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B 6228 : 2003
表 2 静的精度検査(続き)
単位 mm
検査事項
G18
横フライス主軸の回転中心線とテーブルの運動(X軸)との直角度
備考 この検査は,取外し可能な横フライスヘッドには適用しない。
測定方法図
Y
X'
許容値
測定値
0.04/1 000(1)
注(1) 1 000 は,ダイヤルゲージを当てる2点間の距離
測定器
直定規,ダイヤルゲージ及び支持アーム
備考及びJIS B 6191の参照
5.512.32
テーブルのX軸方向運動と平行に直定規をテーブルの中央に横向きにして定置する。テーブルは動き
の中央に固定する。
横フライスヘッドを動きの下部位置に固定する。
ダイヤルゲージを取付けた支持アームを横フライス主軸に取付け,直定規に直角に当てて読みとる。
次に,主軸を180°回して読みを取る。二つの読みの差を2点間の距離で除した値を直角度の偏差とする。
――――― [JIS B 6228 pdf 26] ―――――
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B 6228 : 2003
7. 工作精度検査
工作精度検査は,表3による。
7.1 平フライスによる加工
表 3 工作精度検査
単位 mm
検査事項
M1
a) テーブルのX軸方向の自動送りによる工作物上面Bの平面フライス削り。
b) テーブルの長さが 2 000 までの機械は,4個の工作物のフライス削りを行う。
2 000を超える機械の場合は,図に示すように6個(又は8個)の工作物を取付けて
もよい。
備考 この検査は,使用者の特定の要求(工作物)がない場合にだけ適用する。
測定方法図
h1
l2 l1l2
l1
b1 l1 − l2 = 600
h2
l2
b2
b1=h1=150 mm
b2=h2=110 mm
検査事項 許容値 測定値 測定器 備考及びJIS B 6191の参
照項目
a) 各工作物の面B 0.02 直定規及びブ 3.1,3.22,4.1,4.2,5.321
ロックゲージ, 及び5.412.2
の平面度
又はダイヤル
一つの工作物 又は 検査を開始する前に
b) 工作物の高さh1 ゲージ及び定
盤,若しくはマ −面Aを平らにする。
の差 l2 ≦ 2 000 0.03
イクロメータ
−テーブル運動(X軸)と
2000−フライス主軸に取り付
5000次による。
1) 外周の振れ≦0.02
2) 端面の振れ≦0.03
備考及びJIS B 6191の参照
立てフライス主軸にエンドミル又は正面フライスが取り付けられている状態で,加工を行う。
それ以外のすべての条件(工具の品質と寸法,切削速度及び送り速度,工作物の材料)は製造
業者が指定する。
工作物はすべて同じ硬さとする。
――――― [JIS B 6228 pdf 27] ―――――
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B 6228 : 2003
7.2 側面フライス削り
表3 工作精度検査(続き)
単位 mm
検査事項
M2
2個又は3個の工作物をテーブルのX軸方向に置き,工作物の一つの側面のフライス
削りを行う。
面Bに直角な一つの面は,右又は左コラム面で案内される工具(横フライスヘッド)
で加工する。
備考1. この検査は横フライスヘッドを備えている場合に行う。
2. この検査は,使用者の特定の要求(工作物)がない場合にだけ適用する。
測定方法図
B
C1
X
M1と同じ工作物を使用
検査事項 許容値 測定値 測定器 備考及びJIS B 6191の
参照項目
側面Cと面Bとの直 0.02/300 精密水準器 3.1,3.22,4.1,4.2,5.321
角度 及び5.512.2
工作物はテーブルのX
軸方向運動と平行にす
る。
備考及びJIS B 6191の参照
横フライス主軸にエンドミル又は正面フライスが取り付けられた状態で加工する。
それ以外のすべての条件(工具の品質と寸法,切削速度と送り速度,工作物の材料)は,製造業者が
指定する。
工作物はすべて同じ硬さとする。
――――― [JIS B 6228 pdf 28] ―――――
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B 6228 : 2003
8. 数値制御による位置決め精度検査
