JIS C 2142:2016 固体電気絶縁材料―試験前及び試験時における標準状態

JIS C 2142:2016 規格概要

この規格 C2142は、固体電気絶縁材料の試験のときに用いる暴露時間,雰囲気の温度及び湿度,並びに液体浸せき(漬)の通常用いている標準状態について規定。

JISC2142 規格全文情報

規格番号
JIS C2142 
規格名称
固体電気絶縁材料―試験前及び試験時における標準状態
規格名称英語訳
Solid electrical insulating materials -- Standard conditions for use prior to and during the testing
制定年月日
2009年5月20日
最新改正日
2016年10月20日
JIS 閲覧
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対応国際規格

ISO

IEC 60212:2010(MOD)
国際規格分類

ICS

29.035.01
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
‐ 
改訂:履歴
2009-05-20 制定日, 2014-10-20 確認日, 2016-10-20 改正
ページ
JIS C 2142:2016 PDF [14]
                                                                                   C 2142 : 2016

pdf 目 次

ページ

  •  序文・・・・[1]
  •  1 適用範囲・・・・[1]
  •  2 引用規格・・・・[1]
  •  3 用語及び定義・・・・[2]
  •  4 予備状態調節,状態調節及び試験時の推奨温度及び相対湿度(又は液体浸せき)・・・・[3]
  •  5 状態調節の所要時間・・・・[4]
  •  6 予備状態調節,状態調節及び試験時の雰囲気調節のための手順・・・・[4]
  •  7 液体浸せきにおける状態調節時及び試験時の推奨温度・・・・[5]
  •  8 基準雰囲気・・・・[5]
  •  9 予備状態調節,状態調節及び試験を規定する記号・・・・[5]
  •  10 報告・・・・[6]
  •  附属書JA(参考)飽和塩水溶液,グリセリン水溶液及び硫酸水溶液による調湿方法・・・・[9]
  •  附属書JB(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[11]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 2142 pdf 1] ―――――

C 2142 : 2016

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電気
学会(IEEJ)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正す
べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
これによって,JIS C 2142: 2009は改正され,この規格に置き換えられた。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 2142 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
C 2142 : 2016

固体電気絶縁材料−試験前及び試験時における標準状態

Solid electrical insulating materials- Standard conditions for use prior to and during the testing

序文

  この規格は,2010年に第3版として発行されたIEC 60212を基とし,日本工業規格(日本産業規格)の様式への整合及び
我が国で広く行われている条件を追加するため,技術的な内容を変更して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
なお,この規格で点線の下線を施してある箇所及び附属書JAは,対応国際規格にはない事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JBに示す。

1 適用範囲

  この規格は,固体電気絶縁材料の試験のときに用いる暴露時間,雰囲気の温度及び湿度,並びに液体浸
せき(漬)の通常用いている標準状態について規定する。この規格では,各種標準状態を十分に広い範囲
にわたって規定しており,次に規定する状態調節の所期の目的を果たすために選択された適切な状態を実
現することができる。この規格の本来の目的は,試験結果の再現性を高めることである。
a) 部分的であっても,試験片の過去の履歴に起因する材料特性の変化を防ぐ。
b) 試験時の状態の均一性を確保する。
この規格は,ある温度及び湿度への暴露,又は液体への浸せきが,材料の特性に与える影響を測定する
ことは意図していない。
なお,材料に対する環境の影響を評価する手順は,JIS C 60068の各部に規定している。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 60212:2010,Standard conditions for use prior to and during the testing of solid electrical insulating
materials(MOD)
なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 2143-4-1 電気絶縁材料−熱的耐久性−第4-1部 : 劣化処理オーブン−シングルチャンバオーブ

注記 対応国際規格 : IEC 60216-4-1,Electrical insulating materials−Thermal endurance properties−Part
4-1: Ageing ovens−Single-chamber ovens(MOD)

――――― [JIS C 2142 pdf 3] ―――――

2
C 2142 : 2016
JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−第1部 : 通則及び指針
注記 対応国際規格 : IEC 60068-1,Environmental testing−Part 1: General and guidance及び
Amendment 1(1992)(MOD)
JIS K 7209 プラスチック−吸水率の求め方
注記 対応国際規格 : ISO 62:2008,Plastics−Determination of water absorption(IDT)

