JIS B 0090-7:2021 光学素子及び光学システム用の製図手法―第７部：表面欠陥

                                                                B 0090-7 : 2021 (ISO 10110-7 : 2017)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 図面内の表示・・・・[3]
•  4.1 一般・・・・[3]
•  4.2 光学素子及び光学的組立品についての寸法による規定・・・・[3]
•  4.3 光学素子及び光学的組立品についての可視度による規定・・・・[7]
•  4.4 表示の位置・・・・[10]

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――――― [JIS B 0090-7 pdf 1] ―――――

           B 0090-7 : 2021 (ISO 10110-7 : 2017)

まえがき

  この規格は,産業標準化法第16条において準用する同法第12条第1項の規定に基づき,日本光学工業
協会(JOIA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,産業標準原案を添えて日本産業規格を改正す
べきとの申出があり,日本産業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本産業規格である。
これによって,JIS B 0090-7:2012は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS B 0090規格群(光学素子及び光学システム用の製図手法)は,次に示す部で構成する。
    JIS B 0090-1 第1部 : 通則
    JIS B 0090-2 第2部 : 材料欠陥−応力複屈折
    JIS B 0090-3 第3部 : 材料欠陥−泡及び異物
    JIS B 0090-4 第4部 : 材料欠陥−不均一性及び脈理
    JIS B 0090-5 第5部 : 表面形状公差
    JIS B 0090-6 第6部 : 偏心公差
    JIS B 0090-7 第7部 : 表面欠陥
    JIS B 0090-8 第8部 : 表面性状(粗さ及びうねり)
    JIS B 0090-9 第9部 : 表面処理及びコーティング
    JIS B 0090-10 第10部 : 光学素子及び接合部品のデータ表示表
    JIS B 0090-11 第11部 : 公差表示のないデータ
    JIS B 0090-12 第12部 : 非球面
    JIS B 0090-14 第14部 : 波面形状公差
    JIS B 0090-17 第17部 : レーザ放射による損傷しきい値

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――――― [JIS B 0090-7 pdf 2] ―――――

                                      日本産業規格                            JIS
                                                                           B 0090-7 : 2021
                                                                          (ISO 10110-7 : 2017)

光学素子及び光学システム用の製図手法−第7部 : 表面欠陥

Preparation of drawings for optical elements and systems- Part 7: Surface imperfections

序文

  この規格は,2017年に第3版として発行されたISO 10110-7を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本産業規格である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  JIS B 0090規格群は,製造及び検査に使用する製図における,光学素子及び光学システムに対する設計
上及び機能上の要求事項の表記方法について規定する。
  この規格は,個々の光学素子及び光学的組立品の被検領域内にある表面欠陥を指示する表記方法につい
て規定する。表面欠陥には,長いスクラッチ,局所的な表面欠陥及び縁の欠けがある。
  この規格は,コーティングの有無にかかわらず,仕上げされた光学素子の透過面及び反射面のいずれに
も適用する。また,光学的組立品にも適用する。許容可能な表面欠陥は,光学素子又は光学的組立品にお
いて,欠陥そのものによって,又は欠陥の可視度によって影響を受ける領域に応じて規定する。
  注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
        ISO 10110-7:2017,Optics and photonics−Preparation of drawings for optical elements and systems−Part
            7: Surface imperfections(IDT)
          なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こと
        を示す。

2 引用規格

  次に掲げる引用規格は,この規格に引用されることによって,その一部又は全部がこの規格の要求事項
を構成している。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0090-1 光学素子及びシステム用の製図手法−第1部 : 通則
      注記 対応国際規格における引用規格 : ISO 10110-1,Optics and photonics−Preparation of drawings for
             optical elements and systems−Part 1: General
    JIS B 0090-10 光学素子及びシステム用の製図手法−第10部 : 光学素子及び接合部品のデータ表示
        表

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           2
B 0090-7 : 2021 (ISO 10110-7 : 2017)
    ISO 14997,Optics and photonics−Test methods for surface imperfections of optical elements

