JIS C 2550-2:2020 電磁鋼帯試験方法―第２部：寸法・形状の測定方法 | ページ 3

                                                                                                                                           9
                                                                                                                               C 2550-2 : 2020
                                                                  附属書JA
                                                                   (参考)
                                                     JISと対応国際規格との対比表
     JIS C 2550-2:2020 電磁鋼帯試験方法−第2部 : 寸法・形状の測定方法    IEC 60404-9:2018,Magnetic materials−Part 9: Methods of determination of the
                                                                        geometrical characteristics of electrical steel strip and sheet
     (I)   JISの規定                 (II)国際   (III)国際規格の規定                                                (V)   JISと国際規格との技術的差
                                                                        (IV)   JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
                                  規格番号                              の評価及びその内容                      異の理由及び今後の対策
      箇条番号        内容                   箇条          内容         箇条ごと        技術的差異の内容
      及び題名                               番号                       の評価
     4 測定方法 4.2.1 一般事項               4.2.1                      変更     定盤法と懸垂法との測定値が異な 我が国では定盤法が一般的である
                                                                        追加                                    ことに合わせた。IEC規格の変更
                                                                                 ることを注記から本文に変更し,懸
                                                                                 垂法による測定値の場合は記載す は提案予定なし。
                                                                                 ることを追加した。
                4.5.2.2 外側マイク           4.5.2 この規格で形状を測定 追加                                    対応IEC規格には,マイクロメー
                                                                                 切断かえり高さの測定で,我が国で
                ロメータを用いた             .2    する材料の規格だけを          一般的に用いられるマイクロメー タの規格は規定されていない。
                測定手順                           規定している。                タの規格を規定した。           IEC規格の変更は提案予定なし。
     5          この規格では,適用           5     本試験方法に基づく試 削除     我が国の一般的な取引では製品に 我が国で一般的となっている取引
                しない旨を記載                     験報告書について規定                                         と整合させた。IEC規格の変更は
                                                                                 試験成績表を添付するため,従来か
                                                   している。                    ら,JISでは製品規格に試験成績表提案予定なし。
                                                                                 を規定し,試験方法の規格から,試
                                                                                 験報告書の規定を削除している。
     JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 60404-9:2018,MOD
     注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
            − 削除  国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
            − 追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
            − 変更  国際規格の規定内容を変更している。
                                                                                                                                              C2
     注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
            − MOD  国際規格を修正している。
                                                                                                                                                 550-
                                                                                                                                                    2 : 2020
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