JIS B 7076:2020 光学及びフォトニクス―光学材料及び構成物―赤外光学材料の屈折率の測定方法

                                                                   B 7076 : 2020 (ISO 17328 : 2014)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[1]
•  4 測定方法・・・・[2]
•  4.1 全般・・・・[2]
•  4.2 測定原理・・・・[2]
•  4.3 測定装置及び測定手順・・・・[4]
•  4.4 測定波長・・・・[4]
•  5 試料・・・・[4]
•  5.1 試料プリズムの形状及び寸法・・・・[4]
•  5.2 面精度・・・・[5]
•  6 試験報告書・・・・[5]
•  附属書A(参考)測定装置・・・・[6]
•  附属書B(参考)誤差解析・・・・[13]

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――――― [JIS B 7076 pdf 1] ―――――

B 7076 : 2020 (ISO 17328 : 2014)

まえがき

  この規格は,産業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本光学硝子工業会(JOGMA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,産業標準原案を添えて日本産業規格を制定すべきとの申出
があり,日本産業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本産業規格である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

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                                       日本産業規格                             JIS
                                                                              B 7076 : 2020
                                                                            (ISO 17328 : 2014)

光学及びフォトニクス−光学材料及び構成物−赤外光学材料の屈折率の測定方法

Optics and photonics-Optical materials and components- Test method for refractive index of infrared optical materials

序文

  この規格は,2014年に第1版として発行されたISO 17328を基に,技術的内容及び構成を変更すること
なく作成した日本産業規格である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,波長0.78 μm25 μmの赤外線領域で使用する赤外光学材料の空気に対する相対屈折率の測
定方法を規定する。
  この規格には,複屈折材料の屈折率の測定方法及び複素屈折率の測定方法は含まない。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO 17328:2014,Optics and photonics−Optical materials and components−Test method for refractive
              index of infrared optical materials(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 7075 光学及びフォトニクス−光学材料及び構成物−波長が0.78 μmから25 μmまでの赤外線の
        範囲で使用する光学材料の特性
      注記 対応国際規格 : ISO 11382:2010,Optics and photonics−Optical materials and components−
             Characterization of optical materials used in the infrared spectral range from 0.78 μm to 25 μm

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
3.1
屈折率,絶対屈折率(refractive index, absolute refractive index)
  指定波長における真空中の電磁波の速度と,材料中の電磁波の速度との比。

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B 7076 : 2020 (ISO 17328 : 2014)
3.2
相対屈折率(relative refractive index)
  指定波長における材料の(絶対)屈折率と,材料に接触する物質の(絶対)屈折率との比。
3.3
最小偏角(angle of minimum deviation)
  試料プリズム内に入射する光線と試料プリズムから射出する光線とがなす最小角度。試料プリズム内の
光線と試料プリズムの入射面及び出射面とのなす角度が等角度になる。
    注記 “偏角”については,JIS Z 8120の01.01.38(偏角)では,次のとおり定義されている。
            光学系における入射光線と射出光線とがなす角度。
          “最小偏角”については,JIS Z 8120の01.01.39(最小偏角)では,次のとおり定義されてい
          る。
            a) 分散プリズムなどの偏角が最小になる場合の偏角。

4 測定方法

4.1 全般

  この規格では,屈折率を測定するための最小偏角法の技術を記載する。
  屈折率の測定には,最小偏角法を適用する。

4.2 測定原理

  図1に示すように,単色光ビームが試料プリズムによって最小偏角で屈折するとき,単色光ビームの波
長における空気に対する試料プリズムの相対屈折率は,式(1)で表される。
                             sin      2/
                         nrel             (1)
                               sin
                      ここに,        nrel :  試料プリズムの空気に対する相対屈折率
                                       α :  試料プリズムの頂角
                                       δ :  試料プリズムで屈折した単色光の最小偏角

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                                                                   B 7076 : 2020 (ISO 17328 : 2014)
   1 単色光源光学系
  2 試料プリズム
  3 試料台(回転ステージ)
  4 目盛盤(ゴニオメータ)
  5 検出器光学系
  δ 最小偏角
  α プリズムの頂角
                                     図1−最小偏角法の略図
  単色光ビームは,試料プリズムの切断面に平行でなければならない(図2参照)。
   1 りょう(稜)a)
  2 切断面b)
注a) ここでのりょう(稜)は,図に示すように試料プリズムの入射面と出射面との交線である。
   b) ここでの切断面は,図に示すようにりょう(稜)に直交する平面である。
                           図2−りょう(稜)及び試料プリズムの切断面

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