JIS C 2570-2:2021 直熱形ＮＴＣサーミスタ―第２部：品種別通則―表面実装形ＮＴＣサーミスタ

                                                                                 C 2570-2 : 2021

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 個別規格に規定する事項・・・・[2]
•  4.1 一般事項・・・・[2]
•  4.2 外形図及び寸法・・・・[3]
•  4.3 取付け・・・・[3]
•  4.4 定格及び特性・・・・[3]
•  5 推奨定格及び特性・・・・[3]
•  5.1 定格ゼロ負荷抵抗値の許容差・・・・[3]
•  5.2 耐候性カテゴリ・・・・[3]
•  6 品質評価手順・・・・[4]
•  7 試験及び測定手順・・・・[4]
•  7.1 取付け・・・・[4]
•  7.2 乾燥及び後処理・・・・[4]
•  7.3 外観及び寸法の検査・・・・[4]
•  7.4 電気的試験・・・・[7]
•  7.5 熱的試験・・・・[7]
•  7.6 はんだ耐熱性・・・・[7]
•  7.7 はんだ付け性・・・・[8]
•  7.8 温度急変・・・・[9]
•  7.9 二液槽温度急変・・・・[9]
•  7.10 高温高湿(定常)・・・・[10]
•  7.11 耐久性・・・・[10]
•  7.12 固着性・・・・[11]
•  7.13 耐プリント板曲げ性・・・・[11]
•  7.14 部品の耐溶剤性・・・・[11]
•  7.15 表示の耐溶剤性・・・・[11]
•  7.15A 低温(耐寒性)・・・・[11]
•  7.15B 高温(耐熱性)・・・・[11]
•  附属書A(規定)表面実装形NTCサーミスタの寸法記号及び規定に関する指針・・・・[12]
•  附属書B(規定)品質評価手順・・・・[13]
•  附属書JA(規定)直熱形NTCサーミスタの測定のための取付方法・・・・[17]
•  附属書JB(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[19]

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――――― [JIS C 2570-2 pdf 1] ―――――

           C 2570-2 : 2021

まえがき

  この規格は,産業標準化法第16条において準用する同法第14条第1項の規定に基づき,認定産業標準
作成機関である一般財団法人日本規格協会(JSA)から,産業標準の案を添えて日本産業規格を改正すべ
きとの申出があり,経済産業大臣が改正した日本産業規格である。これによって,JIS C 2570-2:2015は
改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実用新案権に関わる確認に
ついて,責任はもたない。
  JIS C 2570規格群(直熱形NTCサーミスタ)は,次に示す部で構成する。
    JIS C 2570-1 第1部 : 品目別通則
    JIS C 2570-2 第2部 : 品種別通則−表面実装形NTCサーミスタ

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――――― [JIS C 2570-2 pdf 2] ―――――

                                      日本産業規格                            JIS
                                                                           C 2570-2 : 2021

直熱形NTCサーミスタ−第2部 : 品種別通則−表面実装形NTCサーミスタ

Directly heated negative temperature coefficient thermistors-Part 2: Sectional specification-Surface mount negative temperature coefficient thermistors

序文

  この規格は,2019年に第2版として発行されたIEC 60539-2を基に,技術的内容を変更して作成した日
本産業規格である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。
技術的差異の一覧表にその説明を付けて,附属書JBに示す。

1 適用範囲

  この規格は,半導体特性をもつ遷移金属酸化物によって作られる直熱形の表面実装形負温度係数サーミ
スタ(以下,表面実装形NTCサーミスタという。)について規定する。これらの表面実装形NTCサーミス
タは,接続用パッド又ははんだ付け端子を電極にもち,ハイブリッド回路用基板又はプリント配線板上に
直接取り付けることを意図する
  注記1 この規格は,表面実装形NTCサーミスタの特性について規定するものであるが,その特性に関
          わる規定は,設計の目標値を示すものであり,この規格によって適合性評価を実施することは,
          意図していない。
  注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 60539-2:2019,Directly heated negative temperature coefficient thermistors−Part 2: Sectional
              specification-Surface mount negative temperature coefficient thermistors(MOD)
            なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる引用規格は,この規格に引用されることによって,その一部又は全部がこの規格の要求事項
を構成している。これらの引用規格のうち,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その
後の改正版(追補を含む。)は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)
を適用する。
    JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部 : 電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式
        の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)

