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C 2550-2 : 2020
図3−巻ぐせ測定装置(定盤法)
4.2.3 懸垂法
4.2.3.1 試験片
試験片は,製品規格(JIS C 2552及びJIS C 2553)に規定する長さの電磁鋼帯とする。規定されていな
い場合,電磁鋼帯から製品幅のまま,長さ500 mmで切断する。試験片の軸は,圧延方向と平行にする。
4.2.3.2 測定手順
試験片は,凸面が支持台に向かうように置き,上端30 mm部を板クランプ装置で押さえて垂直につ(吊)
るす。試験片の下端と支持台との間の最大距離(a)を1 mm以下の分解能をもつ装置を用いて測定する(図
4参照)。このとき,試験片の上端部の幅全体が支持台と密着するようなクランプ力で支持する。
注記 板クランプ装置の例を,附属書Aに示す。
単位 mm
図4−巻ぐせ測定装置(懸垂法)
4.3 横曲がり
4.3.1 試験片
試験片は,製品規格(JIS C 2552及びJIS C 2553)に規定する長さの電磁鋼帯とする。規定されていな
い場合,電磁鋼帯から製品幅のまま,長さ1 mで切断する。試験片の軸は,圧延方向と平行にする。側波
測定と同じ試験片を用いてもよい。
――――― [JIS C 2550-2 pdf 6] ―――――
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C 2550-2 : 2020
4.3.2 測定手順
試験片は,定盤の上に置き,へこみ側の片エッジに基準線を当て,エッジと基準線との間の最大隙間(e)
を,0.1 mm以下の分解能をもつ装置を用いて測定する(図5参照)。
図5−横曲がりの測定
4.4 切断線の変化,内部応力
4.4.1 試験片
試験片は,製品規格(JIS C 2552及びJIS C 2553)に規定する長さの電磁鋼帯とする。規定されていな
い場合,電磁鋼帯から製品幅のまま,長さ1 mで切断する。試験片の軸は,圧延方向と平行にする。側波
測定と同じ試験片を用いてもよい。
4.4.2 測定手順
試験片を圧延方向に沿って中央から切断する。切断した二つの部分は裏返しとせず,おもしを載せて平
たんにする。試験片の切断前の両端面を平行にした状態で二つの切断エッジを合わせ,二つの切断エッジ
の間の最大隙間(c)を,0.1 mm以下の分解能をもつ装置を用いて測定する(図6参照)。
a) 閉じた隙間の例 b) 開いた隙間の例
図6−切断線の変化(内部応力)
4.5 切断かえり高さ
4.5.1 試験片
試験片は,製品規格(JIS C 2552及びJIS C 2553)に規定する長さの電磁鋼帯とする。規定されていな
――――― [JIS C 2550-2 pdf 7] ―――――
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C 2550-2 : 2020
い場合,電磁鋼帯から製品幅のまま,長さ1 mで切断する。試験片の軸は,圧延方向と平行にする。側波
測定と同じ試験片でよい。
注記 試験片の長さ1 mは,スリット加工の品質に大きな影響を及ぼすスリットブレードの外周より
も長く,十分と考えられる。
4.5.2 測定手順
4.5.2.1 一般事項
切断かえり高さは,電磁鋼帯のスリットエッジと,このエッジから10 mm程度の距離とでそれぞれ測定
した厚さの差(h)から求める(図7参照)。厚さは,外側マイクロメータ又はコンパレータのような線形
測定装置を用いて測定する。
切断かえり高さは,1 m以上の長さの試験片における最大値で評価する。
単位 mm
図7−切断かえり高さ
4.5.2.2 外側マイクロメータを用いた測定手順
外側マイクロメータは,JIS B 7502に規定するものを用い,次の機能をもつ。
− 分解能 : 1 μm以下
− 不確かさ : 2 μm以内
− アンビル : 回転しない
− アンビルの直径 : 6 mm以上
− 試験片に作用する力 : 10 N以下で一定
試験片に作用する力は,10 Nを超えてはならない。切断かえりを変形させることがない4 N8 Nの範
囲で測定することが望ましい。
外側マイクロメータをスリットエッジに当てたときの読み(h2)と,外側マイクロメータを外し,この
エッジから10 mm程度の距離の部分に当てたときの読み(h1)との差を求める(図7参照)。
4.5.2.3 コンパレータを用いた測定手順
コンパレータのような線形測定装置を用いた測定は,次による。
コンパレータは,次の機能をもつ。
− 分解能 : 1 μm以下
− 不確かさ : 2 μm以内
− 移動アンビルは,回転しないで軸方向に移動する。
− 移動アンビルの寸法 : 16 mm×8 mm
− 移動アンビルに作用する力 : 4 N±0.2 N
――――― [JIS C 2550-2 pdf 8] ―――――
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C 2550-2 : 2020
試験片を定盤上で平らに保持する。移動アンビルの動きが定盤に対して垂直になるように,コンパレー
タをしっかりと支持台に固定する(図8参照)。
移動アンビルの接触表面は,定盤に対して平行にする。厚さゲージ又はサンプルの厚さとほぼ等しい高
さの他の装置を用いて,この平行度を確認する。移動アンビルの接触表面上のどの点においても,定盤ま
での距離の差が1 μmを超えてはならない。水平に保持するために,3点式調節テーブルを用いる。
試験では,スリットエッジから10 mm程度の距離の部分での鋼板の厚さ(h1)とスリットエッジの厚さ
(h2)とを測定し,最大寸法(16 mm)をもつ移動アンビルは,スリットエッジに平行にする(図9参照)。
測定は,試験片を移動して,等間隔に行う。
図8−切断かえり高さ測定装置
図9−移動アンビルの位置
5 試験報告書
(我が国の現状に合わせ,試験報告書は材質の規格で規定しているため,この規格では不採用とした。)
――――― [JIS C 2550-2 pdf 9] ―――――
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C 2550-2 : 2020
附属書A
(参考)
懸垂法による巻ぐせ測定における板クランプ装置の例
懸垂法による巻ぐせ測定における板クランプ装置の例を,図A.1及び図A.2に示す。
単位 mm
押さえ
30
固定ジグ
試験片
図A.1−板クランプ装置の例(タイプA)
単位 mm
偏心カムつき
クランプレバー
30
側面図
上面図
図A.2−板クランプ装置の例(タイプB)
――――― [JIS C 2550-2 pdf 10] ―――――
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JIS C 2550-2:2020の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60404-9:2018(MOD)
JIS C 2550-2:2020の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.220 : 電気学.磁気学.電気的及び磁気的測定 > 17.220.01 : 電気学.磁気学.一般課題