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B 8392-4 : 2003 (ISO 8573-4 : 2001)
− 測定が行われた圧力と温度
− 測定数値にかかわる不確実性に関する記述
− 校正記録の日時
e) サンプリング及び測定の日時
試験報告の例を,附属書Aに示す。
――――― [JIS B 8392-4 pdf 11] ―――――
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B 8392-4 : 2003 (ISO 8573-4 : 2001)
附属書A(参考)圧縮空気中の固体粒子濃度の測定に関する試験報告書例
この附属書は,本体に関連する事柄を補足するもので,規定の一部ではない。
OSI産業の圧縮空気システムは,4台の空気圧縮機,アフタークーラ,冷凍式ドライヤ,待機用圧縮機1
台,フル稼働の圧縮機2台,50 %稼動の圧縮機1台によって構成される。
このシステムの圧力は0.7 MPaにセットされており,固体粒子汚染の測定は,供給パイプがそのシステ
ムのB工場に入り込むところで行われた。
試料は,1996年1月23日に,8時間の間,規則正しく1時間間隔で採取された。
サンプリング場所における圧力は,0.66 MPaであった。
測定は格子膜と顕微鏡を用い,最小観測限度0.5 測が特定の範囲外で行われた場合,
それらは“非測定”として示されている。
このシステムは,1995年11月30日に校正された。その結果は添付のとおりである。
附属書A表 1 この規格に従って公表された固体粒子濃度
条件 固体粒子濃度粒子/m3 不確かさ 圧力 温度
粒子の大きさ MPa ℃
d≦0.10 0.10参考状態 8×102 0 20
実際条件 非測定 非測定 7.54×103 非測定 0.66 26
――――― [JIS B 8392-4 pdf 12] ―――――
附属書B(参考)測定方法の説明
この附属書は,本体に関連する事柄を補足するもので,規定の一部ではない。
B.1 レーザーパーティクルカウンタ レーザーパーティクルカウンタは,焦点が合ったレーザービームを
通過する多数の粒子からの散乱光を測定する。その信号は,量又は粒子のボリュームに最も密接に関係し,
粒子の屈折率及び形によって決定される。レーザーパーティクルカウンタは,0.110 鉛
気力学的直径と比較するのに適し,低価格及び保守が簡単であるという利点をもっている。
大部分の粒子検出装置のサンプル率は,比較的低く,通常1 cm3/sである。
主な問題は,サンプリング回路網への汚染物質の混入である。
B.2 凝縮核計数器 凝縮核計数器(CNC)のカウンタは,走査形電気移動度粒子寸法測定器とともに用
いられる。
CNCは,0.013 囲の粒子を測定するのに適している。
CNCは,通常ブチルアルコールの過飽和蒸気を粒子核に凝縮させることによって,光学的に検出可能な
サイズまで粒子を拡大する。
比較的大きな粒滴は,簡単な光学式検出器によってカウントできる。
すべての粒子は,もとの粒子サイズにかかわらず,ほぼ同じ粒滴直径まで成長する。したがってCNC
は,すべての粒子を等しい精度で検出するが,それらのサイズを識別できない。
それらの粒滴は,比較的大きな信号を生み出すため,CNCでは高い信号/ノイズ比が得られ誤計測比は
無視できるほど小さい。
集中範囲が極めて大きく,また誤計測比が低いため,CNCは一般的に高効率又は超高効率のフィルタを
テストするために用いられる。
B.3 微分形電気移動度分析器 微分形電気移動度分析器 (DMA) は,粒子帯域通過フィルタとして考えら
る。DMAは,エアロゾルから狭いサイズ範囲の粒子を採取する。サイズ選択は,帯電粒子の電気移動度
に基づく。DMAは,同心円状の円筒形の電極からなる。接地された外側の電極及び内側の電極は,高電
圧に維持されている。エアロゾルは,電極の間の外側のリングに入り,クリーンな被覆空気の内側のリン
グとともにDMAを通過する。反対の極性の粒子は,内側の電極に向かって流れるが,その経路は,空気
流量及び粒子の電気移動度によって決定される(これは粒子サイズと逆比例している。)。電圧を切り替え
ることによって異なるサイズの粒子濃度を測定することができる。
B.4 走査形電気移動度粒子寸法測定器 走査形電気移動度粒子測定器(SMPS)はDMAとCNCを結合し
たものである。DMAに入る粒子は,それらの大きさごとに区分され,濃度測定のためにCNCへ送られる。
コンピュータは,DMAの走査電圧をコントロールし,CNCから濃度データを記録し,未加工のデータを
使用可能なサイズ配分に計算する。SMPSは,100108 粒子/m3の比較的,高い濃度に最も適している。
それは0.1 満の直径の粒子を正確に測定できる唯一のサイズ識別検出器である。
――――― [JIS B 8392-4 pdf 13] ―――――
B.5 顕微鏡によるメンブレム上でのサンプリング この方式では,検出はサンプリングのあとで行われる
ため,上記の2方式よりも時間を要する。また,サンプリングは,正確性をあげるために統計的に検証さ
れなければならないので,多大の手間がかかるおそれがある。この方式は0.550 鉛 囲を測定
するために用いられる。その利点は,相対的な高いサンプリング率が得られることで,その結果として,
場合によっては全流量計測が可能となる。この方式では,粒子のタイプを識別することはできない。しか
し,目視によるため,ある程度の区別は可能である。
参考文献
[1] JIS B 8392-1 圧縮空気−第1部 : 汚染物及び清浄等級
備考 ISO 8573-1, Compressed air−Part 1: Contaminants and purity classes が,この規格と一致してい
る。
[2] ISO 2602, Statistical interpretation of test results Estimation of the mean Confidence interval
[3] ISO 2854, Statistical interpretation of data Techniques of estimation and tests relating to means and variances
[4] BS 3406-4, Methods for determination of particle size distribution. Guide to microscope and image analysis
methods
JIS B 8392-4:2003の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 8573-4:2001(IDT)
JIS B 8392-4:2003の国際規格 ICS 分類一覧
JIS B 8392-4:2003の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0142:2011
- 油圧・空気圧システム及び機器―用語
- JISB8392-1:2012
- 圧縮空気―第1部:汚染物質及び清浄等級