JIS C 2550-5:2020 電磁鋼帯試験方法―第５部：電磁鋼帯の抵抗率，密度及び占積率の測定方法

                                                                                 C 2550-5 : 2020

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 抵抗率の測定・・・・[2]
•  4.1 一般事項・・・・[2]
•  4.2 測定原理・・・・[2]
•  4.3 試験片・・・・[5]
•  4.4 測定装置・・・・[5]
•  4.5 測定手順・・・・[6]
•  4.6 再現性・・・・[6]
•  4.7 試験報告書・・・・[6]
•  5 密度の測定・・・・[7]
•  5.1 一般事項・・・・[7]
•  5.2 抵抗率測定に基づく方法(D1法)・・・・[7]
•  5.3 ガスピクノメータ法(D2法)・・・・[9]
•  5.4 試験報告書・・・・[10]
•  6 占積率の測定・・・・[10]
•  6.1 一般事項・・・・[10]
•  6.2 試験片・・・・[10]
•  6.3 測定手順・・・・[10]
•  6.4 再現性・・・・[11]
•  6.5 試験報告書・・・・[11]
•  附属書A(参考)長方形単板試験片を使用する抵抗率測定装置の例(R2法)・・・・[12]
•  附属書B(参考)ガスピクノメータ法による密度測定の例(D2法)・・・・[13]
•  附属書C(参考)けい素及びアルミニウム成分による密度計算式(D4法)・・・・[16]
•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[17]

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――――― [JIS C 2550-5 pdf 1] ―――――

C 2550-5 : 2020

まえがき

  この規格は,産業標準化法第16条において準用する同法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人
日本電機工業会(JEMA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,産業標準原案を添えて日本産業規
格を改正すべきとの申出があり,日本産業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本産業規
格である。これによって,JIS C 2550-5:2011は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 2550の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 2550-1 第1部 : エプスタイン試験器による電磁鋼帯の磁気特性の測定方法
    JIS C 2550-2 第2部 : 寸法・形状の測定方法
    JIS C 2550-3 第3部 : 中間周波磁気特性の測定方法
    JIS C 2550-4 第4部 : 表面絶縁抵抗の測定方法
    JIS C 2550-5 第5部 : 電磁鋼帯の抵抗率,密度及び占積率の測定方法

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                                       日本産業規格                             JIS
                                                                           C 2550-5 : 2020

電磁鋼帯試験方法−第5部 : 電磁鋼帯の抵抗率,密度及び占積率の測定方法

Test methods for electrical steel strip and sheet-Part 5: Methods of measurement of resistivity, density andstacking factor of electrical steel strip and sheet

序文

  この規格は,2018年に第2版として発行されたIEC 60404-13を基とし,我が国で一般的となっている
技術と整合させるため,技術的内容を変更して作成した日本産業規格である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 適用範囲

  この規格は,電磁鋼帯の抵抗率,密度及び占積率の測定方法について規定する。これらの測定量は,材
料の特性を証明するために必要である。また,密度は磁気分極の規定値,抵抗率及び占積率を求めるため
に必要である。
  測定は,(23±5)℃の周囲温度において行う。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 60404-13:2018,Magnetic materials−Part 13: Methods of measurement of resistivity, density and
              stacking factor of electrical steel strip and sheet(MOD)
            なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
          ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 2550-1 電磁鋼帯試験方法−第1部 : エプスタイン試験器による電磁鋼帯の磁気特性の測定方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60404-2,Magnetic materials−Part 2: Methods of measurement of the magnetic
             properties of electrical steel strip and sheet by means of an Epstein frame
    JIS C 2556 単板試験器による電磁鋼帯の磁気特性の測定方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60404-3,Magnetic materials−Part 3: Methods of measurement of the magnetic
             properties of electrical steel strip and sheet by means of a single sheet tester
    ISO 1183-3,Plastics−Methods for determining the density of non-cellular plastics−Part 3: Gas pyknometer

