのときの値であるかを記載す
ることが望ましい。
定格電流という定義を用いる場合には,直流重畳許容電流値及び温度上昇許容電流値のうちいずれか小
さい方とすることが望ましい。
注記2 一般的に,インダクタの使用温度の上限は,周囲温度にインダクタの自己発熱による温度上
昇分を加えた温度としている。
JIS C 62024-2:2011の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 62024-2:2008(IDT)
JIS C 62024-2:2011の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 62024-2:2011の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISC62025-1:2011
- 高周波誘導部品―非電気特性及び測定方法―第1部:電子機器及び通信機器用表面実装固定インダクタ及びフェライトビーズ