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JIS C 7210:1977 (W) 信頼性保証個別半導体デバイス通則

JIS C 7210:1977 廃止 規格情報

JIS C 7210:1977 廃止 移動先 規格概要

この規格 C7210は、電子機器に用いる個別半導体デバイスのうち信頼性保証が要求されるデバイスについての信頼性保証プログラム,認証試験,定期的認証維持試験などの共通的事項について規定。

規格 番号
JIS C7210 
規格 名称
信頼性保証個別半導体デバイス通則
規格 名称 英語訳
General rules for reliability assured discrete semiconductor devices
制定 年月日
1977-03-01
廃止 年月日
1997-06-20
引用 JIS 規格
JISC0301,JISC5700,JISC7012,JISC7021,JISC7032,JISZ8202,JISZ9015
対応国際 規格 ISO
-
国際規格 分類 ICS
31.080.01
改訂 履歴
1977-03-01 制定日, 1980-03-01 確認日, 1987-02-01 確認日, 1992-07-01 確認 1997-06-20 廃止日
公示の種類
廃止
廃止の理由
-
移行先(移動先)
JISハンドブック
電子 III-1 2020, 電子 III-2 2020

JIS C 7210:1977の関連規格と引用規格一覧

JIS C 7210:1977の国際規格 ICS 分類一覧

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