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C 0508-2 : 2014 (IEC 61508-2 : 2010)
表F.2−ASICの設計及び開発中に発生するフォールトを回避するための
技法及び手段−ユーザープログラマブルIC(FPGA/PLD/CPLD)(7.4.6.7参照)
設
計 参照
技法及び手段 参照先 SIL 1 SIL 2 SIL 3 SIL 4
段 番号
階
回 1 構造化記述 IEC 61508-7の HR HR HR* HR*
路 E.3 高 高 高 高
設 2 (V)HDLでの設計記述 IEC 61508-7の HR HR HR* HR*
計 (注記参照) E.1 高 高 高 高
3 回路図入力 IEC 61508-7の - - NR NR
E.2 高 高
4 ブール方程式を使用する設計記述 R R NR NR
高 高
5a ブール方程式を使用する回路記述の場合 : HR HR HR* HR*
限定(低)複雑さをもつ設計でのマニュア 高 高 高 高
ル検査
5b ブール方程式を使用する回路記述の場合 : HR HR HR* HR*
より高い複雑さをもつ設計での状態移行の 高 高 高 高
シミュレーション
6 IEC 61508-7の
使用実績のある(proven in use)設計環境の HR HR HR* HR*
適用 E.4 高 高 高 高
7 IEC 61508-7の
使用実績のある(proven in use)(V)HDL HR HR HR* HR*
シミュレータの適用(注記参照) E.4 高 高 高 高
8 HR
モジュールレベルでの機能テスト[例えば, IEC 61508-7の HR HR* HR*
(V)HDLテストベンチを使用した](注記 E.6 高 高 高 高
参照)
9 非同期構成要素の制限使用 IEC 61508-7の HR HR HR* HR*
E.9 高 高 高 高
10 テスタビリティのための設計 IEC 61508-7の R R R R
(テストカバレッジ割合) E.11 >95 % >98 % >99 % >99 %
11 モジュール化 IEC 61508-7の R R HR HR
E.12 中 中 高 高
12 適合確認シナリオの範囲 IEC 61508-7の R R HR HR
(テストベンチ) E.13 中 中 高 高
13 コード化指針の監視 IEC 61508-7の HR HR HR* HR*
E.14 高 高 高 高
14 シミュレーション結果の文書化 IEC 61508-7の HR HR HR HR*
E.17 低 中 高 高
15a コード検査 IEC 61508-7の R R HR HR*
E.18 中 高 高 高
15b ウォークスルー IEC 61508-7の R R HR HR*
E.19 中 高 高 高
16a 妥当性確認済みソフトコアの適用 IEC 61508-7の R R HR HR*
E.20 中 高 高 高
16b ソフトコアの妥当性確認 IEC 61508-7の R R HR* HR*
E.21 中 高 高 高
――――― [JIS C 0508-2 pdf 86] ―――――
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C 0508-2 : 2014 (IEC 61508-2 : 2010)
表F.2−ASICの設計及び開発中に発生するフォールトを回避するための
技法及び手段−ユーザープログラマブルIC(FPGA/PLD/CPLD)(7.4.6.7参照)(続き)
参照
設計段階 技法及び手段 参照先 SIL 1 SIL 2 SIL 3 SIL 4
番号
合成 17 内部整合性チェック HR HR HR* HR*
(例えば,IEC 61508-7,E.4参照) 高 高 高 高
18a IEC 61508-7の
タイミング制約をチェックするためのゲ R R R R
ートネットリストのシミュレーション E.22 中 中 高 高
18b 伝ぱ(播)遅延の静的解析(STA) IEC 61508-7の R R R R
E.23 中 中 高 高
19a IEC 61508-7の
シミュレーションによる標準モデルに基 R R HR HR
づくゲートネットリストの適合確認 E.24 中 中 高 高
19b IEC 61508-7の
ゲートネットリストと標準モデルの比較 R R HR HR
(正式な等価性チェック) E.25 中 中 高 高
20 複雑な設計のPLD/CPLDの場合,シミュ R R HR HR
レーションによる設計のチェック 中 中 高 高
21 ICベンダー要求事項及び制約のチェック IEC 61508-7のHR HR HR* HR*
E.26 高 高 高 高
22 IEC 61508-7の
合成制約条件,結果及びツールの文書化 HR HR HR* HR*
E.27 高 高 高 高
23 使用実績のある(proven in use) IEC 61508-7の HR HR HR* HR*
合成ツールの適用 E.28 高 高 高 高
24 使用実績のある(proven in use) IEC 61508-7の HR HR HR* HR*
ライブラリ/CPLS技術の適用 E.29 高 高 高 高
25 スクリプトに基づく手順 IEC 61508-7の R R HR HR*
