JIS B 6228:2003 門形プラノミラー―精度検査 | ページ 7

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                                                                                   B 6228 : 2003
                         表 4 数値制御による位置決め精度検査(続き)
                                                                                      単位 mm
 検査事項
                                                                                        P3
  立てフライスヘッド又はクイルのZ軸方向運動の位置決め精度
 測定方法図
                                       Z
 許容値                                                         測定長さ             測定値
                                                          ≦500          ≦1 000
 軸が2 000以下の場合
  両方向位置決めの正確さ       A                          0.020           0.025
  一方向位置決めの繰返し性 R↑及びR↓                     0.008           0.010
   軸の反転値                 B                           0.010           0.013
  両方向位置決めの系統偏差     E                          0.016           0.020
  平均両方向位置決め偏差       M                          0.010           0.013
 測定器
  リニアスケール(ピッチマスター)及び測微顕微鏡(ダイヤルゲージ)又はレーザ干渉測長器
 備考及びJIS B 6192の参照
  工具位置と工作物位置との相対位置を測定する。リニアスケール(ピッチマスター)を使用する
   場合は,リニアスケール(ピッチマスター)をテーブル上にZ軸方向と平行に定置し,測微顕微
   鏡(ダイヤルゲージ)は,工具位置に取り付ける。レーザ干渉測長器を使用するときは,反射鏡
   をテーブル上に取り付け,レーザ干渉計を工具位置に定置する。
  測定条件,測定プログラム及び結果の表示は,JIS B 6192の 3.,4.及び7.による。

――――― [JIS B 6228 pdf 31] ―――――

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B 6228 : 2003
                         表 4 数値制御による位置決め精度検査(続き)
                                                                                      単位 mm
 検査事項
                                                                                        P4
  横フライスヘッドサドルのW軸方向運動の位置決め精度
 測定方法図
                       W
 許容値                                                          測定長さ             測定値
                                                       ≦500      ≦1 000    ≦2 000
 軸が2 000以下の場合
  両方向位置決めの正確さ       A                        0.020      0.025      0.032
  一方向位置決めの繰返し性 R↑及びR↓                   0.008      0.010      0.013
   軸の反転値                 B                         0.010      0.013      0.016
  両方向位置決めの系統偏差     E                        0.016      0.020      0.025
  平均両方向位置決め偏差       M                        0.010      0.013      0.016
 軸が2 000を超える場合
  両方向位置決めの系統偏差      E  0.025に1 000増すごとに0.005を加える
  平均両方向位置決め偏差        M  0.016に1 000増すごとに0.003を加える
  軸の反転値             B   0.016に1 000増すごとに0.003を加える
 測定器
  リニアスケール(ピッチマスター)及び測微顕微鏡(ダイヤルゲージ)又はレーザ干渉測長器
 備考及びJIS B 6192の参照
   工具位置と工作物位置との相対位置を測定する。リニアスケール(ピッチマスター)を使用する
   場合は,リニアスケール(ピッチマスター)をテーブル上にZ軸方向と平行に定置し,測微顕微
   鏡(ダイヤルゲージ)は,工具位置に取り付ける。レーザ干渉測長器を使用するときは,反射鏡
   をテーブル上に取り付け,レーザ干渉計を工具位置に定置する。
  測定条件,測定プログラム及び結果の表示は,JIS B 6192の 3.,4.及び7.による。

