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C 2570-2 : 2015
1.3.2 取付け
個別規格には,通常使用における取付方法を規定する。試験及び測定のための取付方法(必要がある場
合)は,JIS C 2570-1の4.4(取付け)の規定による。
1.3.3 定格及び特性
1.3.3.1 特別な特性
表面実装形NTCサーミスタの設計及び用途目的に応じ,表面実装形NTCサーミスタに必要となる追加
の特性を規定してもよい。
1.3.3.2 表示
JIS C 2570-1の2.4(表示)の規定による。
1.4 用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 2570-1の2.2(用語及び定義)の規定による。
2 推奨定格及び特性
2.1 ゼロ負荷抵抗値の許容差
ゼロ負荷抵抗値の許容差は,次の中から選択する。
±1 %,±2 %,±3 %,±5 %及び±10 %
2.2 耐候性カテゴリ
耐候性カテゴリの構成要素であるカテゴリ上限温度,カテゴリ下限温度及び高温高湿(定常)試験の試
験日数を,表1の中から選択する。
表1−カテゴリ上限温度,カテゴリ下限温度及び高温高湿(定常)試験の試験日数
カテゴリ上限温度 ℃ 70,85,100,105,125,150,155
カテゴリ下限温度 ℃ −55,−40,−25,−10,−5,+5
試験日数 日 21,42,56
個別規格には適切な耐候性カテゴリを規定する。
3 品質評価手順
3.1 製造の初期工程
製造の初期工程は,材料の初期混合工程と定義する。
3.2 構造的に類似な表面実装形NTCサーミスタ
表面実装形NTCサーミスタは,次の追加事項とともに,JIS C 2570-1のQ.3(構造的に類似なNTCサ
ーミスタ)の要求事項を満足する場合,検査ロットの構成として,構造的に類似な群として分類してもよ
い。
− 固着性及び耐プリント板曲げ性試験に対して,同じ製造ラインで製造し,同じ寸法,内部構造及び出
来栄え(外観を含む。)をもつ場合
3.3 品質認証手順
製造業者は,JIS C 2570-1のQ.4(品質認証手順)の規定によって品質認証手順を適用する。
3.4 品質確認検査
この規格に関連するブランク個別規格は,品質確認検査に対する試験計画を規定する。
この試験計画は,ロットごとの検査及び定期検査に対する群分け,抜取り及び検査の周期も規定する。
――――― [JIS C 2570-2 pdf 6] ―――――
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C 2570-2 : 2015
検査水準及び抜取方式は,JIS C 5005-2に規定する中から選択する。
要求がある場合,複数の試験計画を規定してもよい。
3.4.1 定数抜取手順に基づく品質認証
品質認証は,次による。
a) 抜取り 抜取サンプルは,認証を得ようとする表面実装形NTCサーミスタの特性範囲を代表できるも
のとするが,個別規格に規定する全ての範囲でなくてもよい。
抜取サンプルは,外形寸法ごとに,ゼロ負荷抵抗値の最小値,最大値及び中間値をもつ表面実装形
NTCサーミスタで構成する。
予備試料は,それぞれ3個として,製造業者の責任ではない事故(試験中の取扱いなどでの損傷)
によって供試試料が損傷した場合,それらを代用してもよい。
b) 試験 個別規格に規定する表面実装形NTCサーミスタの品質認証のために,表2に規定する一連の試
験を実施する。各群の試験は,記載の順序で実施する。
全ての抜取サンプルに対して,群0の試験を実施して,その後にその他の群に分割する。
群0の試験で判明した不適合品は,その他の群の試験に用いない。表面実装形NTCサーミスタが,
ある群の試験の全て又は一部を満足できない場合,その表面実装形NTCサーミスタを一つの不適合品
として数える。
不適合の数が,群又は副群ごとに規定する許容不適合数を超えない場合,試験は合格とする。
定数抜取手順に基づく試験計画の試験条件及び要求事項は,個別規格に規定する品質確認検査のた
めの試験条件及び要求事項と同じとする。
――――― [JIS C 2570-2 pdf 7] ―――――
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表2−表面実装形NTCサーミスタの品質認証における定数抜取試験計画 評価水準EZ
群 試験 この規格の 試験条件及び要求事項 n a) b)
細分箇条番号
0 外観検査 4.3.1 4.3.14.3.2の規定による。 90 0
表示 4.3.3
寸法(ゲージによる) 4.3.4 要求事項は,表A.1による。
ゼロ負荷抵抗値 4.4.1
1 寸法(詳細) 4.3.4 要求事項は,表A.1による。 10 0
B定数 4.4.2 個別規格から選択する。
抵抗−温度特性 4.4.3 個別規格に規定する温度で測定する。
はんだ耐熱性−はんだ食われ性 4.6 4.6の規定による。
2 はんだ付け性 4.7 4.7.14.7.3の規定による。 10 0
表示の耐溶剤性 4.16
3 はんだ耐熱性−はんだはじき 4.6 4.6.14.6.4の規定による。 10 0
部品の耐溶剤性 4.15
4 取付け 4.1 60 0
外観検査 4.3.1
ゼロ負荷抵抗値 4.4.1
4.1 熱放散定数 4.5.1 10 0
自己発熱からの冷却による熱時定数( 4.5.2
4.2 固着性 4.13 10 0
温度急変 4.8
二液槽温度急変 4.9
高温(耐熱性) 4.16B
低温(耐寒性) 4.16A
4.3 高温高湿(定常) 4.11 10 0
4.4 T3及びPmaxにおける耐久性 4.12.1 10 0
4.5 カテゴリ上限温度における耐久性 4.12.2 10 0
5 耐プリント板曲げ性 4.14 10 0
注a) 試料数
b) 合格判定数(許容不適合数)
3.5 品質確認検査
3.5.1 検査ロットの構成
検査ロットの構成は,個別規格又はブランク個別規格の規定によって,次の群A及び群B検査,並びに
群C検査からなる。
a) 群A及び群B検査
これらの検査は,ロットごとに実施する。
製造業者は,次の事項を満足する,工程を流れている製品を検査ロットとしてもよい。
1) 検査ロットは,構造的に類似な表面実装形NTCサーミスタで構成する(3.2参照)。