E.30 高 高 高 高
配置,経路指 26a 適用ハードコアには使用実績がある IEC 61508-7の HR HR HR* HR*
定,レイアウ (proven in use)といえる正当な根拠 E.34 高 高 高 高
ト作成 26b 妥当性確認済みハードコアの適用 IEC 61508-7の HR HR HR* HR*
E.35 高 高 高 高
26c ハードコアのオンラインテスト IEC 61508-7の HR HR HR* HR*
E.36 高 高 高 高
27a IEC 61508-7の
タイミング制約をチェックするためのゲ HR HR HR* HR*
ートネットリストのシミュレーション E.22 高 高 高 高
27b 伝ぱ(播)遅延の静的解析(STA) IEC 61508-7の HR HR HR* HR*
E.23 高 高 高 高
28a IEC 61508-7の
シミュレーションによる標準モデルに基 HR HR HR* HR*
づくゲートネットリストの適合確認 E.24 高 高 高 高
28b IEC 61508-7の
ゲートネットリストと標準モデルの比較 HR HR HR* HR*
(正式な等価性チェック) E.25 高 高 高 高
29 設計ルールチェック(DRC) IEC 61508-7の HR HR HR HR*
E.37 高 高 高 高
30 使用実績のある(proven in use) IEC 61508-7の HR* HR* HR* HR*
設計環境の適用,使用における実証セル E.4 高 高 高 高
ライブラリの適用
31 IEC 61508-7の
使用されているのが3年未満のプロセス HR HR HR* HR*
技術の追加のスラック E.39 高 高 高 高
(>20 %)
――――― [JIS C 0508-2 pdf 87] ―――――
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C 0508-2 : 2014 (IEC 61508-2 : 2010)
表F.2−ASICの設計及び開発中に発生するフォールトを回避するための
技法及び手段−ユーザープログラマブルIC(FPGA/PLD/CPLD)(7.4.6.7参照)(続き)
参照
設計段階 技法及び手段 参照先 SIL 1 SIL 2 SIL 3 SIL 4
番号
製造 32 使用実績のある(proven in use) HR HR HR* HR*
プロセス技術の適用 高 高 高 高
33 IEC 61508-7の
使用実績のある(proven in use) HR HR HR* HR*
装置シリーズの適用 E.41 高 高 高 高
34 IEC 61508-7の
使用実績のある(proven in use) HR HR HR HR*
製造工程 E.42 低 中 高 高
35 製造工程の品質管理 IEC 61508-7の HR HR HR HR*
E.43 高 高 高 高
36 装置の製造品質合格 IEC 61508-7の R R HR HR*
E.44 低 中 高 高
37 装置の機能品質合格 IEC 61508-7の HR HR HR* HR*
E.45 高 高 高 高
38 品質規格 IEC 61508-7の HR HR HR HR*
E.46 低 中 高 高
39 品質マネジメント, HR HR HR HR*
例えば,JIS Q 9000による 高 高 高 高
40 システムにおけるFPGA/PLD HR HR HR* HR*
プロトタイプの最終適合確認 高 高 高 高
及び妥当性確認
41 大量生産中の最終適合確認 R R HR* HR*
及び妥当性確認,単体チェック 高 高 高 高
42 バーンインテスト IEC 61508-7の R R R HR*
E.40 低 低 中 高
安全度水準に従って,適切な技法及び手段を選択することが望ましい。代替又は同等の技法及び手段を,番号に
続く文字で示す。代替又は同等の技法及び手段の一つ以上を,適用することが望ましい。
注記 用語(V)HDLは,超高速集積回路ハードウェア記述言語(VHDL),又はVerilogハードウェア記述言語を示
す。
――――― [JIS C 0508-2 pdf 88] ―――――
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C 0508-2 : 2014 (IEC 61508-2 : 2010)
参考文献
[1] JIS C 0511(規格群) 機能安全−プロセス産業分野の安全計装システム
注記 対応国際規格 : IEC 61511 (all parts),Functional safety−Safety instrumented systems for the
process industry sector(IDT)
[2] JIS B 9961:2008 機械類の安全性−安全関連の電気・電子・プログラマブル電子制御システムの機能
安全
注記 対応国際規格 : IEC 62061:2005,Safety of machinery−Functional safety of safety-related electrical,
electronic and programmable electronic control systems(IDT)
