JIS C 2550-4:2019 電磁鋼帯試験方法―第４部：表面絶縁抵抗の測定方法

                                                                                 C 2550-4 : 2019

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 測定原理・・・・[1]
•  3 試験片・・・・[3]
•  4 測定装置・・・・[3]
•  4.1 接触子アセンブリ・・・・[3]
•  4.2 電源供給・・・・[3]
•  4.3 電流測定・・・・[4]
•  4.4 加圧力の測定・・・・[4]
•  5 校正・・・・[4]
•  6 測定手順・・・・[4]
•  7 表面絶縁抵抗の評価・・・・[4]
•  8 試験報告書・・・・[5]
•  附属書JA(参考)表面絶縁抵抗試験装置の例・・・・[6]
•  附属書JB(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[9]

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C 2550-4 : 2019

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本
電機工業会(JEMA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を
改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)で
ある。
  これによって,JIS C 2550-4:2011は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 2550の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 2550-1 第1部 : エプスタイン試験器による電磁鋼帯の磁気特性の測定方法
    JIS C 2550-2 第2部 : 寸法・形状の測定方法
    JIS C 2550-3 第3部 : 中間周波磁気特性の測定方法
    JIS C 2550-4 第4部 : 表面絶縁抵抗の測定方法
    JIS C 2550-5 第5部 : 電磁鋼帯の密度,抵抗率及び占積率の測定方法

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           C 2550-4 : 2019

電磁鋼帯試験方法−第4部 : 表面絶縁抵抗の測定方法

Test methods for electrical steel strip and sheet-Part 4: Methods of test for the determination ofsurface insulation resistance of electrical strip and sheet

序文

  この規格は,1991年に第1版として発行されたIEC 60404-11,Amendment 1:1998及びAmendment 2:2012
を基に,我が国で一般的となっている技術と整合させるため,技術的内容を変更して作成した日本工業規
格である。ただし,追補(amendment)については,編集し,一体とした。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JBに示す。

1 適用範囲

  この規格は,電磁鋼帯の表面絶縁抵抗の測定方法について規定する。
  この測定方法は,片面又は両面に絶縁が施された電磁鋼帯に適用し,絶縁皮膜を塗布する製造の管理用
途に適している。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 60404-11:1991,Magnetic materials−Part 11: Method of test for the determination of surface
              insulation resistance of magnetic sheet and strip,Amendment 1:1998及びAmendment 2:2012
              (MOD)
            なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
          ことを示す。

2 測定原理

  この測定原理は,当初,Franklin 1) が記述した方法に基づくものであり,皮膜が施された面ごとに測定
することが特徴である。
    注1)   ranklin, R.F., “Measurement and control of interlaminar resistance of laminated magnetic cores”,
          ASTM Bulletin, no. 144, January 1947. p.57
  装置の配置を,図1に示す。一定の面積内に配置された10個の金属接触子電極を,鋼帯の試験片の片側
の皮膜面に接触させ,規定の電圧及び圧力を印加する。

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C 2550-4 : 2019
                                図1−表面絶縁抵抗測定装置の構成
  各接触子電極には,安定化電源から個別に電流が供給される。電流の供給方法は,この規格で規定する
次の二つの測定法のいずれかによる。
a)   法(図2参照) 抵抗(5 Ω±1 %)の電源側とドリル接点との間の電圧を,接触子電極を流れる電
    流が01 Aの範囲で,500 mV±0.5 %に安定化する。二つのドリルは,試験片金属部の電流端子の機
    能をもつ。
b)   法(図3参照) 個々の電極電流を検出するために,各々の接触子電極とドリル接点との間の電圧を,
    接触子電極を流れる電流が02.5 Aの範囲で,250 mV±0.5 %に安定化する。二つのドリルは別々の
    機能をもつ。一つのドリルは,試験片金属部の電流端子の機能をもつ。他方のドリルは,電圧安定化
    制御用の電圧検出端子となる。この方法によって,電流端子ドリルと試験片金属部との間の接触抵抗
    の変動の影響が除去される。
  図2及び図3に示すように,安定化電圧を保持する範囲の外側で個々の接触子電極と直列に接続した補
助抵抗器Rsの電圧降下で電流を検知する。
  電流経路が接触子電極と試験片金属部との間にあるため,この試験は,真の層間抵抗の測定ではないが,
表面絶縁品質についての有用な指標を得ることができる。
                            図2−表面絶縁抵抗測定装置の構成(A法)

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                                                                                 C 2550-4 : 2019
                                 図3−安定化回路の構成(B法)

3 試験片

  単板又は鋼帯から,各試験片を作製する。試験片の幅及び長さは,箇条4に規定する接触子アセンブリ
の幅及び長さよりも,それぞれ大きくする。この測定は破壊試験であり,接触子電極及びドリルを押し当
てた表面の同じ部分を,再度測定してはならない。
  代表的な結果を得るために,鋼帯の全幅から試験片を採取する。

4 測定装置

4.1 接触子アセンブリ

  試験片は,基板と接触子アセンブリとの間に圧力を加える。接触子アセンブリは,取付けブロック内に
垂直に取り付けられた10本のコイルばねとともに軸方向に移動できるように構成する。通常,これらの
10本の接触子棒は2列に配置するが,便宜的にこれらの10本の接触子棒を一列に配置してもよい。各々
の金属棒は,青銅又は他の適切な材料(例えば,ステンレス鋼)の接触子電極を備えるとともに,取り付
けている装置架台から電気的に絶縁する。
    注記1 接触子棒の軸と電極とを分割して間に鋼球を入れ,電極下面が自由に動くようにすることは,
            接触子電極と試験片との接触を改善する。
  10個の接触子電極は,各々64.5 mm2±1 %の接触面積をもち,10個の接触子電極で合計645 mm2±1 %
の接触面積とする。
  コイルばねで加圧した直径約3 mmのドリル2個を絶縁皮膜を貫通することによって,試験片金属部と
の電気的な接触を得る。
    注記2 装置の例を,附属書JAに示す。

4.2 電源供給

  電源供給は,次による。
− A法 接触子電極1個当たり0.1 A(10個の合計で1 A)の電流で,接触子電極間に500 mVの安定し
    た電圧を供給できる直流電源を使用する。
− B法 接触子電極1個当たり2.5 Aの電流で,接触子電極に250 mVの安定した電圧を供給できる直流

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