2) 群Aの試験に用いる抜取サンプルは,その検査ロットに含まれる定格値及び外形寸法を代表する表
面実装形NTCサーミスタによって,次のように構成する。
− 定格値及び外形寸法の数に応じて規定する。
− 一つの組合せ当たり5個以上とする。
3) 一つの組合せ当たりの抜取数が4個以下の場合,製造業者は国内監督検査機関から承認を受ける。
b) 群C検査
――――― [JIS C 2570-2 pdf 8] ―――――
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これらの検査は,定期的に実施する。
抜取サンプルは,規定する期間に工程を流れている製品を代表するものとし,外形寸法を大,中及び小
に分類する。規定する期間での認証範囲を対象とするためには,外形寸法の分類ごとに,一つの定格ゼロ
負荷抵抗値のものを検査する。全認証範囲を対象とするために,その後の期間において,その他の外形寸
法及び定格ゼロ負荷抵抗値を検査する。
3.5.2 試験計画
品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は,ブランク個別規格
に規定する表4の規定による。
3.5.3 長期保管後の出荷
長期保管後の出荷のため,JIS C 2570-1のQ.7(長期保管後の出荷)に規定する手順によって再検査を
実施する場合,はんだ付け性及びゼロ負荷抵抗値に対して,群A及び群B検査を実施する。
3.5.4 評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は,表3及び表4に規定する評価水準EZとする。
表3−ロットごとの品質確認検査
検査副群d) 評価水準EZ
IL a) n a) c a)
A0 100 % b)
c)
A1 S-4 0
c)
A2 II 0
c)
B1 S-3 0
c)
B2 S-2 0
注a) L=検査水準,n=抜取サンプル数,c=合格判定数(許容不適合数)
b) この検査は,工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に実施する抜取試料による検査である。検
査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するために,全ての抜取サンプルを検査する。
抜取水準は,製造業者が選定する。その場合,JIS C 5005-2の附属書A[信頼水準60 %における100万個当
たりの不適合品率(ppm)で示す統計的工程品質限界(SVQL)の推定]によることが望ましい。抜取試料中
に1個以上の不適合を発見した場合には,このロットは不合格とするが,品質水準を算出するために,不適
合品の数を全て数える。ppmで示す出荷品質水準は,JIS C 5005-2の6.2(SVQLの算出)に規定する方法に
よって,累積した検査データから算出する。
c) 試料数は,JIS C 5005-2の4.3.2(なみ検査による抜取検査方式)の規定によって決定する。
d) 検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条2の規定による。
表4−定期的品質確認検査
検査副群b) 評価水準EZ
p a) n a) c a)
C1 3 12 0
C2 3 12 0
C3.1 6 27 0
C3.2 6 15 0
C3.3 3 15 0
C3.4 6 15 0
C4 6 9 0
注a) =周期(月),n=抜取サンプル数,c=合格判定数(許容不適合数)
b) 検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条2の規定による。
――――― [JIS C 2570-2 pdf 9] ―――――
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C 2570-2 : 2015
4 試験及び測定手順
4.1 取付け
JIS C 2570-1の4.4(取付け)の規定による。
4.2 乾燥及び後処理
4.2.1 乾燥
乾燥が必要な場合,表面実装形NTCサーミスタを,次の方法で処理する。
表面実装形NTCサーミスタを,温度100 ℃±5 ℃の槽内で96時間±4時間放置し,その後,活性アル
ミナ,シリカゲルなどの適切な乾燥剤を用いて,規定する試験を開始するまで,デシケータの中で保管す
る。
4.2.2 後処理
後処理は,個別規格に規定がない場合,JIS C 2570-1の4.2(標準試験状態)に規定する標準試験状態を
用いる。
4.3 外観検査及び寸法検査
4.3.1 外観検査
外観は,試料及び要求する品質基準のために,適切な照明の下で,約10倍の拡大鏡を用いて検査する。
注記 検査には,適切な測定設備に加えて,直接又は間接照明の設備を用意することが望ましい。
4.3.2 要求事項
次の要求事項に対する定量的な値は,個別規格又は製造業者の仕様書に規定してもよい。
表面実装形NTCサーミスタは,次の要求事項を満足しなければならない。
4.3.2.1 セラミック部
a) 単板タイプ
1) ガラスコートは,寸法L4(図A.1参照)の25 %以上の長さの亀裂,及び全ての面のいずれもに10 %
以上の面積の欠損があってはならない(図1参照)。
注記 角の亀裂及び面上の欠損
図1−亀裂又は欠損
2) 表面実装形NTCサーミスタの特性に影響しない僅かなものを除き,表面にクラック(図2参照)が
あってはならない。
――――― [JIS C 2570-2 pdf 10] ―――――
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JIS C 2570-2:2015の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60539-2:2003(MOD)
- IEC 60539-2:2003/AMENDMENT 1:2010(MOD)
JIS C 2570-2:2015の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 2570-2:2015の関連規格と引用規格一覧
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