[3] IEC 61800-5-2,Adjustable speed electrical power drive systems−Part 5-2: Safety requirements−Functional
[4] IEC 61508-5:2010,Functional safety of electrical/electronic/programmable electronic safety-related systems−
Part 5: Examples of methods for the determination of safety integrity levels
[5] IEC 61508-6:2010,Functional safety of electrical/electronic/programmable electronic safety-related systems−
Part 6: Guidelines on the application of IEC 61508-2 and IEC 61508-3
[6] IEC 60601 (all parts),Medical electrical equipment
[7] IEC 61165,Application of Markov techniques
[8] IEC 61078,Analysis techniques for dependability−Reliability block diagram and boolean methods
[9] IEC 61164,Reliability growth−Statistical test and estimation methods
[10] IEC 62308,Equipment reliability−Reliability assessment methods
[11] JIS C 61000-6-2:2008 電磁両立性−第6-2部 : 共通規格−工業環境におけるイミュニティ
[12] ISO 14224,Petroleum, petrochemical and natural gas industries−Collection and exchange of reliability and
maintenance data for equipment
[13] JIS Z 8115:2000 ディペンダビリティ(信頼性)用語
注記 対応国際規格 : IEC 60050-191:1990,International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 191:
Dependability and quality of service(MOD)
[14] JIS Q 9000:2006 品質マネジメントシステム−基本及び用語
注記 対応国際規格 : ISO 9000:2005,Quality management systems−Fundamentals and vocabulary(IDT)
[15] JIS C 5750-3-2 ディペンダビリティ管理−第3-2部 : 適用の指針−フィールドからのディペンダビリ
ティデータの収集
注記 対応国際規格 : IEC 60300-3-2,Dependability management−Part 3-2: Application guide−
Collection of dependability data from the field(IDT)
[16] IEEE 352:1987,IEEE guide for general principles of reliability analysis of nuclear power generating station
safety systems
[17] EN 50205,Relays with forcibly guided (mechanically linked) ontacts
JIS C 0508-2:2014の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61508-2:2010(IDT)
JIS C 0508-2:2014の国際規格 ICS 分類一覧
- 25 : 生産工学 > 25.040 : 産業オートメーションシステム > 25.040.40 : 工業計測及び制御
JIS C 0508-2:2014の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0508-1:2012
- 電気・電子・プログラマブル電子安全関連系の機能安全―第1部:一般要求事項
- JISC0508-3:2014
- 電気・電子・プログラマブル電子安全関連系の機能安全―第3部:ソフトウェア要求事項
- JISC0508-4:2012
- 電気・電子・プログラマブル電子安全関連系の機能安全―第4部:用語の定義及び略語
- JISC1806-3-1:2014
- 計測,制御及び試験室用の電気装置―電磁両立性要求事項―第3-1部:安全関連システム及び安全関連機能(機能安全)の遂行を意図した装置に対するイミュニティ要求事項―一般工業用途
- JISC8201-5-1:2007
- 低圧開閉装置及び制御装置―第5部:制御回路機器及び開閉素子―第1節:電気機械式制御回路機器