22
C 1736-1 : 2009
表28−計器用変成器の商用周波耐電圧試験
種類 試験電圧の印加箇所
変流器 a) 一次巻線一括と二次巻線及び外箱一括間
b) 二次巻線と外箱相互間
c) 一次巻線又は二次巻線が二つ以上の相互に絶縁された巻線で構成されている場合は,巻線相互間
非接地形計器 a) 一次巻線一括と二次巻線及び外箱一括間
用変圧器 b) 二次巻線と外箱相互間
c) 二次巻線が二つ以上の相互に絶縁された巻線で構成されている場合は,巻線相互間
接地形計器用 a) 一次巻線の接地側端子と二次巻線及び外箱一括間
変圧器 b) 二次巻線と外箱相互間
c) 二次巻線が二つ以上の相互に絶縁された巻線で構成されている場合は,巻線相互間
コンデンサ形 a) 一次線路側端子と一次接地側端子間
計器用変圧器 b) 分圧コンデンサの端子間
c) 二次巻線と外箱の相互間
計器用変圧変 a) 変流器の一次巻線及び計器用変圧器の一次巻線一括とそれぞれの二次巻線及び外箱一括間
流器 b) 変流器の二次巻線及び計器用変圧器の二次巻線一括と外箱間
c) それぞれの一次巻線又は二次巻線が二つ以上の相互に絶縁された巻線で構成されている場合は,
それぞれの巻線相互間
表29−計器用変成器の部分放電試験
種類 試験回路 試験方法
変流器 図2の例に 一次巻線一括と二次巻線及び外箱一括間に最高電圧の1.2倍に相当する電圧を10秒以上
よる。 加えた後,これを徐々に下げて,最高電圧の1.1/3倍に相当する電圧で1分間以上保持
した場合の放電電荷量を測定する。
非接地形計器 図3の例に a) 単相計器用変圧器の場合
用変圧器 よる。 1) 一次巻線のU端子と一次巻線のV端子,二次巻線のv端子及び外箱一括間に,最
高電圧の1.2倍a) に相当する電圧を10秒間以上加えた後,これを徐々に下げ最高
電圧の1.1倍に相当する電圧で1分間以上保持した場合の放電電荷量を測定する。
ただし,U端子とV端子間の放電電荷量が規定値を超えていないことを確認でき
れば,U端子とv端子及び外箱一括間については,最高電圧の1.1/3倍の電圧で
放電電荷量を測定してよい(特殊な試験回路による。)。
2) 一次巻線のV端子と一次巻線のU端子,二次巻線のv端子及び外箱一括間につい
て1) と同じ試験を行う。
b) 三相計器用変圧器の場合
1) 一次巻線のU端子とV,W端子一括との間について,a) と同じ試験を行う。
2) 一次巻線のV端子とU,W端子一括との間について,a) と同じ試験を行う。
3) 一次巻線のW端子とU,V端子一括との間について,a) と同じ試験を行う。
接地形計器用 図3の例に a) 単相計器用変圧器の場合
変圧器 よる。 一次巻線のU端子と一次巻線のV端子,二次巻線のv端子及び外箱一括間に,最
高電圧の1.2倍a) に相当する電圧を10秒間以上加え(又は誘導させ)た後,これを
徐々に下げて最高電圧の1.1/3倍に相当する電圧で1分間以上保持した場合の放電
電荷量を測定する。
b) 三相計器用変圧器の場合
1) 一次巻線のU端子とV,W,O端子一括との間について,a) と同じ試験を行う。
2) 一次巻線のV端子とU,W,O端子一括との間について,a) と同じ試験を行う。
3) 一次巻線のW端子とU,V,O端子一括との間について,a) と同じ試験を行う。
――――― [JIS C 1736-1 pdf 26] ―――――
23
C 1736-1 : 2009
表29−計器用変成器の部分放電試験(続き)
種類 試験回路 試験方法
計器用変圧変 図2及び図 a)外箱に結線する前に行う場合b)
流器 3の例によ 変流器及び計器用変圧器をそれぞれ別個に,上記の交流器及び,非接地形計器用
る。 変圧器又は接地形計器用変圧器と同じ試験を行う。
b) 外箱に結線した後に行う場合
1) 計器用変圧器が非接地形の場合b)
1.1) 一次側V相端子と一次側U相,W相端子一括,計器用変圧器の二次巻線のv
端子,変流器の二次巻線及び外箱一括間に,非接地形計器用変圧器の試験方法
a) と同じ試験を行う。
1.2) 一次側U相端子又はW相端子と他の2相,計器用変圧器の二次巻線のv端子,
変流器の二次巻線及び外箱一括間に,1と同じ試験を行う。
1.2.1)一次側U相端子とV相端子,W相端子一括との間。
1.2.2)一次側W相端子とU相端子,V相端子一括との間。
2) 計器用変圧器が接地形の場合
2.1) 一次側U相端子,V相端子又はW相端子とほかの2相,一次側O端子,二次
側o端子,変流器の二次巻線及び外箱一括間に,1と同じ試験を行う。
2.1.1)一次側U相端子とV相端子,W相端子,O端子一括との間。
