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C 2570-2 : 2015
ゼロ負荷抵抗値の変化率は,±5 %以下とする。
4.13 固着性
固着性試験は,JIS C 2570-1の4.27(固着性)の規定による。
4.14 耐プリント板曲げ性
耐プリント板曲げ性試験は,JIS C 2570-1の4.28(耐プリント板曲げ性)の規定によるほか,次による。
− 曲げ深さ及び曲げの回数は,個別規格に規定する。
− ゼロ負荷抵抗値の変化率は,±5 %以下とする。
4.15 部品の耐溶剤性
部品の耐溶剤性試験は,JIS C 2570-1の4.29(部品の耐溶剤性)の規定によるほか,次による。
− ゼロ負荷抵抗値は,4.4.1の規定によって,試験の前後に測定する。ゼロ負荷抵抗値の変化率は,±5 %
以下とする。
− 試験後,外観は,適切な照明の下,約10倍の拡大鏡を用いて検査する。外観に,クラックなどの損傷
があってはならない。
4.16 表示の耐溶剤性
表示の耐溶剤性試験は,JIS C 2570-1の4.30(表示の耐溶剤性)の規定による。
4.16A 低温(耐寒性)
低温(耐寒性)試験は,JIS C 2570-1の4.23[低温(耐寒性)]の規定によるほか,次による。
− 後処理後,外観検査を実施し,ゼロ負荷抵抗値を測定する。
外観は,適切な照明の下,約10倍の拡大鏡を用いて検査する。外観に,クラックなどの損傷があっ
てはならない。
ゼロ負荷抵抗値の変化率は,±5 %以下とする。
4.16B 高温(耐熱性)
高温(耐熱性)試験は,JIS C 2570-1の4.24[高温(耐熱性)]の規定によるほか,次による。
− 後処理後,外観検査を実施し,ゼロ負荷抵抗値を測定する。
外観は,適切な照明の下,約10倍の拡大鏡を用いて検査する。外観に,クラックなどの損傷があっ
てはならない。
ゼロ負荷抵抗値の変化率は,±5 %以下とする。
――――― [JIS C 2570-2 pdf 16] ―――――
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C 2570-2 : 2015
附属書A
(規定)
表面実装形NTCサーミスタの寸法記号及び規定に関する指針
表面実装形NTCサーミスタの寸法を規定する場合,図A.1に示す原則を考慮することが望ましい。また,
寸法は表A.1に規定する。
図A.1−表面実装形NTCサーミスタの寸法決定
電極端面は金属で被覆しなければならない。電極側面を金属で被覆することについては,製造業者が任
意に選択できる。
寸法Wは,寸法L1以下とすることが望ましい。
寸法Hは,寸法W以下とすることが望ましい。
必要がある場合は,めっきの厚さを規定することが望ましい。
表A.1−表面実装形NTCサーミスタの寸法
単位 mm
寸法記号 本体長さL1 本体幅W 電極幅L2及びL3 電極幅L4
(最小値) (最小値)
0603 M 0.6±0.05 0.3±0.05 0.1 0.15
1005 M 1.0±0.15 0.5±0.15 0.1 0.25
1608 M 1.6±0.15 0.8±0.15 0.2 0.35
2012 M 2.0±0.2 1.25±0.2 0.2 0.50
3216 M 3.2±0.2 1.6±0.2 0.3 1.4
3225 M 3.2±0.2 2.5±0.3 0.4 1.4
その他の寸法記号及び寸法は,個別規格に規定してもよい。
――――― [JIS C 2570-2 pdf 17] ―――――
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C 2570-2 : 2015
附属書JA
(参考)
JISと対応国際規格との対比表
IEC 60539-2:2003,Directly heated negative temperature coefficient thermistors−Part 2:
JIS C 2570-2:2015 直熱形NTCサーミスタ−第2部 : 品種別通則−表面実装形
NTCサーミスタ Sectional specification−Surface mount negative temperature coefficient thermistors及び
Amendment 1:2010
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差異の理
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの評価及
国際 びその内容 由及び今後の対策
規格
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
番号
及び題名 番号 の評価
1.1 適用範囲 1.1 JISとほぼ同じ 追加 JIS C 2570-1の附属書Qに従うため注記を IECへ追加提案をする。
追加した。
3 品質評価手順 3 JISとほぼ同じ 追加 JIS C 2570-1の附属書Qに従うため内容の IECへ追加提案をする。
改正を実施した。
4.3 外観検査及び寸 4.3 JISとほぼ同じ 追加 図3に図示されているクラックに関する記 IECへ追加提案をする。
法検査 載が抜けているため,JISとして追加した。
4.10 一連耐候性 4.10 一連耐候性 削除 JISでは,IEC 60539-1(GS)において4.10IEC 60539-2から4.10を削除するよう
が削除となっていることから削除とした。にIECに提案していく。4.10の削除に
伴い,低温及び高温の追加を提案する。
4.16A 低温(耐寒性) − − 追加 4.10一連耐候性を削除されていることからIECへ追加提案をする。
必要な低温試験を追加とした。
4.16B 高温(耐熱性) − − 追加 4.10一連耐候性を削除されていることからIECへ追加提案をする。
必要な高温試験を追加とした。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : (IEC 60539-2:2003,Amd.1:2010,MOD)
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
C2
− 削除 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
5
− 追加 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
70-
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
2 : 2
− MOD 国際規格を修正している。
015
2
JIS C 2570-2:2015の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60539-2:2003(MOD)
- IEC 60539-2:2003/AMENDMENT 1:2010(MOD)
JIS C 2570-2:2015の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 2570-2:2015の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称