数値制御による位置決め精度検査は,表4による。
8.1 直進軸
表 4 数値制御による位置決め精度検査
単位 mm
検査事項
P1
テーブルのX軸方向運動の位置決め精度
測定方法図
読取り装置
許容値 測定長さ 測定値
≦500 ≦1 000 ≦2 000
軸が2 000以下の場合
両方向位置決めの正確さ A 0.020 0.025 0.032
一方向位置決めの繰返し性 R↑及びR↓ 0.008 0.010 0.013
軸の反転値 B 0.010 0.013 0.016
両方向位置決めの系統偏差 E 0.016 0.020 0.025
平均両方向位置決め偏差 M 0.010 0.013 0.016
軸が2000を超える場合
両方向位置決めの系統偏差 E 0.025に1 000増すごとに0.005を加える
平均両方向位置決め偏差 M 0.016に1 000増すごとに0.003を加える
軸の反転値 B 0.016に1 000増すごとに0.003を加える
測定器
リニアスケール(ピッチマスター)及び測微顕微鏡(ダイヤルゲージ)又はレーザ干渉測長器
備考及びJIS B 6192の参照
工具位置と工作物位置との相対位置を測定する。リニアスケール(ピッチマスター)を使用する
場合は,リニアスケール(ピッチマスター)をテーブル上にX軸方向と平行に定置し,測微顕微
鏡(ダイヤルゲージ)は,工具位置に取り付ける。レーザ干渉測長器を使用するときは,反射鏡
をテーブル上に取り付け,レーザ干渉計を工具位置に定置する。
測定条件,測定プログラム及び結果の表示は,JIS B 6192の 3.,4.及び7.による。
――――― [JIS B 6228 pdf 29] ―――――
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B 6228 : 2003
表 4 数値制御による位置決め精度検査(続き)
単位 mm
検査事項
立てフライスヘッドサドルのY軸方向運動の位置決め精度
P2
測定方法図
許容値 測定長さ 測定値
≦500 ≦1 000 ≦2 000
軸が2 000以下の場合
両方向位置決めの正確さ A 0.020 0.025 0.032
一方向位置決めの繰返し性 R↑及びR↓ 0.008 0.010 0.013
軸の反転値 B 0.010 0.013 0.016
両方向位置決めの系統偏差 E 0.016 0.020 0.025
平均両方向位置決め偏差 M 0.010 0.013 0.016
軸が2 000を超える場合
両方向位置決めの系統偏差 E 0.025に1 000増すごとに0.005を加える
平均両方向位置決め偏差 M 0.016に1 000増すごとに0.003を加える
軸の反転値 B 0.016に1 000増すごとに0.003を加える
測定器
リニアスケール(ピッチマスター)及び測微顕微鏡(ダイヤルゲージ)又はレーザ干渉測長器
備考及びJIS B 6192の参照
工具位置と工作物位置との相対位置を測定する。リニアスケール(ピッチマスター)を使用する
場合は,リニアスケール(ピッチマスター)をテーブル上にY軸方向と平行に定置し,測微顕微
鏡(ダイヤルゲージ)は,工具位置に取り付ける。レーザ干渉測長器を使用するときは,反射鏡
をテーブル上に取り付け,レーザ干渉計を工具位置に定置する。
測定条件,測定プログラム及び結果の表示は,JIS B 6192の 3.,4.及び7.による。
――――― [JIS B 6228 pdf 30] ―――――
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JIS B 6228:2003の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 8636-1:2000(MOD)
JIS B 6228:2003の国際規格 ICS 分類一覧
- 25 : 生産工学 > 25.080 : 工作機械 > 25.080.20 : 中ぐり盤及びフライス盤
JIS B 6228:2003の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB6191:1999
- 工作機械―静的精度試験方法及び工作精度試験方法通則
- JISB6192:1999
- 工作機械 ― 数値制御による位置決め精度試験方法通則
- JISB6310:2003
- 産業オートメーションシステム―機械及び装置の制御―座標系及び運動の記号