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JIS C 7032:1993 廃止 規格情報
この規格の廃止理由、適用範囲に記載の規定類がほとんど廃止されていること,また,この規格制定当初の目的は果たされており,この規格規定の役割は終了したと判断できるため。
JIS C 7032:1993 廃止 移動先 規格概要
この規格 C7032は、電子機器に用いるバイポーラトランジスタ及び電界効果トランジスタの一般的共通事項について規定。
- 規格 番号
- JIS C7032
- 規格 名称
- トランジスタ通則
- 規格 名称 英語訳
- General rules for transistors
- 制定 年月日
- 1971-09-01
- 廃止 年月日
- 2016-03-22
- 引用 JIS 規格
- JISC0301,JISC7021,JISC7030,JISC7210,JISZ8202,JISZ8203
- 対応国際 規格 ISO
- IEC 60747-1:1983(NEQ), IEC 60747-7:1988(NEQ), IEC 60747-8:1984(NEQ)
- 国際規格 分類 ICS
- 31.080.30
- 改訂 履歴
- 1971-09-01 制定日, 1974-07-01 確認日, 1977-09-01 確認日, 1977-12-01 改正日, 1983-03-01 確認日, 1988-01-01 確認日, 1993-03-01 改正日, 1999-06-20 確認日, 2004-03-20 確認日, 2010-10-01 確認 2016-03-22 廃止日
- 公示の種類
- 廃止
- 廃止の理由
- 適用範囲に記載の規定類がほとんど廃止されていること,また,この規格制定当初の目的は果たされており,この規格規定の役割は終了したと判断できるため。
- 移行先(移動先)
- JISハンドブック
- 電子 III-1 2020, 電子 III-2 2020
JIS C 7032:1993の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0301:1990
- 電気用図記号
- JISC7021:1977
- 個別半導体デバイスの環境試験方法及び耐久性試験方法
- JISC7030:1993
- トランジスタ測定方法
- JISC7210:1977
- 信頼性保証個別半導体デバイス通則
- JISZ8202:1985
- 量記号,単位記号及び化学記号
- JISZ8203:1964
- 単位記号
- JISZ8203:2000
- 国際単位系(SI)及びその使い方
JIS C 7032:1993の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60747-1:1983(NEQ)
- IEC 60747-7:1988(NEQ)
- IEC 60747-8:1984(NEQ)