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D 5006 : 2008
4.2.2.1.3 要求事項
供試品の機能状態は,ISO 16750-1: 2003の箇条6に規定するクラスC以上とする。特別な要求事項を受
渡当事者間で合意してもよい。
4.2.2.2 エミッション
電気・電子機器は,ロードダンプ時のゼネレータ電圧及びISO 7637-2に規定するパルスを除いて,50 V
を超える電圧を回路網に生じてはならない。
4.2.2.1.14.2.2.1.3に規定する場合を除いて,回路網電圧が50 Vを超えないための確実な措置をとらな
ければならない(例えば,電源における保護装置及び/又はゼネレータ電圧の調整)。
4.3 付加交流電圧
4.3.1 目的
この試験は,直流供給電圧に付加される交流をシミュレートし,供試品の機能状態を確認する。
なお,供試品の好ましくない共鳴モード及び発生熱応力について調査する。
4.3.2 試験方法
供試品を,図2に示すとおり接続する。供試品のすべての関連する入力(接続)に対して,同時に表2
及び図2に従った試験を行う。
バッテリには,これらの試験電圧を加えてはならない。
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1 2 3
5
1 掃引ゼネレータ
2 変調ができる電源
3 供試品
4 プラス配線
5 グラウンド a)又は帰線
注 a) 電位の,共通の基準として使用されるゼロ電位の部位。
図2−部品電源線の付加交流電圧試験配置
――――― [JIS D 5006 pdf 6] ―――――
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D 5006 : 2008
表2−試験値
試験電圧(図3参照) Udc + 0.5 UPP sin(ωt)
a) dc = 48 Vのとき,50 Hz1 kHz : UPP = 4 V
交流電圧(正弦波) b) dc = 48 Vのとき,1 kHz20 kHz : UPP = 1 V
c) dc = 30 Vのとき,50 Hz1 kHz : UPP = 4 V
d) dc = 30 Vのとき,1 kHz20 kHz : UPP = 1 V
電源の内部抵抗 50100 mΩ
周波数範囲 図4参照
周波数掃引のタイプ 図4参照
掃引時間(1掃引) 120 s
試験ごとの掃引数 連続5回
t : 時間(s)
U : 電圧(V)
図3−付加正弦波交流の試験電圧
f
B
A
60 120 t
f : 周波数[Hz(対数目盛)]
t : 時間(s)
A : 50 Hz [表2,a) 及びc) ]又は1 kHz[表2,b)及びd) ]
B : 1 kHz [表2,a) 及びc) ]又は20 kHz[表2,b) 及びd) ]
図4−周波数掃引条件
――――― [JIS D 5006 pdf 7] ―――――
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D 5006 : 2008
4.3.3 要求事項
供試品の機能状態は,ISO 16750-1: 2003の箇条6に規定するクラスAでなければならない。試験におけ
る共鳴現象及び発熱のレベルは,受渡当事者間の協定による。
4.4 供給電圧の緩い降下及び上昇
4.4.1 目的
この試験は,バッテリの緩やかな放電及び再充電のときの,供試品の仕様に従った機能状態を確認する。
4.4.2 試験方法
供試品のすべての関連する入力(接続)に,同時に次の試験を実施する。
供給電圧をUhighから0 Vまで降下し,次いで0 VからUhighまで上昇させる。適用する変化率は,ほかに
規定がなければ(3±0.1)V/minとする。
4.4.3 要求事項
供試品の機能状態は,UhighとUlowとの間ではISO 16750-1: 2003の箇条6に規定するクラスAでなけれ
ばならない。Ulowと0 Vとの間は,ISO 16750-1: 2003の箇条6に規定するクラスD以上とする。
4.5 供給電圧の分断
4.5.1 供給電圧の瞬間降下
4.5.1.1 目的
この試験は,電圧の瞬間降下に遭遇したときの,供試品の仕様に従った機能状態を確認する。これは,
別の分岐回路での短絡でヒューズエレメントが溶断したときの,電源への衝撃のシミュレーションである。
