JIS C 1803:1995 工業プロセス計測制御機器の性能表示法通則 | ページ 3

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          状態で5分間経過した後,ゼロシフトとスパンシフトを測定する。
(12) 信号源インピーダンスの影響及び負荷インピーダンスの影響 : ± ( ) % [( )  ( )    圀          y
    動は,インピーダンスが許容範囲内で変化することによって生じる出力の最大変化をもって表し,次
    の例のように表示する。
    例 負荷インピーダンスの影響 ±0.5% (0600     圀
(13) 接地の影響 : 
      ± ( ) %(入力接地)
      ± ( ) %(出力接地)
      接地による影響変動は,大地から絶縁されている入力回路又は出力回路を接地することによって生
    じる定常的な出力の変化を表示する。
      一般に,機器の金属容器は保安接地されるので,入力回路又は出力回路が機器の容器から絶縁され
    ている場合,入力端子又は出力端子と機器の接地端子との間を短絡することによって影響変動が現れ
    る。
      また,入力又は出力の値によって影響変動に差がある場合は,次の例のように入力又は出力の値を
    明記する。
    例 ±0.2%(入力接地,出力50%)
(14) 外部磁界の影響 : 
      ± ( ) %[直流磁界 ( )   /m]
      ± ( ) % [( )   /m, ( )   z]
      磁界の方向によって影響変動が異なる場合は,左右,前後,上下の方向をそれぞれx軸,y軸,z
    軸として次の例のように表示する。
    例1. ±0.4%(400A/m,50Hz,x,y,z軸方向)
    例2. ±0.2%(400A/m,50Hz,x,z軸方向)
    例3. ±0.5%(400A/m,50Hz,y軸方向)
(15) 静電気放電の影響 : ± ( ) % [ ( )   V] 静電気放電の影響は,外部の静電気が機器に放電すること
    によって生じる出力の過渡変化をもって表示するものとし,“接触放電”と“気中放電”(被試験機器
    の表面塗装が試験電圧以上の絶縁耐圧をもつ場合)の区別を明らかにする場合は,次の例のように表
    示する。
    例 ± 0.3%(15kV 気中放電)
    備考 静電気放電試験は静電気放電試験装置を用い,原則として10回被試験機器の金属容器に対して
          放電を行う。
            また,放電電圧はJIS C 1804の規定によって定められた静電気放電電圧のクラスの厳しさレ
          ベルの中から選択する。
    参考 試験装置及び試験方法の詳細は,社団法人日本電気計測器工業会規格JEMIS 036-1994(計測制
          御機器イミュニティ試験法)に規定されている。
(16) 放射電磁界の影響 : ± ( ) % [ ( )   /m] 放射電磁界の影響は,通常周波数26MHz1GHzの妨害波
    を受けることによって生じる出力の変化をもって表示する。出力の変化が最大になる周波数又は周波
    数範囲を明らかにする場合は,次の例のように表示する。
    例 ± 0.2% (10V/m, 50MHz)
    備考 放射電磁界の試験は電波遮へい(蔽)室で行われ,信号発生器,電力増幅器,送信アンテナ,

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C 1803-1995
          電界強度計等の大掛かりな設備を必要とする。
            また,試験の際の電界強度はJIS C 1804の規定によって定められた放射電磁界のクラスの厳
          しさレベルの中から選択する。
    参考 試験装置及び試験方法の詳細はJEMIS 036-1994に規定されている。
      携帯用トランシーバによる放射電磁界の影響を表示する場合は,試験の条件として,トランシーバ
    の周波数,出力,ロッドアンテナからの距離及びアンテナの方向(水平,垂直など)を明らかにする。
    その例を次に示す。
    例 ± 0.2%(154MHz,1W,距離1m,アンテナ 水平)
    備考 トランシーバによって発生する電界強度は,同じ定格出力のトランシーバでも型式による差異
          が大きいため,製造業者名と型式を付記する。
(17) 方形波インパルスの影響 : ± ( ) % [( )   V] 方形波インパルスの影響は,立上りの急なパルス電圧
    (立上り時間1ns,パルス幅1 000ns)が電源周波数の周期で繰り返し印加されることによって生じる
    出力の変化をもって表示する。パルス電圧が印加される箇所は通常電源線又は信号線で,印加のされ
    方にはシリーズモードとコモンモードとがある。それらを明らかにする場合は,次の例のように表示
    する。
    例 ±0.2 %(1 kV,立上り時間1 ns,パルス幅1 000 ns,周波数50 Hz,電源線 シリーズモード)
    備考 試験における方形波インパルスの印加は,結合装置(容量性結合)によるものとコンデンサと
          終端抵抗(直接結合)によるものとがあり,印加時間は1分間以上である。
            また,方形波インパルス電圧は,JIS C 1804の規定によって定められた方形波インパルスの
          値を用いる。
    参考 方形波インパルスの試験装置及び試験方法の詳細は,JEMIS 036-1994に規定されている。
(18) バースト波の影響 : ( ) % [( )   V] バースト波の影響は,パルス電圧(立上り時間5 ns,パルス幅
    50ns)が短時間周期(5kHz相当)で繰り返し印加される“バースト”(バースト期間15ms)によって
    生じる出力の過渡変化をもって表示する(バースト周期300ms)。
      バースト波電圧が印加される箇所は電源線又は信号線で,印加のされ方は,シリーズモードとコモ
    ンモードがある。それらを明らかにする場合は次の例のように表示する。
    例 0.3%(2kV,電源線 シリーズモード)
    備考 試験におけるバースト波の印加は,容量性結合クランプによるものと直接結合(結合コンデン
          サ)によるものとがあり,印加時間は1分間以上である。
            また,バースト波電圧は,JIS C 1804の規定によって定められたバースト波のクラスの厳し
          さレベルの中から選択する。
    参考 バースト波の試験装置及び試験方法の詳細は,JEMIS 036-1994に規定されている。
(19) コモンモード電圧の影響及びシリーズモード電圧の影響 : 
      ± ( ) % [( )   ,( )   z]
      ± ( ) %[入力スパンの ( ) 倍の電圧,( )   z]
      コモンモード電圧は,大地から絶縁された入力信号源と大地間(入力端子と接地端子間)に現れる
    電圧をいい,シリーズモード電圧は,入力信号源と直列に現れる電圧(入力信号に重畳される電圧)
    をいう。両者は商用電源雑音といわれる商用電源周波数の交流で,正常動作条件としての最大許容電
    圧と周波数を外部影響量として [ ] 内に表示する。
    備考 シリーズモード電圧は,ノーマルモード電圧ともいう。

