JIS C 62246-1-1:2016 リードスイッチ―第１－１部：品質評価及び試験方法

                                                                               C 62246-1-1 : 2016

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  3.1 リードスイッチの特性分類に関する用語及び定義・・・・[2]
•  3.2 品質評価検査に関する用語及び定義・・・・[3]
•  3.3 検査に関する用語及び定義・・・・[3]
•  4 試験の計画・・・・[3]
•  4.1 試験の手順に対する一般要求事項・・・・[3]
•  4.2 形式試験(開発・設計段階)・・・・[3]
•  4.3 品質評価検査(生産)・・・・[3]
•  4.4 検査ロット・・・・[4]
•  4.5 検査間隔・・・・[4]
•  4.6 試験及び検査の標準条件・・・・[4]
•  4.7 試験ジグの取付け・・・・[4]
•  4.8 試験及び検査の一般要求事項・・・・[4]
•  5 リードスイッチの特性値・・・・[27]
•  5.1 リードスイッチの基本特性値・・・・[27]
•  5.2 標準試験コイル番号・・・・[28]
•  5.3 接点データ・・・・[28]
•  5.4 環境性データ・・・・[33]
•  6 信頼性-故障率データ・・・・[33]
•  7 表示・・・・[33]
•  7.1 リードスイッチの表示・・・・[33]
•  7.2 包装箱の表示・・・・[34]
•  附属書A(規定)標準試験コイルでの配置・・・・[35]
•  附属書B(規定)特性分類品・・・・[36]
•  附属書C(参考)適用事例・・・・[37]
•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[39]

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――――― [JIS C 62246-1-1 pdf 1] ―――――

C 62246-1-1 : 2016

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本電気制御機器工業会(NECA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 62246の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 62246-1 第1部 : 品目別通則
    JIS C 62246-1-1 第1-1部 : 品質評価及び試験方法

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 62246-1-1 : 2016

リードスイッチ−第1-1部 : 品質評価及び試験方法

Reed switches-Part 1-1: Detail specification-Quality assessment

序文

  この規格は,2013年に第1版として発行されたIEC 62246-1-1を基とし,技術的内容を変更して作成し
た日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 適用範囲

  この規格は,JIS C 62246の規格群の個別規格(品質評価及び試験方法)であり,一般用及び産業用途に
使用するリードスイッチの要求事項及び試験項目について規定する。
  この規格は,JIS C 62246-1と併用して用いる。
  この規格は,JIS C 62246-1,及びJIS C 62246-1の仕様から由来した個別規格に使用する適切な試験手順
から選定し,それらで構成している。
  リードスイッチの品種は,特性値及び試験項目に従って規定する。
    注記1 水銀入りリードスイッチは,環境問題からこの規格の適用範囲から除いている。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 62246-1-1:2013,Reed switches−Part 1-1: Generic specification−Quality assessment(MOD)
              なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。
    JIS C 6575-2:2013 ミニチュアヒューズ−第2部 : 管形ヒューズリンク
      注記 対応国際規格 : IEC 60127-2:2003,Miniature fuses−Part 2: Cartridge fuse-links(MOD)
    JIS C 60068-2-6:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-6部 : 正弦波振動試験方法(試験記号 : Fc)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-6:2007,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration
             (sinusoidal)(IDT)
    JIS C 60068-2-11:1989 環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-11:1981,Basic environmental testing procedures−Part 2-11: Tests−
             Test Ka: Salt mist(IDT)

