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C 2553 : 2019
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
国際 の評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
規格
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
番号
及び題名 番号 の評価
11 購入者 発注時に購入者が提 11 箇条11のj) で8.1を引用 削除 JISでは,ISO 404に基づく検査を 我が国での一般的な取引によっ
が発注時に 供すべき情報を規定 し,ISO 404に基づく検査 伴う発注,及びISO 1047に基づく た。IEC規格の修正提案の予定は
提供する情 を伴う発注,及びISO 1047 検査書類についての記載事項を削 なし。
報 に基づく検査書類の種類 除している。
について言及している。
− 11 箇条11のl) で表2注記を 削除 JISでは,高磁束密度材,又は磁区IEC規格は,高磁束密度材と磁区
引用し,高磁束密度材,又 制御材であることを示す記載事項 制御材とが異なる記号となるよう
は磁区制御材であること を削除している。 改正される予定。
を示すよう言及している。
12 試験成 試験成績表について − − 追加 JISでは,従来からのJISに従い試 IEC規格では,試験方法の規格に
績表 規定 験成績表及び記載すべき内容につ 記載しているが,関連JISでは,
いて規定した。 試験方法の規格になじまないとい
う理由で除外している。このため,
この規格では規定した。IEC規格
の修正提案の予定はなし。
附属書JA 対応国際規格の種類 − 追加 JISの種類を表す記号とIEC規格の 種類の表し方の問題であり,内容
(参考) の記号 記号の対応を追加した。 に違いはない。IEC規格の修正提
案の予定はなし。
附属書JB 繰返し曲げ試験方法 − − 追加 IEC規格の修正を提案する。
IEC規格(8.4.4.2)では,ISO 7799
(規定) 及び試験機器仕様 を採用しているが,この規格では,
JIS C 2550:2000で活用していた規
定に置き換えた。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 60404-8-7:2017,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 削除 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
C2
− 追加 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
5
− 変更 国際規格の規定内容を変更している。
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注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
0
− MOD 国際規格を修正している。
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