JIS B 7139-2:2008 双眼実体顕微鏡―第２部：試験 | ページ 2

4
B 7139-2 : 2008
    中心とを合わせる。
e) 左(又は右)側の望遠鏡の十字線焦点板が,十字線試料の中心に一致するように,双望遠鏡の左右方
    向(x)及び上下方向(y)を調整する。
f)  心出し望遠鏡を用いて,右(又は左)側の望遠鏡と実体顕微鏡の右(又は左)側の光路の射出ひとみ
    を一致させる。
g) 望遠鏡内の十字線焦点板のx 軸線が十字線試料像の中心を横切るように,右(又は左)側の望遠鏡の
    方向を調整する。
h) 右(又は左)側の望遠鏡の測長目盛で,望遠鏡の十字線焦点板のy 軸線と十字線試料の中心との左右
    方向の距離             む。
i)  左右の光学系の左右方向の光軸のずれ               次の式によって計算する。
                         x  arctan Δx / fOT
                      ここに,            左右方向についての左右光軸のずれ
j)  望遠鏡内の十字線焦点板のy"軸線が十字線試料像の中心を横切るように,右(又は左)側の望遠鏡の
    方向を調整する。
k) 右(又は左)側の望遠鏡の測長目盛で,望遠鏡の十字線焦点板のx"軸線と十字線試料の中心との上下
    方向の距離             む。
l)  左右の光学系の上下方向の光軸のずれ               次の式によって計算する。
                          y arctan Δy / fOT
                      ここに,            上下方向についての左右光軸のずれ
5.4   左右視野中心のずれ
  左右視野中心のずれは,最高倍率及び最低倍率で,また眼幅65 mmで測定する。試験手順は,次による。
a) 十字線試料を物体面の中心に置き,最高倍率(最低倍率)で焦点を合わせる。
b) 実体顕微鏡の左(又は右)光路の接眼レンズの視野環の中心と十字線試料の中心とを合わせる。
c) 実体顕微鏡の右(又は左)光路の接眼レンズの視野環の中心から,十字線試料の中心の左右方向のず
    れ    砠    び上下方向のずれ          む。
5.5   変倍による物体側焦点のずれ
  変倍による焦点のずれは,実体顕微鏡の最高倍率,最低倍率及び倍率変換途中で測定する。試験手順は,
次による。
a) 十字線試料を物体面に置き,実体顕微鏡の焦点合わせ機構を用い,最高倍率で焦点を合わせる。
b) 最低倍率まで倍率を変えながら最大の焦点ずれが観察される倍率位置を見つける。
c) 焦点を合わせ直したときの実体顕微鏡の移動量を測定する。
5.6   変倍による像面の横ずれ
  変倍による像面の横ずれは,実体顕微鏡の最高倍率から最低倍率への変換途中で測定する。試験手順
は,次による。
a) 十字線試料を物体面の中心に置き,実体顕微鏡の一次像面に測長目盛焦点板又は0.4 mm円焦点板を
    備えた接眼レンズを用いる。
b) 実体顕微鏡の焦点合わせ機構を用い,最高倍率で焦点を合わせる。
c) 十字線試料の像の中心を,接眼レンズの測長目盛焦点板又は0.4 mm円焦点板の中心に合わせる。
d) 倍率を最低倍率まで変える間における各々左右の光路の十字線試料の中心の像の移動量を,接眼レン
    ズの測長目盛で読むか,又は中心の像が0.4 mm円焦点板の規定の円からはみ出さないかを確認する。

――――― [JIS B 7139-2 pdf 6] ―――――

                                                                                              5
                                                                                 B 7139-2 : 2008
5.7   左右同焦点差
  左右同焦点差は,視度望遠鏡を用いて測定する。試験手順は,次による。
a) 十字線試料を物体面に置き,実体顕微鏡の焦点合わせ機構を用い,左(又は右)光路で焦点を合わせ
    る。
b) 十字線試料に右(又は左)光路で視度望遠鏡を用い,焦点を合わせ直したときの視度望遠鏡の視度目
    盛の移動量を読む。
5.8   最高倍率での解像力
  実体顕微鏡の対物レンズより大きな開口数(NA)をもつJIS Z 8720の標準光源を使用する透過照明を用
い,等間隔の白黒しま模様が段階的に並んだ解像力チャートを観察して検査する。解像力チャートの一部
の例を,図2に示す。試験手順は,次による。
a) 解像力チャートを実体顕微鏡の物体面に置く。
b) 実体顕微鏡の倍率を最高倍率とし,焦点を合わせた後,左右の接眼レンズを通して視野中心の等間隔
    の白黒しま模様が分離して観察できる(解像している)チャートの記号を読み取るか,又は解像力チ
    ャートによっては直接,1 mm当たりの解像本数を読み取る。
c) チャートの記号を読み取った場合は,解像力チャート換算表を用いて1 mm当たりの解像本数を求め
    る。
                                 図2−解像力チャートの一部の例
5.9   左右像の回転差
  左右像の回転は,眼幅55 mm75 mmの範囲で測定する。試験手順は,次による。
a) 双望遠鏡の中間像位置に角度目盛焦点板を入れ,左右光路の垂直線を合わせる。
b) 十字線試料を物体面の中心に置き,任意の倍率で焦点を合わせる。
c) 十字線試料の垂直線を,実体顕微鏡の左(又は右)光路の望遠鏡の角度目盛焦点板の垂直線に合わせ
    る。
d) 実体顕微鏡の右(又は左)光路の望遠鏡の角度目盛焦点板の垂直線と十字線試料の垂直線の角度との
    ずれを読む。
5.10 左右接眼レンズの突出差
  左右の接眼レンズの突出差は,視度目盛0 m−1位置で,また眼幅65 mmで測定する。試験手順は,次に
よる。
a) 視度目盛を0 m−1に合わせる。
b) 左の接眼スリーブの基準面と接眼レンズの端面との距離を測る。
c) 右の接眼スリーブの対応する基準面と接眼レンズの端面との距離を測る。

