JIS C 1515:2020 電気音響―音響校正器

                                                                   C 1515 : 2020 (IEC 60942 : 2017)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[3]
•  4 基準環境条件・・・・[5]
•  5 要求事項・・・・[5]
•  5.1 一般事項・・・・[5]
•  5.2 アダプタ・・・・[7]
•  5.3 音圧レベル・・・・[7]
•  5.4 周波数・・・・[8]
•  5.5 静圧,周囲温度及び湿度の影響・・・・[9]
•  5.6 全ひずみ及び雑音・・・・[10]
•  5.7 電源・・・・[10]
•  5.8 マイクロホンの仕様及び校正・・・・[10]
•  5.9 電磁両立性・・・・[11]
•  6 機器への表記及び添付文書・・・・[12]
•  6.1 音響校正器への表記・・・・[12]
•  6.2 クラスLSの音響校正器の個別校正票・・・・[13]
•  6.3 取扱説明書・・・・[13]
•  附属書A(規定)型式評価試験・・・・[15]
•  附属書B(規定)定期試験・・・・[29]
•  附属書C(規定)型式評価試験の報告書・・・・[34]
•  附属書D(参考)許容区間及び受容区間と測定の不確かさの最大許容値との関係・・・・[36]
•  附属書E(参考)この規格の仕様に対する適合性評価の例・・・・[37]

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――――― [JIS C 1515 pdf 1] ―――――

C 1515 : 2020 (IEC 60942 : 2017)

まえがき

  この規格は,産業標準化法第16条において準用する同法第12条第1項の規定に基づき,公益社団法人
日本騒音制御工学会(INCE/J)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,産業標準原案を添えて日本
産業規格を改正すべきとの申出があり,日本産業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本
産業規格である。これによって,JIS C 1515:2004は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

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――――― [JIS C 1515 pdf 2] ―――――

                                       日本産業規格                             JIS
                                                                              C 1515 : 2020
                                                                            (IEC 60942 : 2017)

電気音響−音響校正器

Electroacoustics-Sound calibrators

序文

  この規格は,2017年に第4版として発行されたIEC 60942を基に,技術的内容及び構成を変更すること
なく作成した日本産業規格である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,音響校正器の三つのクラス,クラスLS(実験室用標準),クラス1及びクラス2の性能要
求事項について規定する。受容限度値は,クラスLSが最も小さく,クラス2が最も大きい。クラスLSは,
通常,実験室内でだけ使用する音響校正器に適用し,クラス1及びクラス2は,現場で使用する音響校正
器に適用する。クラス1の音響校正器は,JIS C 1509-1に規定するクラス1のサウンドレベルメータとと
もに用い,クラス2の音響校正器は,JIS C 1509-1に規定するクラス2のサウンドレベルメータとともに
用いる。
  クラスLS,クラス1又はクラス2の音響校正器について,この規格への適合性を評価する場合には,次
のマイクロホンの使用を前提として,この規格の受容限度値を規定する。
− クラスLSの場合は,IEC 61094-1:2000に規定する標準マイクロホン
− クラス1又はクラス2の場合は,IEC 61094-4:1995に規定する計測用マイクロホン
  音響校正器の試験の一貫性とその使いやすさを促進するために,この規格には,附属書A附属書Eを
含んでいる。
  サウンドレベルメータ全体の感度を調整するために用いられることがある,等価自由音場音圧レベル又
は等価ランダム入射(拡散音場)音圧レベルについての要求事項は,この規格では規定しない。
  音響校正器は,トーンバーストを発生させるような,他の機能を内蔵してもよい。このような他の機能
についての要求事項は,この規格では規定しない。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 60942:2017,Electroacoustics−Sound calibrators(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。