2.1.2)一次側V相端子とU相端子,W相端子,O端子一括との間。
2.1.3)一次側W相端子とU相端子,V相端子,O端子一括との間。
なお,U相端子,V相端子,W相端子は,それぞれUK端子とUL端子,
VK端子とVL端子,WK端子とWL端子を表す。
注a) 計器用変圧器において最高電圧の1.2倍に相当する電圧(前課電電圧)が構造上印加できないものは,受渡当事
者間の協定による。
b) 計器用変圧変流器において上記以外の試験方法で行う場合は,受渡当事者間の協定による。
e) 長時間交流耐電圧 最高電圧195.5 kV以上の計器用変成器の長時間交流耐電圧試験は,図2及び図3
の試験回路の例によって表12に規定する長時間交流試験電圧を図1に示す印加パターンによって加え,
電圧印加後試験終了まで部分放電電荷量を測定する。外部ノイズは低く抑える。試験電圧は正弦波に
近い波形とし,計器用変圧器の試験周波数は励磁電流が過大となるのを防ぐため定格周波数より高い
周波数を用いてもよい。
印加時間T1と印加時間T3に関しては,試験周波数が定格周波数でない場合も,特に周波数による
試験電圧印加時間の調整は行わないものとする。印加時間T2は試験周波数に応じて次の式によって調
整してよい。ただし,印加時間は,最長60秒間,最短15秒間とする。
2 fn
T2 = 60
ft
ここに, T2 : 試験時間 (s)
fn : 定格周波数 (Hz)
ft : 試験周波数 (Hz)
――――― [JIS C 1736-1 pdf 27] ―――――
24
C 1736-1 : 2009
単位 分
T1 T2 T3
形式時 30 a) 1 30 a)
受入時 5 1 5
注a) ガス絶縁形以外の計器用変成器の場合は,受
渡当事者間の協定による。
図1−長時間交流耐電圧試験の電圧印加パターン
HV : 高圧電源 CTx : 被試験変流器
Zch : フィルタ M : 測定装置
Zm : 検出インピーダンス Ck : 結合コンデンサ
図2−変流器の部分放電試験回路の例
a) 高圧側から印加する場合 b) 低圧側から誘導させる場合
HV : 高圧電源 LV : 低圧電源
Zch : フィルタ VTx : 被試験計器用変圧器
Zm : 検出インピーダンス M : 測定装置
Ck : 結合コンデンサ
図3−計器用変圧器の部分放電試験回路の例
――――― [JIS C 1736-1 pdf 28] ―――――
25
C 1736-1 : 2009
f) 巻線端子間耐電圧 変流器の巻線端子間耐電圧試験は,次の試験方法1) 又は試験方法2) によって行
う。
1) 試験方法1) 一次巻線以外の巻線をすべて開放して,一次巻線に定格周波数の定格一次電流を通電
したときに二次巻線端子間に誘起する電圧値か,又は波高値3 kVのいずれか低い方の電圧を1分間
誘起させる。
2) 試験方法2) 電圧を印加する二次巻線以外の巻線をすべて開放し,当該二次巻線に定格周波数の波
高値3 kVの電圧を1分間印加する。このとき,二次巻線に流れる電流の最大値は定格電流とする。
なお,二次巻線端子間電圧の波高値が3 kVに到達しない場合には,次の方法によって耐電圧試験
を行う。電圧を印加する二次巻線以外の巻線をすべて開放し,当該二次巻線の二次電流は,定格電
流を超えない範囲とし,試験周波数を増加させることによって,波高値3 kVの電圧を印加する。た
だし,定格周波数の5倍においても3 kVに到達しない場合には,この電圧を印加することで,その
変流器の巻線端子間耐電圧試験とすることができる。また,試験方法1) によって,一次巻線以外
の巻線をすべて開放して一次巻線に定格一次電流を通電したときに,二次巻線端子間に誘起する電
圧値が3 kV未満であることがあらかじめ確認されている変流器と同一構造の変流器については,試
験方法1) で得られた3 kV未満の値を印加することで,その変流器の巻線端子間耐電圧試験とする
ことができる。
試験方法2) において,試験周波数が定格周波数の2倍を超える場合は,次の式によって試験時
間を短縮できる。試験時間の短縮を図るなどの目的から,試験周波数を定格周波数の5倍以上とし
てもよいが,このときにおいても,試験時間の最短は15秒間とする。
2 fn
Tt = 60
ft
ここに, Tt : 試験時間 (s)
fn : 定格周波数 (Hz)
f1 : 試験周波数 (Hz)
7.3.5 異常現象
コンデンサ形計器用変圧器の異常現象は,無負担のもとで,定格周波数の定格一次電圧の1.1倍に相当
する電圧を加え,二次回路の短絡及び復帰を10回行う。
7.3.6 合成誤差