――――― [JIS B 7139-2 pdf 7] ―――――

6
B 7139-2 : 2008
d) 二つの測定値の差を計算する。
5.11 眼幅調整の最小範囲
  眼幅調整の最小範囲は,視度目盛0 m−1位置で10×接眼レンズの射出ひとみの間隔を測定する。試験手
順は,次による。
a) 左右の接眼レンズが最も近づいた状態で,右及び左の接眼レンズの射出ひとみの中心間距離を測る。
b) 左右の接眼レンズが最も離れた状態で,右及び左の接眼レンズの射出ひとみの中心間距離を測る。
5.12 視度目盛0 m−1位置の調整誤差
  視度目盛0 m−1位置の調整誤差は,接眼レンズ又は接眼スリーブの視度目盛を測定する。試験手順は,
次による。
a) 一方の接眼レンズ又は接眼スリーブの視度目盛を0 m−1に合わせた後,接眼レンズの端面に0 m−1に
    調整された視度望遠鏡を載せ,実体顕微鏡の焦点合わせ機構で焦点を合わせる。
b) 視度望遠鏡を他方の接眼レンズの端面に移動し,接眼レンズ又は接眼スリーブの視度目盛を0 m−1に
    合わせる。
c) 視度望遠鏡の視度調整機構で,試験試料に再び焦点を合わせ直したときの視度望遠鏡の視度目盛を読
    む。
5.13 視度調整の最小範囲
  視度調整の最小範囲は,眼幅65 mmで接眼レンズ又は接眼スリーブの視度目盛を測定する。試験手順は,
次による。
a) 一方の接眼レンズは,接眼レンズの視度目盛を0 m−1に合わせた後,接眼レンズの端面に0 m−1に調
    整された視度望遠鏡を載せ,実体顕微鏡の焦点合わせ機構で焦点を合わせる。
b) 視度望遠鏡を他方の接眼レンズの端面に移し,実体顕微鏡の接眼レンズの視度目盛又は接眼スリーブ
    の視度目盛を正側の最大位置に合わせる。
c) 視度望遠鏡の視度調整機構で再び焦点を合わせ直したときの視度望遠鏡の視度目盛を読む。
d) そのままの配置で,実体顕微鏡の接眼レンズの視度目盛又は接眼スリーブの視度目盛を負側の最大位
    置に合わせる。
e) 視度望遠鏡の視度調整機構で,試験試料に再び焦点を合わせ直したときの視度望遠鏡の視度目盛を読
    む。

――――― [JIS B 7139-2 pdf 8] ―――――

                                                                                                                                              B7
                                                                                                                                                 7
                                                                  附属書JA
                                                                                                                                                 139
                                                                   (参考)
                                                                                                                                                    -
                                                                                                                                                    2 : 2
                                                  JISと対応する国際規格との対比表
                                                                                                                                                        008
     JIS B 7139-2:2008 双眼実体顕微鏡−第2部 : 試験                     ISO 15227:2000,Optics and optical instruments−Microscopes−Testing of
                                                                       stereomicroscopes
     (I)   JISの規定              (II)国際   (III)国際規格の規定          (IV)   JISと国際規格との技術的差異の (V)   JISと国際規格との技術的差異の理由
                               規格番号                                箇条ごとの評価及びその内容        及び今後の対策
     箇条番号        内容                 箇条           内容          箇条ごと      技術的差異の内容
     及び名称                             番号                         の評価
     2引用規格
     3用語及び                            3                            変更      ISO 10934-1をJIS Z 8120 技術的差異はない。
     定義                                                                        光学用語に置き換えた。
     4試験条件  4.1 試験精度              4     4 試験精度             変更      ISO 15227の4,6.1,6.2を,
                                                                                                         項目ごとの試験条件と試験方法を同一項に
                4.2 試験装置              6     6.1 装置                         JISの箇条4としてまとめ  し,分かりやすくした。技術的差異はない。
                4.3 装置の配置                  6.2 装置形状                     た。
     5試験手順  試験条件及び試            5     5 試験状態             変更      ISO 15227の5,6.3を,JIS左右光軸のずれは,ISO 15227では接眼レ
                験方法                    6     6.3 試験手順                     の箇条5としてまとめ,内 ンズが平行な場合,平行でない場合で別項
                                                                                 容を一部変更した。      目になっているが,試験方法及び得られる
                                                                                                         結果は全く同じため統一した。左右射出ひ
                                                                                                         とみの高さの差は測定結果に大差がないた
                                                                                                         め,試験が容易な方法とした。ISO 15227
                                                                                                         の見直し時に改訂を提案する。
     JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : ISO 15227:2000,MOD
     注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
                                                                                                                                              B7
          − 変更  国際規格の規定内容を変更している。
     注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
                                                                                                                                                 139
          − MOD 国際規格を修正している。
                                                                                                                                                    -
                                                                                                                                                    2 : 2008
                                                                                                                                                 7