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2
C 62246-1-1 : 2016
    JIS C 60068-2-14:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-14部 : 温度変化試験方法(試験記号 : N)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-14:2009,Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of
             temperature(IDT)
    JIS C 60068-2-20:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-20部 : 試験−試験T−端子付部品のはんだ
        付け性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-20:2008,Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test
             methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads(IDT)
    JIS C 60068-2-21:2009 環境試験方法−電気・電子−第2-21部 : 試験−試験U : 端子強度試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-21:2006,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness
             of terminations and integral mounting devices(IDT)
    JIS C 60068-2-78:2004 環境試験方法−電気・電子−第2-78部 : 高温高湿(定常)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-78:2001,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp
             heat, steady state(IDT)
    JIS C 62246-1:2016 リードスイッチ−第1部 : 品目別通則
      注記 対応国際規格 : IEC 62246-1:2015,Reed switches−Part 1: Generic specification(IDT)
    JIS E 4031:2013 鉄道車両用品−振動及び衝撃試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 61373:2010,Railway applications−Rolling stock equipment−Shock and
             vibration tests(MOD)

3 用語及び定義

  主な用語及び定義は,JIS C 62246-1の箇条3によるほか,次による。

3.1 リードスイッチの特性分類に関する用語及び定義

3.1.1
品種(type)
  製造業者が指定した仕様(寸法,接点構成,接点耐圧,開閉容量,封入ガスの種類など)によって分類
される製品。
3.1.2
特性分類品(variant)
  規定の特性をもつ品種内でのバリエーション。
    注記 特性分類品の種類については,附属書B及び附属書Cを参照。
3.1.3
リードスイッチ(reed switch)
  一対の磁性材料を各々弾性的に可動できるように,その一部をプレス加工した線材に適切な重なり及び
間隔をもたせ,封着用ガラス管に封入した磁気で駆動するスイッチ。
3.1.4
高耐圧形リードスイッチ(high voltage vacuum reed switch)
  高い電圧を開閉するためハーメチックシール管内を真空又は加圧して封着したリードスイッチ。
3.1.5
重負荷形リードスイッチ(heavy-duty reed switch)
  より大きな接点開閉容量をもつリードスイッチ。

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                                                                               C 62246-1-1 : 2016
    注記 一対の接点チップ又は磁極部と通電部とを完全に分離させ,接点チップ及び戻しばねを接点片
          に追加したリードスイッチ。

3.2 品質評価検査に関する用語及び定義

3.2.1
ルーチン検査(routine test)
  出荷時に,各々のリードスイッチに行う適合検査。
3.2.2
ロットごとの検査(lot-by-lot test)
  月に1回以上,定期的に量産中の製品から抜き取ったリードスイッチのサンプルに行う検査。
3.2.3
定期検査(periodic test)
  サブグループC1の場合は年に1回以上,サブグループC4の場合は2年に1回以上,定期的に量産中の
製品から抜き取ったリードスイッチのサンプルに行う検査。
    注記1 定期検査の結果は,技術的な特性が確保されていることを確認するために使用する。
    注記2 サブグループは4.5を参照。

3.3 検査に関する用語及び定義

3.3.1
検査水準,IL(inspection level)
  ロット又はバッチの生産数量とサンプル数量との関係によって決定される検査量。
    注記 ロットからの抜取サンプル数量は,検査水準の厳しさによって決まる。
3.3.2
合格品質水準,AQL(acceptance quality level)
  連続したロットの抜取検査で許容される工程平均の上限の品質水準。

4 試験の計画

4.1 試験の手順に対する一般要求事項

  試験の手順は,JIS C 62246-1の箇条6(試験及び測定方法)による。

4.2 形式試験(開発・設計段階)

  形式試験の手順は,次による。
− サンプリング及び試験の計画は,表2及び表3によって行う。
− 規定する試験及びその順序は遵守しなければならない。
− 他に規定がない場合は,表2及び表3に規定する試験は遵守しなければならない。

4.3 品質評価検査(生産)

  製品は,出荷検査,抜取検査及び定期検査によって確認する。
  品質評価検査を含む各検査は,次による。
− グループA : ルーチン検査
− グループA及びB : ロットごとの検査
− グループC : 定期検査
  この個別規格に規定がない場合は,表1の全ての検査を遵守しなければならない。
  サブグループが含むルーチン検査,ロットごとの検査及び定期検査で,検査の順序は遵守しなければな

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