電力測定における計器用変成器の合成誤差は,次による。
なお,試験はトレーサビリティの確保された機器によって行うことが望ましい。
a) 合成誤差の求め方 計器用変成器の合成誤差は,b) の試験電流及び試験電圧,並びにc) の試験負担
のもとで,比誤差及び位相角を測定し,その結果に附属書Aの計算式を適用して算出する。
b) 試験電流及び試験電圧 計器用変成器の合成誤差試験における試験電流及び試験電圧は,表30によ
る。
表30−計器用変成器の試験電流及び試験電圧
変流器 計器用変圧器
0.025 In a)0.05 In 0.1 In 0.2 In 1.0 In 1.2 In 0.9 Vn 1.0 Vn 1.1 Vn
○ ◎ ○ ◎ ◎ ○ ○ ◎ ○
注記1 ◎印は,形式試験及び受渡試験の試験点を表し,○印は,形式試験だけの試験点を表す。
注記2 In及びVnは,定格周波数の定格一次電流及び定格一次電圧を表す。
注a) 0.025 Inは,1.0 W級を除く。
――――― [JIS C 1736-1 pdf 29] ―――――
26
C 1736-1 : 2009
c) 試験負担 計器用変成器の合成誤差試験における試験負担は,定格負担及び定格負担の25 %の負担と
し,負担力率は,変流器では0.8遅れ電流,計器用変圧器では0.2遅れ電流とする。
7.3.7 電流特性
変流器の電流特性は,定格負担(力率0.8遅れ電流)のもとで,1.2 In,1.0 In,0.2 In,0.1 In及び0.05 In
の点の合成誤差試験の結果から電流変化に基づく合成誤差(三相変流器の場合は各相ごと,三相計器用変
圧変流器の場合は全体の合成誤差)の変化を算出する。ただし,Inは,定格周波数の定格一次電流を表す。
7.3.8 電圧特性
計器用変圧器の電圧特性は,定格負担(力率0.2遅れ電流)のもとで,1.1 Vn,1.0 Vn及び0.9 Vnの点の
合成誤差試験の結果から電圧変化に基づく合成誤差(三相計器用変圧器の場合は各相又は各線間ごと,三
相計器用変圧変流器の場合は全体の合成誤差)の変化を算出する。ただし,Vnは,定格周波数の定格一次
電圧を表す。
7.3.9 周波数特性
コンデンサ形計器用変圧器の周波数特性は,定格負担(力率0.2遅れ電流)のもとで,定格周波数の95 %,
100 %及び105 %の定格一次電圧を加えて合成誤差試験を行い,周波数変化に基づく合成誤差の変化を算出
する。
7.3.10 相互干渉
計器用変圧変流器の相互干渉は,計器用変圧器に定格周波数の定格一次電圧(三相計器用変圧変流器の
場合は,正相順の三相電圧)を加え,変流器に定格負担及び定格負担の25 %の負担(力率0.8遅れ電流)
のもとで,定格周波数の定格一次電流の10 %の電流を流して,変流器の比誤差及び位相角を測定し,次い
で一次電流の方向を180°回転し,同一条件で比誤差及び位相角の測定をする。相互干渉による誤差変化
‰ 次の式によって求める。
2 2
= ( 1− ) ]
2 ) + .0[029 1 ( 1−
2
ここに, 相互干渉による誤差変化 (%)
初めの試験のときの比誤差 (%)
初めの試験のときの位相角(分)
一次電流の方向を180°回転した試験をしたときの比誤差 (%)
一次電流の方向を180°回転した試験をしたときの位相角(分)
8 端子
8.1 端子の記号
計器用変成器の一次側及び二次側の端子には,容易に消えない方法で端子記号を明記する。
8.1.1 変流器の端子記号
変流器の端子記号は一次端子をK及びL,二次端子をk及びlとし,K及びk又はL及びlで各誘導起
電力の同一方向を表すものとする。二次側には,更に接続される電力量計の端子記号,例えば1S及び1L
を併記する。貫通形1) では,kに対応する穴の側にKを,lに対応する穴の側にLを記入する。また,三
相変流器の端子記号K,L及びk,lには,一次端子ではU,V及びW,二次端子ではu,v及びwの添え
字を付して相の識別を行う。
注1) 一次巻線をもたない変流器で,二次巻線を施した鉄心窓に,母線,単心ブッシング,ケーブル
などの一次導体を挿入して用いる変流器。
単相変流器を単相2線式,単相3線式,三相3線式及び三相4線式回路に用いる場合の端子記号は,図
――――― [JIS C 1736-1 pdf 30] ―――――
次のページ PDF 31
JIS C 1736-1:2009の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.220 : 電気学.磁気学.電気的及び磁気的測定 > 17.220.20 : 電気的及び磁気的量の測定