JIS C 2570-2:2015 直熱形ＮＴＣサーミスタ―第２部：品種別通則―表面実装形ＮＴＣサーミスタ

                                                                                 C 2570-2 : 2015

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 一般事項・・・・[1]
•  1.1 適用範囲・・・・[1]
•  1.2 引用規格・・・・[1]
•  1.3 個別規格に規定する事項・・・・[2]
•  1.4 用語及び定義・・・・[3]
•  2 推奨定格及び特性・・・・[3]
•  2.1 ゼロ負荷抵抗値の許容差・・・・[3]
•  2.2 耐候性カテゴリ・・・・[3]
•  3 品質評価手順・・・・[3]
•  3.1 製造の初期工程・・・・[3]
•  3.2 構造的に類似な表面実装形NTCサーミスタ・・・・[3]
•  3.3 品質認証手順・・・・[3]
•  3.4 品質確認検査・・・・[3]
•  3.5 品質確認検査・・・・[5]
•  4 試験及び測定手順・・・・[7]
•  4.1 取付け・・・・[7]
•  4.2 乾燥及び後処理・・・・[7]
•  4.3 外観検査及び寸法検査・・・・[7]
•  4.4 電気的試験・・・・[9]
•  4.5 熱的試験・・・・[9]
•  4.6 はんだ耐熱性・・・・[10]
•  4.7 はんだ付け性・・・・[10]
•  4.8 温度急変・・・・[11]
•  4.9 二液槽温度急変・・・・[11]
•  4.10 一連耐候性・・・・[11]
•  4.11 高温高湿(定常)・・・・[11]
•  4.12 耐久性・・・・[12]
•  4.13 固着性・・・・[13]
•  4.14 耐プリント板曲げ性・・・・[13]
•  4.15 部品の耐溶剤性・・・・[13]
•  4.16 表示の耐溶剤性・・・・[13]
•  4.16A 低温(耐寒性)・・・・[13]
•  4.16B 高温(耐熱性)・・・・[13]
•  附属書A(規定)表面実装形NTCサーミスタの寸法記号及び規定に関する指針・・・・[14]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 2570-2 pdf 1] ―――――

C 2570-2 : 2015

pdf 目次

ページ

•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[15]

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 2570-2 pdf 2] ―――――

                                                                                 C 2570-2 : 2015

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子
情報技術産業協会(JEITA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。これによって,JIS C 2570-2:2008は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 2570の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 2570-1 第1部 : 品目別通則
    JIS C 2570-2 第2部 : 品種別通則−表面実装形NTCサーミスタ

(pdf 一覧ページ番号 3)

――――― [JIS C 2570-2 pdf 3] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           C 2570-2 : 2015

直熱形NTCサーミスタ−第2部 : 品種別通則−表面実装形NTCサーミスタ

Directly heated negative temperature coefficient thermistors-Part 2: Sectional specification-Surface mount negative temperature coefficient thermistors

序文

  この規格は,2003年に第1版として発行されたIEC 60539-2及びAmendment 1(2010)を基とし,親規
格JIS C 2570-1の改正に整合化するため,技術的内容を変更して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 一般事項

1.1 適用範囲

  この規格は,半導体特性をもつ遷移金属酸化物によって作られる直熱形の表面実装形負温度係数サーミ
スタ(以下,表面実装形NTCサーミスタという。)について規定する。これらの表面実装形NTCサーミス
タは,接続用パッド又ははんだ付け端子を電極にもち,混成集積回路用基板又はプリント配線板上に直接
取り付けることを目的としている。
    注記1 この規格は,表面実装形NTCサーミスタの特性について規定するものであるが,その特性に
            関わる規定は,設計の目標値を示すものであり,この規格によって適合性評価を実施するこ
            とは,意図していない。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 60539-2:2003,Directly heated negative temperature coefficient thermistors−Part 2: Sectional
                specification−Surface mount negative temperature coefficient thermistors及びAmendment
                1:2010(MOD)
              なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
            ことを示す。

1.2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。
    JIS C 2570-1:2015 直熱形NTCサーミスタ−第1部 : 品目別通則
      注記1 対応国際規格 : IEC 60539-1:2002,Directly heated negative temperature coefficient thermistors
              −Part 1: Generic specification(MOD)

――――― [JIS C 2570-2 pdf 4] ―――――

2
C 2570-2 : 2015
      注記2 IEC 60539-1は,2008年版に改正されており,このIEC規格でJIS化された。
    JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部 : 電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式
        の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
    JIS C 60068-2-2:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-2部 : 高温(耐熱性)試験方法(試験記号 : 
        B)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-2:1974,Basic environmental testing procedures−Part 2: Tests−Tests
             B: Dry heat, Amendment 1:1993及びAmendment 2:1994(MOD)
    JIS C 60068-2-14:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-14部 : 温度変化試験方法(試験記号 : N)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-14:1984,Basic environmental testing procedures−Part 2-14: Tests−
             Test N: Change of temperature及びAmendment 1:1986(MOD)
    JIS C 60068-2-58:2006 環境試験方法−電気・電子−表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の
        耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-58:2004,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test
             methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface
             mounting devices (SMD)(MOD)
    JIS C 60068-2-78:2015 環境試験方法−電気・電子−第2-78部 : 高温高湿(定常)試験方法(試験記
        号 : Cab)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-78,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp heat,
             steady state(IDT)

1.3 個別規格に規定する事項

  個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。
  個別規格には,品目別通則,品種別通則又はブランク個別規格の要求事項よりも低い水準の要求事項を
規定してはならない。より厳しい要求事項を含む場合,個別規格の1.9(品目別通則及び/又は品種別通則
への追加又はより厳しい要求事項)の中に記載し,更に試験計画の中に,例えば,アスタリスク(*)を付
けて明示する。
    注記1 1.3.1の外形図及び寸法は,一覧表で示してもよい。
              1.3.11.3.3の情報は,個々の個別規格に規定し,引用する値は,この規格の該当する項目
            の中から選択する。
    注記2 個別規格の箇条構成は,1.0(適用範囲),1.1(推奨する取付方法),1.2(寸法),1.3(定格及
            び特性),1.4(引用規格),1.5(表示),1.6(発注情報),1.7(出荷対象ロットの成績証明書)
            1.8(追加情報),及び1.9(品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事
            項)である。
1.3.1  外形図及び寸法
  外形図及び寸法は,その他の表面実装形NTCサーミスタとの比較及び区分が容易にできるように図示す
る。表面実装形NTCサーミスタの互換性及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定す
る。また,全ての寸法は,ミリメートル(mm)で規定する。
  寸法表示は,本体の長さ,幅及び高さを規定する。多種の表面実装形NTCサーミスタを一つの個別規格
に規定する場合,図面の下に寸法及び寸法許容差を表で示す。
  構造が異なる場合,その表面実装形NTCサーミスタを適切に表す寸法情報を個別規格に規定する。

――――― [JIS C 2570-2 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6