――――― [JIS C 1515 pdf 3] ―――――

2
C 1515 : 2020 (IEC 60942 : 2017)
    JIS C 1509-1 電気音響−サウンドレベルメータ(騒音計)−第1部 : 仕様
      注記 対応国際規格 : IEC 61672-1,Electroacoustics−Sound level meters−Part 1: Specifications
    JIS C 61000-4-2:2012 電磁両立性−第4-2部 : 試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-2:2008,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and
             measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test
    JIS C 61000-4-3:2012 電磁両立性−第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ
        試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-3:2006,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and
             measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test
    JIS C 61000-4-20:2014 電磁両立性−第4-20部 : 試験及び測定技術−TEM(横方向電磁界)導波管の
        エミッション及びイミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-20:2010,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-20: Testing
             and measurement techniques−Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM)
             waveguides
    JIS C 61000-6-1:2008 電磁両立性−第6-1部 : 共通規格−住宅,商業及び軽工業環境におけるイミュ
        ニティ
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-6-1:2005,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-1: Generic
             standards−Immunity for residential, commercial and light-industrial environments
    JIS C 61000-6-2:2008 電磁両立性−第6-2部 : 共通規格−工業環境におけるイミュニティ
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-6-2:2005,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-2: Generic
             standards−Immunity for industrial environments
    JIS Z 8106:2000 音響用語
      注記 対応国際規格 : IEC 60050-801:1994,International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 801:
             Acoustics and electroacoustics
    IEC 61000-6-3:2006,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-3: Generic standards−Emission standard
        for residential, commercial and light-industrial environments及びAmendment 1:2010
    IEC 61094-1:2000,Measurement microphones−Part 1: Specifications for laboratory standard microphones
    IEC 61094-4:1995,Measurement microphones−Part 4: Specifications for working standard microphones
    IEC 61094-5,Electroacoustics−Measurement microphones−Part 5: Methods for pressure calibration of
        working standard microphones by comparison
    ISO 266:1997,Acoustics−Preferred frequencies
    ISO/IEC Guide 98-3:2008,Uncertainty of measurement−Part 3: Guide to the expression of uncertainty in
        measurement (GUM:1995)
    ISO/IEC Guide 99,International vocabulary of metrology−Basic and general concepts and associated terms
        (VIM)
    CISPR 16-2-3:2016,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part
        2-3: Methods of measurement of disturbances and immunity−Radiated disturbance measurements
    CISPR 22:2008,Information technology equipment−Radio disturbance characteristics−Limits and methods
        of measurement

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                                                                   C 1515 : 2020 (IEC 60942 : 2017)

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 8106:2000及びISO/IEC Guide 99によるほか,次による。
3.1
音響校正器(sound calibrator)
  形式及び構成を指定したマイクロホンに結合して用い,指定音圧レベル及び指定周波数の正弦波音圧を
発生する機器。
3.2
ピストンホン(pistonphone)
  一つ又はそれ以上のピストンの運動によって,一定の空気室内に規定の体積速度を生成することで音圧
を発生する音響校正器。
3.3
指定音圧レベル(specified sound pressure level)
  形式及び構成を指定したマイクロホンに用いたときの,個々の音響校正器(クラスLSの場合)又は同
一形式の全ての音響校正器(クラス1又はクラス2の場合)に有効な基準環境条件で音響校正器が発生す
る音圧レベル。
    注記1 指定音圧レベルはデシベル(dB)で表す。
    注記2 音圧の基準値は20 Paである。
3.4
公称音圧レベル(nominal sound pressure level)
  指定音圧レベルをデシベル単位で(表記のために)丸めた,同一形式の全ての音響校正器に有効な近似
値。
    注記1 公称音圧レベルはデシベル(dB)で表す。
    注記2 音圧の基準値は20 Paである。
3.5
指定周波数(specified frequency)
  クラスLSの場合の個々の音響校正器又はクラス1又はクラス2の場合の同一形式の全ての音響校正器
に有効な基準環境条件で音響校正器が発生する音の周波数。
    注記 指定周波数はヘルツ(Hz)で表す。
3.6
公称周波数(nominal frequency)
  表記のための指定周波数の近似値。通常は,ISO 266:1997に従って丸めた値である。
    注記 公称周波数はヘルツ(Hz)で表す。
3.7
主音圧レベル(principal sound pressure level)
  試験のために取扱説明書に指定する公称音圧レベル。
    注記1 音響校正器が一つ又はそれ以上の音圧レベルを生成する場合には,製造業者は一つの公称音
            圧レベルを主音圧レベルとして指定する。
    注記2 主音圧レベルは,音響校正器のこの規格の要求事項への適合性を評価する場合に用いる。
    注記3 主音圧レベルはデシベル(dB)で表す。
    注記4 音圧の基準値は20 μPaである。

――――― [JIS C 1515 pdf 5] ―――――

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