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C 2570-2 : 2021
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 61193-2:2007,Quality assessment systems−Part 2:
             Selection and use of sampling plans for inspection of electronic components and packages
    JIS C 60068-2-2:2010,環境試験方法−電気·電子−第2-2部 : 高温(耐熱性)試験方法(試験記号 : 
        B)
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 60068-2-2:2007,Environmental testing−Part 2-2: Tests 
            Tests B: Dry heat
    JIS C 60068-2-14:2011,環境試験方法−電気·電子−第2-14部 : 温度変化試験方法(試験記号 : N)
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 60068-2-14:2009,Environmental testing−Part 2-14: Tests
            −Test N: Change of temperature
    JIS C 60068-2-58:2020,環境試験方法−電気·電子−第2-58部 : 表面実装部品(SMD)のはんだ付け
        性,電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 60068-2-58:2015+AMD1:2017,Environmental testing−
            Part 2-58: Tests−Test Td: Test methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and
             to soldering heat of surface mounting devices (SMD)
    JIS C 60068-2-78 環境試験方法−電気·電子−第2-78部 : 高温高湿(定常)試験方法(試験記号 : 
        Cab)
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 60068-2-78,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test
            Cab: Damp heat, steady state
    JIS C 62137-3:2014 電子実装技術−第3部 : はんだ接合部耐久性試験方法の選定指針
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 62137-3:2011,Electronics assembly technology−Part 3:
            Selection guidance of environmental and endurance test methods for solder joints
    IEC 60539-1:2016,Directly heated negative temperature coefficient thermistors−Part 1: Generic specification
      注記 この対応国際規格に対応するJIS C 2570-1:2015(直熱形NTCサーミスタ−第1部 : 品目別
             通則)とは,箇条番号に差異があるため,国際規格を引用した。

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,IEC 60539-1:2016による。

4 個別規格に規定する事項

4.1 一般事項

  個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。
  個別規格には,品目別通則,品種別通則又はブランク個別規格の要求事項よりも低い水準の要求事項を
規定してはならない。より厳しい要求事項を含む場合は,個別規格の1.9に記載し,更に試験計画の中に,
例えば,アスタリスク(*)を付けて明示する。
  4.2の外形図及び寸法は,一覧表で示してもよい。
  個別規格には,4.24.4の事項を規定し,引用する値は,この規格の該当する項目の中から選定するこ
とが望ましい。

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                                                                                 C 2570-2 : 2021

4.2 外形図及び寸法

  外形図及び寸法は,その他の表面実装形NTCサーミスタとの比較及び区分が容易になるように図示す
る。表面実装形NTCサーミスタの互換性及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定す
る。また,全ての寸法は,ミリメートル(mm)で規定する。
  寸法表示は,本体の長さ,幅及び高さを規定する。多種の表面実装形NTCサーミスタを一つの個別規格
に規定する場合,図面の下に寸法及び寸法許容差を表で示す。
  構造が異なる場合,その表面実装形NTCサーミスタを適切に表す寸法情報を個別規格に規定する。

4.3 取付け

  個別規格には,通常使用における取付方法を規定する。試験及び測定のための取付方法(必要がある場
合)は,IEC 60539-1:2016の5.4又は附属書JAによる。

4.4 定格及び特性

4.4.1 特別な特性
  表面実装形NTCサーミスタの設計及び用途目的に応じ,表面実装形NTCサーミスタに必要となる追加
の特性を規定してもよい。
4.4.2 表示
  IEC 60539-1:2016の4.3による。

5 推奨定格及び特性

5.1 定格ゼロ負荷抵抗値の許容差

  ゼロ負荷抵抗値の許容差の推奨値は,次による。
  ±0.5 %,±1 %,±2 %,±3 %,±5 %及び±10 %

5.2 耐候性カテゴリ

  耐候性カテゴリの構成要素であるカテゴリ上限温度,カテゴリ下限温度及び高温高湿(定常)試験の試
験期間を,表1から選定する。
           表1−カテゴリ上限温度,カテゴリ下限温度及び高温高湿(定常)試験の試験期間
                   カテゴリ下限温度 ℃ −55,−40,−25,−10,−5,+5
                   カテゴリ上限温度 ℃ +70,+85,+100,+105,+125,+150,
                                        +155,+175,+200,+250,+315,+400
                   試験期間 日         21,42,56
  個別規格には適切な耐候性カテゴリを規定する。

――――― [JIS C 2570-2 pdf 5] ―――――

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