――――― [JIS B 6228 pdf 32] ―――――

                                                                                             31
                                                                                   B 6228 : 2003
                         表 4 数値制御による位置決め精度検査(続き)
                                                                                      単位 mm
 検査事項
                                                                                        P5
  横フライスヘッド又はクイルのV軸方向運動の位置決め精度
 測定方法図
 許容値                                                         測定長さ             測定値
                                                          ≦500          ≦1 000
  両方向位置決めの正確さ       A                          0.020           0.025
  一方向位置決めの繰返し性 R↑及びR↓                     0.008           0.010
   軸の反転値                 B                           0.010           0.013
  両方向位置決めの系統偏差     E                          0.016           0.020
  平均両方向位置決め偏差       M                          0.010           0.013
 測定器
  リニアスケール(ピッチマスター)及び測微顕微鏡(ダイヤルゲージ)又はレーザ干渉測長器
 備考及びJIS B 6192の参照
   工具位置と工作物位置との相対位置を測定する。リニアスケール(ピッチマスター)を使用する場合
 は,リニアスケール(ピッチマスター)をテーブル上にY軸方向と平行に定置し,測微顕微鏡(ダイヤ
 ルゲージ)は,工具位置に取り付ける。レーザ干渉測長器を使用するときは,反射鏡をテーブル上に取
 り付け,レーザ干渉計を工具位置に定置する。
   測定条件,測定プログラム及び結果の表示は,JIS B 6192の 3.,4.及び7.による。

――――― [JIS B 6228 pdf 33] ―――――

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B 6228 : 2003
                         表 4 数値制御による位置決め精度検査(続き)
                                                                                      単位 mm
 検査事項
                                                                                        P6
  クロスレールのR軸方向運動の位置決め精度
 測定方法図
                                                           R
 許容値                                                          測定長さ             測定値
                                                       ≦500      ≦1 000    ≦2 000
 軸が2 000以下の場合
  両方向位置決めの正確さ       A                        0.020      0.025      0.032
  一方向位置決めの繰返し性 R↑及びR↓                   0.008      0.010      0.013
   軸の反転値                 B                         0.010      0.013      0.016
  両方向位置決めの系統偏差     E                        0.016      0.020      0.025
  平均両方向位置決め偏差       M                        0.010      0.013      0.016
 軸が2 000を超える場合
  両方向位置決めの系統偏差      E  0.025に1 000増すごとに0.005を加える
  平均両方向位置決め偏差        M  0.016に1 000増すごとに0.003を加える
  軸の反転値             B   0.016に1 000増すごとに0.003を加える
 測定器
  リニアスケール(ピッチマスター)及び測微顕微鏡(ダイヤルゲージ)又はレーザ干渉測長器
 備考及びJIS B 6192の参照
  工具位置と工作物位置との相対位置を測定する。リニアスケール(ピッチマスター)を使用する
   場合は,リニアスケール(ピッチマスター)をテーブル上にY軸方向と平行に定置し,測微顕微
   鏡(ダイヤルゲージ)は,工具位置に取り付ける。レーザ干渉測長器を使用するときは,反射鏡
   をテーブル上に取り付け,レーザ干渉計を工具位置に定置する。
  測定条件,測定プログラム及び結果の表示は,JIS B 6192の 3.,4. 及び7. による。

――――― [JIS B 6228 pdf 34] ―――――

                                                                                             33
                                                                                   B 6228 : 2003
                         表 4 数値制御による位置決め精度検査(続き)

8.2 旋回軸

                                                                                      単位 mm
 検査事項
                                                                                        P7
  立てフライスヘッドのA軸運動の位置決め精度
 測定方法図
 許容値                                                         測定角度             測定値
                                                        α≦ 90°      α≦ 180°
  両方向位置決めの正確さ       A                          12″            16″
  一方向位置決めの繰返し性 R↑及びR↓                      5″             6″
  両方向位置決めの系統偏差     E                          10″            13″
  平均両方向位置決め偏差       M                           6″             8″
 測定器
  反射鏡付き基準割出し板及びオートコリメータ又は角度干渉計
 備考及びJIS B 6192の参照
   基準割出し板を用いる場合は,基準割出し板の回転軸が,旋回ヘッドの旋回軸と平行になるように旋
 回ヘッド上に基準割出し板を取り付け,所定の割出し角度だけ旋回ヘッドを旋回させる。
   反射鏡が初期の位置に戻るように基準割出し板を旋回させて戻したときの角度偏差を測定する[図1),
 2)及び3)参照]。
   検査条件,検査プログラム及び結果の評価方法は,JIS B 6192の3.,4.及び7.による。