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2
C 2550-5 : 2020
        method
    IEC 60050-121,International Electrotechnical Vocabulary−Part 121: Electromagnetism
    IEC 60050-221,International Electrotechnical Vocabulary−Part 221: Magnetic materials and components

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,IEC 60050-121,IEC 60050-221及びISO 1183-3によるほか,次
による。
3.1
抵抗率(resistivity)
  単位断面積及び単位長さの導体の電気抵抗。
3.2
密度(density)
  試料の質量と体積との比。
3.3
占積率(stacking factor)
  積層した電磁鋼帯における合計断面積の見掛け断面積に対する比。

4 抵抗率の測定

4.1 一般事項

  この規格では,エプスタイン試験片を使用する方法(R1法)及び長方形の単板試験片を使用する方法(R2
法)の二つの抵抗率決定方法を規定する。
    注記 R2法は,二次元等角写像理論に基づくvan-der-Pauw(VDP)法に基づいている。均一な厚さの
          任意形状の物体に対し,四つの電極間の電圧と電流との比から抵抗率を得る公式が成立する。
          この公式は,試験片形状と電極の位置とが対称な場合,単純化できる。R2法は,長方形の単板
          試験片に適している。
  厚さを含めた試験片の形状寸法測定に基づく抵抗率ρの決定方法は,全ての種類の試験片に適用するこ
とが可能である。しかし,5.2で規定する密度ρmの決定に使用する場合は,5.1で規定する電磁鋼帯に限定
する。

4.2 測定原理

4.2.1  エプスタイン試験片を使用する測定方法(R1法)
  エプスタイン試験片の抵抗率を測定する回路は,図1に示すように接続する。二つの電流接点A及びB
は,電流が試験片の長辺方向に均一に流れるよう,試験片の両端に配置する。電位接点C及びDは,電流
接点AとBとの間にあり,かつ,試験片長軸上のエッジにあるよう配置する。試験片の切断エッジで電気
的に接触するため,酸化物,その他の絶縁皮膜などを除去する必要はない。

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                                                                                              3
                                                                                 C 2550-5 : 2020
                                                                試験片
                           電源
                    A, B : 電流接点
                    C, D : 電位接点
                    A1
                    A1  : 直流電流計
                    V1
                    V1  : 直流電圧計
                    le  : CD間長さ
                    IAB  : AB間電流
                    S   : 電流反転スイッチ
                    UCD : 電位接点CD間の電圧
                       図1−エプスタイン試験片の抵抗率測定回路(R1法)
  電流が試験片の中を均一に流れる場合,エプスタイン試験片の二つの接触点間の抵抗値Rは,式(1)から
算出する。
                            UCD
                         R        (1)
                             IAB
                      ここに,         R :  電位接点CD間の抵抗値(Ω)
                                     UCD :  電位接点CD間の電圧(V)
                                      IAB :  電流接点AB間の電流(A)
  抵抗率ρは,式(2)から算出する。
                            Rbd
                              el

(pdf 一覧ページ番号 )

                      ここに,         ρ :  抵抗率(Ω・m)
                                       R :  電位接点CD間の抵抗値(Ω)
                                       b :  試験片の幅(m)
                                       d :  絶縁被膜を除いた試験片の厚さ(m)
                                       le :  電位接点CD間の長さ(m)
4.2.2  長方形単板試験片を使用する測定方法(R2法)
  長方形の単板試験片の抵抗率を測定する回路は,図2に示すように接続する。四つの電気接点A,B,C
及びDは,試験片のそれぞれの辺の中心に配置する。接点A,B,C及びDと試験片との接触部は,でき
る限り小さくする。接点AB間の電流を測定し,接点CD間の電圧を測定する。試験片の切断エッジで電
気的に接触するため,酸化物,その他の絶縁皮膜などを除去する必要はない。

――――― [JIS C 2550-5 pdf 5] ―――――

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