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6. 確認試験 確認試験は,次による。
(1) 定格性能として表示された誤差の値を確認するために行う基準性能及び影響変動の試験は,被試験機
    器の入力の下限値と上限値を含む5点以上について対応する出力を測定する。測定回数は,形式試験
    の場合3回,個別試験の場合1回とする。ただし,1回の測定とは,下限値と上限値を含む入力の上
    昇と下降の1往復に対する出力の測定をいう。
      被試験機器の入出力特性が,出力の下限値 (0%) と上限値 (100%) を超えて少なくとも2%の余裕
    をもたない場合は,出力の5%と95%をもって下限値と上限値に置き換える。
      なお,確認試験に際し試験者は,製造業者の取扱説明書に従って被試験機器の接地,ウォームアッ
    プ,調整など必要な準備を行う。
      また,試験中においても取扱説明書に記された注意事項を守るものとする。
    備考 使用者が定格性能の確認をする場合,被試験機器(サンプル)は通常1台とし,製造業者と使
          用者は,互いに合意のもとに,試験目的に適合するサンプルの選定方法を定め,生産ライン又
          は在庫している製品の中から1台を抽出する。
(2) 基準性能の確認試験において求める誤差は,被試験機器の各測定点における出力の誤差の中の最大値
    とする。各測定点における出力の誤差とは,基準動作条件における出力の基準値からの偏差をいう。
      なお,出力を高精度で測定することが困難な被試験機器の場合には,出力を特定の値(例えば,指
    示計の目盛)に一致させたときの入力を測定し,得られた入力の偏差を求める。
(3) 基準性能及び影響変動の確認試験に用いる測定装置の誤差は,被試験機器の精度定格の値の41以下と
    する。ただし,測定誤差が安定していて補正可能な場合を除く。
      また,測定装置は確立されたトレーサビリティーのもとで定期的に校正されたものを用いる。
(4) この規格に定める事項のほかは,個別の機器の試験方法の通則又は個別規格による。
(5) この規格に定める基本的な性能を確認するための試験の種類と項目は,表2のようにまとめられる。

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C 1803-1995
                    表2 性能試験の種類と項目(全機種 : 全機種によって実施,
                                  選択 : 機種によって選択実施)
                                                           試験の種類
                 試験の項目
                                          形式試験        個別試験            備考
              精度定格(最大誤差)         全機種          全機種
              ヒステリシス差                選択
              直線性又は一致性              選択
              繰返し性                      選択
       基     不感帯                        選択
       準     ステップ応答                  選択
       性
       能     周波数応答                    選択
       試     ドリフト                      選択
       験
              ウォームアップ時間            選択
              消費電力                      選択
              絶縁抵抗                      選択            選択
              耐電圧                        選択            選択
              空気消費量                    選択
              温度                          選択
              湿度                          選択
              電源電圧                      選択            選択
              電源周波数                    選択
              電源ひずみ率                  選択
              電源瞬断                      選択
              供給空気圧                    選択
              振動                          選択
       影     衝撃                          選択
       響     取付角度                      選択
       変
       動     過大入力                      選択
       試     信号源インピーダンス          選択
       験
              負荷インピーダンス            選択
              接地                          選択
              外部磁界                      選択
              静電気放電                    選択
              放射電磁界                    選択
              方形波インパルス              選択
              バースト波                    選択
              コモンモード電圧              選択                       商用電源ノイズ
              シリーズモード電圧            選択                       商用電源ノイズ

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                      工業計器性能表示法通則JIS改正原案作成委員会 構成表
                                     氏名                         所属
        (委員長)             土 屋 喜 一       早稲田大学理工学部
        (副委員長)           佐 伯 浩 人       慶應義塾大学理工学部
        (幹事)               伊 藤 洋一郎      山武ハネウエル株式会社
                               中 島 一 郎       通商産業省機械情報産業局
                               古 市 正 敏       工業技術院標準部
                               今 井 秀 孝       工業技術院計量研究所
                               白 崎 善 宏       千代田化工建設株式会社
                               熊 谷 俊 一       秩父小野田株式会社
                               若 林 茂 治       新日本製鐵株式会社
                               湯 浅 康 弘       日本鋼管株式会社
                               近 藤 久 男       株式会社日本触媒
                               魚 切     勇      日本石油精製株式会社
                               小 林 一 勝       三菱製紙株式会社
                               林   昇一郎       株式会社オーバル
                               岡        敏      大倉電気株式会社
                               公 江 春 樹       株式会社島津製作所
                               三 宅 順 一       株式会社東芝
                               桜 居     裕      株式会社日立製作所
                               多 胡 敬一郎      富士電機株式会社
                               市 川 邦 明       横河電機株式会社
        (事務局)             雀 部 隆 明       社団法人日本電気計測器工業会
                               冨 山     正      社団法人日本電気計測器工業会