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
3.1
絶縁材料(insulating material)
無視できる程度の低い導電率をもち,電位の異なる導体部品を分離するために用いる固体材料。
注記1 絶縁材料は固体に限らず,絶縁液体及び気体を含むより広い意味にも用いる場合がある。
注記2 絶縁材料は,固体,液体,気体,又はこれらの混合物であってもよい。ただし,この規格は
固体材料を対象としている。
3.2
試験片(specimen)
適切な試験要項の記載に従って,試験に供する材料から採取した標本試料。
3.3
予備状態調節(preconditioning)
主として対象物がそれまでにさらされてきた温度及び湿度に関して,その先立つ履歴の影響の除去又は
部分的な緩和を目的とした試験片の処理。
注記1 この処理は,“ノーマライジング”又は“正常化”ともいう。
注記2 予備状態調節は,一般に試験片の状態調節の前に行う。試験片の状態調節のための温度及び
湿度の組合せが予備状態調節のための組合せと同じ場合には,予備状態調節を試験片の状態
調節の代わりにしてもよい。
注記3 予備状態調節は,適切な試験要項の記載が要求する気候的,電気的,又はその他の条件に試
験片を曝露して行うことがある。
3.4
(試験片の)状態調節[conditioning (of a specimen)]
規定の時間にわたり,規定の気候的条件(通常,規定の温度及び規定の相対湿度),規定の温度の下での
規定の相対湿度の雰囲気,又は水若しくは他の液体への完全浸せきによる試験片の処理。
注記1 状態調節で温度と湿度との組合せが予備状態調節の条件と同じ場合,予備状態調節と状態調
節とは続けて行う場合がある。また,予備状態調節を,状態調節に置き換えることもある。
注記2 状況によっては,状態調節に用いる空間は,その条件が規定の許容差以内であれば,試験室
全体であってもよく,又は特別な部屋でもよい。
3.5
チャンバ(chamber)
規定の状態を少なくともそのある部分で達成することのできる容器又は空間。
3.6
暴露空間(working space)

――――― [JIS C 2142 pdf 4] ―――――

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C 2142 : 2016
規定の状態を許容差内で維持することのできるチャンバ内の領域。
3.7
状態調節の時間(period of conditioning)
試験片の状態調節に要する時間。
3.8
状態回復(recovery)
状態調節を行った後,測定をする前に特性を安定化するために,試験片に行う処理。
3.9
試験時の状態(test conditions)
試験を行うときの試験片周囲の雰囲気の温度及び湿度,又は液体浸せきの場合の液体の温度及び液体の
種類。
3.10
基準雰囲気(standard reference atmosphere)
ある雰囲気状態で測定したときの値を,計算によって換算するときの基準となる雰囲気。
3.11
相対湿度(relative humidity)
大気中に実際に存在する水蒸気の量を表す水蒸気圧の,同じ温度における理論上の最大蒸気圧(飽和水
蒸気圧,3.13参照)に対する比を百分率で表した値。
3.12
蒸気圧(vapour pressure)
ある物質が液体又は固体で平衡状態にあるとき,その物質の蒸気が及ぼす圧力。
3.13
飽和蒸気圧(saturation vapour pressure)
ある物質が液体又は固体で平衡状態にあるとき,その物質の蒸気が及ぼすことのできる最大の圧力。圧
力がそれ以上になると,その蒸気の中で,より凝縮した状態への移行が始まる。
3.14
エージング(ageing)
絶縁材料を通常の用途で使用した結果として,又は電気的,熱的,機械的及び/又は環境に起因する応
力(ストレス)の作用する中で時間が経過した結果として,その材料の一つ以上の特性に生じる非可逆的
変化。

4 予備状態調節,状態調節及び試験時の推奨温度及び相対湿度(又は液体浸せき)

  予備状態調節,状態調節及び試験時における推奨する温度及び相対湿度を表2に,液体浸せきの状態を
表3に示す。これらの数値を選ぶときには,処理によって試験片にエージングを生じないように注意する
ことが望ましい。
予備状態調節が必要な場合は,個別材料規格で規定する時間(例えば,24 h±0.5 h),表2に示す標準雰
囲気,又は高温・乾燥状態のいずれかを適用してもよい。
なお,高温・乾燥状態には,通常,50 ℃±2 ℃で相対湿度20 %未満又は70 ℃±2 ℃で相対湿度20 %
未満を用いる。
予備状態調節は,ある種のプラスチック材料で成形工程後に生じる内部応力を緩和するため又は試験を

――――― [JIS C 2142 pdf 5] ―――――

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