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B 6212 : 2006 (ISO 2433 : 1999)
表 4 位置決め精度検査(続き)
単位 mm
検査事項
P5
数値制御による工作主軸台のB2′軸旋回運動の位置決め精度
測定方法図
許容値 測定移動量 測定値
≦±45°
A
両方向位置決めの正確さ 25″
一方向位置決めの正確さ A↑及びA↓ 20″
R
両方向位置決めの繰返し性 −
一方向位置決めの繰返し性 R↑及びR↓ 10″
E
両方向位置決めの系統偏差 20″
一方向位置決めの系統偏差 E↑及びE↓ 10″
M
平均方向位置決め偏差 10″
B
反転差 13″
測定器
多面鏡又は反射鏡付基準割出し盤とオートコリメータ,又は角度干渉計と基準割出し板
備考及びJIS B 6192の参照箇条
基準割出し盤を使用する場合には,
1) 基準割出し盤の回転軸が,旋回テーブルの旋回軸と平行になるように旋回テーブル上に基準割出し盤を取り
付け,反射鏡が機械の固定部分に置いたオートコリメータの光軸に向くようにする。
2) 基準割出し盤を取り付けた旋回テーブルに割出し角だけ旋回する。
3) 次に,反射鏡が光軸に向くように基準割出し盤を同じ角度だけ戻したときの角度偏差を測定値とする。
検査条件,検査プログラム及び結果の評価方法は,JIS B 6192の3.,4.(特に4.3.4)及び7. による。
――――― [JIS B 6212 pdf 31] ―――――
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B 6212 : 2006 (ISO 2433 : 1999)
表 4 位置決め精度検査(続き)
単位 mm
検査事項
P6
数値制御によるといし軸のB1軸旋回運動の位置決め精度
測定方法図
許容値 測定移動量 測定値
≦±45°
A
両方向位置決めの正確さ 25″
一方向位置決めの正確さ A↑及びA↓ 20″
R
両方向位置決めの繰返し性 −
一方向位置決めの繰返し性 R↑及びR↓ 10″
E
両方向位置決めの系統偏差 20″
一方向位置決めの系統偏差 E↑及びE↓ 10″
M
平均方向位置決め偏差 10″
B
反転差 13″
測定器
多面鏡又は反射鏡付基準割出し盤とオートコリメータ,又は角度干渉計と基準割出し板
備考及びJIS B 6192の参照箇条
基準割出し盤を使用する場合には,
1) 基準割出し盤の回転軸が,旋回テーブルの旋回軸と平行になるように旋回テーブル上に基準割出し盤を取り
付け,反射鏡が機械の固定部分に置いたオートコリメータの光軸に向くようにする。
2) 基準割出し盤を取り付けた旋回テーブルに割出し角だけ旋回する。
3) 次に,反射鏡が光軸に向くように基準割出し盤を同じ角度だけ戻したときの角度偏差を測定値とする。
検査条件,検査プログラム及び結果の評価方法は,JIS B 6192の3.,4.(特に4.3.4)及び7. による。
JIS B 6212:2006の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 2433:1999(IDT)
JIS B 6212:2006の国際規格 ICS 分類一覧
JIS B 6212:2006の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB6191:1999
- 工作機械―静的精度試験方法及び工作精度試験方法通則
- JISB6192:1999
- 工作機械 ― 数値制御による位置決め精度試験方法通則
- JISB6310:2003
- 産業オートメーションシステム―機械及び装置の制御―座標系及び運動の記号