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
  注記1 表面欠陥の分類については,図1を参照する。
  注記2 対応国際規格には,3.4 dig及び3.5 scuffがあるが,3.1と内容が重複しているため削除した。
3.1
局所的な表面欠陥(localized surface imperfection)
  製造過程,製造後又は使用時に不適切な取扱いをしたことによって,光学表面,光学素子及び光学的組
立品の被検領域内に発生した局所的な表面欠陥
  注釈1 局所的な欠陥の例には,スクラッチ(scratches),ぶつ(pits),きらきず(sleeks,見る方向によ
          ってきらきら光るきず),擦りきず(scuffs,方向がそろった複数の浅いきず),治工具痕跡(fixture
          marks),付着粒子(adherent particles)などがある。また,その例にはJIS B 7080-1で定義され
          たコーティング欠陥も含む。これらのコーティング欠陥のうち,線状欠陥はスクラッチとして,
          点状欠陥はディグ(図1参照)として扱う。表面欠陥は,表面上及び材料内部に存在する。ISO
          9802の用語を参照する。
  注釈2 光学的組立品では,その中のいずれの面にも表面欠陥が発生する可能性がある。光学的組立品
          の接着層に含まれる泡,異物なども含む。
                                        JIS B 0090-7によって管理される欠陥
                              表面欠陥                                接着層欠陥
            長い欠陥      局所的な表面欠陥
                                              縁の欠け              泡        異物
         (スクラッチ)      (ディグ)
       擦りきず   ぶつ      治工具痕跡   コーティング欠陥   付着粒子
                                        図1−欠陥の分類
3.2
長いスクラッチ(long scratch)
  長さが2 mm以上ある細い表面欠陥
  注釈1 長いスクラッチはその長さのために,同じ幅でより短いスクラッチよりも目立つ傾向にある。

――――― [JIS B 0090-7 pdf 4] ―――――

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                                                                B 0090-7 : 2021 (ISO 10110-7 : 2017)
3.3
縁の欠け(edge chip)
  割れによって,光学素子の周縁部で基板材料が完全に欠損している欠陥
  注釈1 欠損せずにひびが入った状態のものも欠けとみなし,許容しない。
  注釈2 縁の欠けは,それが光学的な有効範囲外にある場合でも,光学素子の密封性の阻害又は散乱光
          の要因の増加によって,若しくはひび割れの広がりが視野にかかることで,光学系の性能に有
          害な影響を与える可能性がある。

4 図面内の表示

4.1 一般

  表面欠陥は,コード番号及び段階数で表示する。個々の光学素子又は光学面における表面欠陥のコード
番号は,5/である。また,光学的組立品における表面欠陥のコード番号は,15/である。
  表面欠陥の規定のため,光学面に一つ又はそれ以上の被検領域を指定してもよい。被検領域が指定され
ていなければ,被検領域は表面の有効径とする。
  欠陥に対する公差表記について,二つの異なる方法が許容される。使われる方法は,図面上の表記によ
って指定される。欠陥の寸法又は大きさによる仕様のための表記法を4.2に示す。欠陥の可視度又は見た
目の仕様のための表記法を4.3に示す。
  検査レベルの階層は,ISO 14997に規定されている。目視によるチェック(レベルIVV,又はIVDの検
査)だけ,主観的な比較検査(寸法による規定のためのレベルISD,又は可視度による規定のためのレベル
ISV)だけ,又は客観的な測定値(寸法による規定のためのレベルIMD)だけを選択した場合は,4.2.5及び
4.3.4で定める表記法で記録してもよい。

4.2 光学素子及び光学的組立品についての寸法による規定

4.2.1 許容最大表面欠陥
4.2.1.1 寸法で規定される表面欠陥(一般の欠陥)
  表面の被検領域内で許容可能な表面欠陥の数及び寸法の表示は,次による。
                        5/Ng×Ag
  また,光学的組立品における表面欠陥に対する表示は,次による
                        15/Ng×Ag
                       ここで,        Ng :  最大許容欠陥の許容数
                                        Ag :  段階数
                                              最大許容欠陥の面積の平方根と等しく,mm単位で表
                                              される数(ISO 14997参照)
  段階数の指定値は,標準数R5数列から選択しなければならない。表面欠陥の段階数として使用可能な
値は,4,2.5,1.6,1.0,0.63,0.4,0.25,0.16,0.1,0.063,0.04,0.025,0.016及び0.01である。4を超え
る値又は0.01未満の値は指定してもよいが推奨しない。

――――― [JIS B 0090-7 pdf 5] ―――――

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