4.5.1.2 試験方法
図5に示す試験パルスを,供試品のすべての関連する入力(接続)に与える。
Ulowと16 Vとの間の降下時間及び立上がり時間は,10 ms以下とする。
U 100 ms
Ulow
16
t
t : 時間(s)
U : 電圧(V)
図5−瞬間電圧降下
4.5.1.3 要求事項
供試品の機能状態は,ISO 16750-1: 2003の箇条6に規定するクラスB以上とする。受渡当事者間で協定
すればクラスCとすることができる。
4.5.2 電圧降下時のリセット挙動
4.5.2.1 目的
――――― [JIS D 5006 pdf 8] ―――――
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D 5006 : 2008
この試験は,異なる電圧降下においての供試品のリセット挙動を確認する。これは,リセット機能付き
の機器(例えば,一つ以上のマイクロコントローラを含む機器)に適用する。
4.5.2.2 試験方法
図6に従った試験パルスを用いて供試品のリセット挙動を調べる。
Ulowから0.95 Ulowまで,電源電圧を5 %降下させる。この電圧を5 sの間保持したのち,Ulowに電圧を
上げる。その状態で少なくとも10 sの間Ulowを保ってから,機能試験を行う。続いて0.9 Ulowに電圧を下
げるなど,下の電圧値が0 Vに達するまで図6に示すようにUlowの5 %ずつの降下を続ける。その後,再
びUlowに電圧を上げる。
電圧の降下時間及び立上がり時間は,10 ms1 sとする。
Y
100
90
80
20
10
0
5 t
Y : Ulow (%)
t : 時間(s)
図6−リセット試験の供給電圧変化
4.5.2.3 要求事項
供試品の機能状態は,ISO 16750-1: 2003の箇条6に規定するクラスC以上とする。
4.5.3 始動時電圧
4.5.3.1 目的
この試験は,内燃機関始動中及びその後の供試品の機能状態を確認する。
4.5.3.2 試験方法
供試品のすべての関連する入力(接続)に,図7及び表3に示す条件の始動時電圧を同時に印加する。
――――― [JIS D 5006 pdf 9] ―――――
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D 5006 : 2008
U
UT
UA
US
t1 t2 t3 t4 t5 t
t : 時間(s)
U : 電圧(V)
図7−始動時電圧条件
表3−始動時電圧条件の指定値
UT US UA t1 t2 t3 t4 t5
V V V ms ms ms ms ms
42 18 21 5 15 50 10 000 100
4.5.3.3 要求事項
始動中に自動車の動作に関連する供試品の機能状態は,ISO 16750-1: 2003の箇条6に規定するクラスA
でなければならない。特別な事項については,クラスBを受渡当事者間で協定してもよい。
始動中に動作を要求されない供試品の機能状態は,ISO 16750-1: 2003の箇条6に規定するクラスC以上
とする。
t1,t2及び/又はt3の間の電圧及び持続時間の特別な要求事項は,受渡当事者間で協定してもよい。
4.6 逆電圧
4.6.1 目的
この試験は,バッテリの逆接続に対する供試品の堅ろう(牢)性を確認する。
試験は,直列のヒューズ及び逆極性分流ダイオードで構成する集中逆電圧保護装置を組入れた,42 V電
気システム用の供試品だけに適用する。
この試験は,次の機器には適用しない。
− ゼネレータ
− 外部逆極性保護装置のないクランピングダイオードを備えたリレー
4.6.2 試験方法
供試品のすべての関連する入力(接続)に,逆電圧を同時に印加する。
条件は,次による。
− 試験電圧 UT = −2 V
− 持続時間 t = 100 ms
− 内部抵抗 Ri = 1 mΩ
注記 持続時間t及び逆電圧UTは,現在の半導体及びヒューズ技術の能力に基づいて選んでいる。
――――― [JIS D 5006 pdf 10] ―――――
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JIS D 5006:2008の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 21848:2005(MOD)