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C 5101-11-1 : 2014 (IEC 60384-11-1 : 2008)
(7) 互換性の上で,重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は外形に関する国内又は国際規格の引用。
この図は,個別規格の附属書としてもよい。
(8) 適用範囲又は適用グループの範囲及び/又は評価水準
注記 個別規格に規定する評価水準は,JIS C 5101-11の3.5.4(評価水準)から選定する。このブラ
ンク個別規格の試験の群構成と同じ場合は,個別規格に複数の評価水準を規定してもよい。
(9) 重要な特性に関する参照データ
例 一般社団法人電子情報技術産業協会 (1) 個別規格番号 (2)
例 電子機器用固定コンデンサ (4)
例 JIS C 5101-11-1(ブランク個別規格番号)
第1部 : 品目別通則 (3) 個別規格の名称 (5)
JIS C 5101-1:2010 例 固定ポリエチレンテレフタレートフィルム
金属はく直流コンデンサ
構造の説明 (6)
外形図(表1参照) (7)
(第三角法) 評価水準 : EZ (8)
(規定寸法内であれば,外形は異なってもよい。)
注記 (1)(8) : 個別規格の識別及びコンデンサの識別を参照。
この個別規格で認証されたコンデンサの詳細な内容は,品質認証書(Qualification
approval certificate)に示されている。*
注* この記載は,IEC電子部品品質認証制度(IECQ)の場合に適用する。
(pdf 一覧ページ番号 )
注記 (9) は,コンデンサの識別による。
1 一般事項
1.0 適用範囲
この規格は,JIS C 5101-11を品種別通則とするブランク個別規格で,主に電子機器用の直流回路に用い
る固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデンサ(以下,コンデンサという。)の評価
水準EZについて規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 60384-11-1:2008,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 11-1: Blank detail
specification−Fixed polyethylene-terephthalate film dielectric metal foil d.c. capacitors−
Assessment level EZ(IDT)
なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき“一致している”こ
とを示す。
1.1 推奨する取付方法
JIS C 5101-11の1.4.2(取付け)による。
1.2 寸法
外形寸法記号及び寸法を,表1に示す。
――――― [JIS C 5101-11-1 pdf 6] ―――――
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C 5101-11-1 : 2014 (IEC 60384-11-1 : 2008)
表1−外形寸法記号及び寸法
単位 mm
寸法
外形寸法記号
φ L H d ···
注記1 外形寸法記号がない場合はこの表1を削除し,寸法を表2に記載して,それを表1とする。
注記2 寸法は,最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。
1.3 定格及び特性
公称静電容量範囲 (表2による。)
公称静電容量許容差
定格電圧 (表2による。)
カテゴリ電圧(個別規格に規定がある場合) (表2による。)
耐候性カテゴリ
定格温度
最大交流電圧(個別規格に規定がある場合)
誘電正接(tan
絶縁抵抗
表2−外形寸法と組み合わせた公称静電容量及び定格電圧の値
定格電圧 V
カテゴリ電圧a)
外形寸法 外形寸法 外形寸法 外形寸法
公称静電容量
nF又は
注a) 定格電圧と異なる場合。
1.4 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 5101-1:2010 電子機器用固定コンデンサ−第1部 : 品目別通則
注記 対応国際規格 : IEC 60384-1:2008,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:
Generic specification(IDT)
JIS C 5101-11:2014 電子機器用固定コンデンサ−第11部 : 品種別通則 : 固定ポリエチレンテレフタ
レートフィルム金属はく直流コンデンサ
注記 対応国際規格 : IEC 60384-11:2008,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 11:
Sectional specification−Fixed polyethylene-terephthalate film dielectric metal foil d.c. capacitors
(IDT)
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
――――― [JIS C 5101-11-1 pdf 7] ―――――
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C 5101-11-1 : 2014 (IEC 60384-11-1 : 2008)
取検査方式
注記1 対応国際規格 : IEC 60410:1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes
(MOD)
注記2 JIS Z 9015-1の本来の対応国際規格は,ISO 2859-1であるが,IEC 60384-11は,IEC
60410:1973を引用している。このIEC 60410:1973の1回での抜取検査方式は,ISO 2859-1
と同じであるため,IEC 60410:1973をこの規格ではJIS Z 9015-1の対応国際規格の位置づ
けとした。
1.5 表示
コンデンサの本体及び包装への表示は,品種別通則JIS C 5101-11の1.6(表示)による。
コンデンサの本体及び包装への表示の詳細は,個別規格に規定する。
1.6 発注情報
この規格に基づくコンデンサの発注情報は,明瞭な文字又は記号によって,少なくとも次の項目を含ま
なければならない。
a) 公称静電容量
b) 公称静電容量許容差
c) 定格直流電圧
d) 個別規格の番号及び発行年並びにコンデンサの種類
e) 包装形態
1.7 出荷対象ロットの成績証明書
成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。
注記 購入者からの成績証明書要求の有無を明記する。
1.8 追加情報(非検査目的)
注記 検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。
1.9 品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項
品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項は,表3による。
表3−その他の特性
この表は,品種別通則JIS C 5101-11の規定への追加又はより厳しい特性を規定するために用いる。
2 検査要求事項
2.1 手順
2.1.1 品質認証の手順
品質認証の手順は,品種別通則JIS C 5101-11の3.4(品質認証試験)による。
2.1.2 品質確認検査の試験計画
品質確認検査の試験計画(表4)は,抜取方法,周期,厳しさ及び要求性能を規定する。検査ロットの
構成は,JIS C 5101-11の3.5.1(検査ロットの構成)による。
――――― [JIS C 5101-11-1 pdf 8] ―――――
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C 5101-11-1 : 2014 (IEC 60384-11-1 : 2008)
表4−品質確認検査の試験計画 評価水準EZ
細分箇条番号及び D 試験条件a) 試料数及び 要求性能a)
試験項目a) 又は 合格判定数c)
ND c) IL n c
群A検査(ロットごと)
副群A0 ND
4.2.2 静電容量 個別規格に規定の許容差以
内
4.2.3 誘電正接(tan 周波数 : 全ての静電容量値 4.2.3.2による。
100 % d)
において1 kHz
4.2.1 耐電圧(試験A) 方法 : ··· 絶縁破壊又はフラッシオー
測定個所 1a バがない。
4.2.4 絶縁抵抗 測定個所 1a 4.2.4.2による。
(試験A)
群A検査(ロットごと)
b)
副群A1 ND S-3 0
4.1 外観 4.1による。
表示は,明瞭とし,その他は,
この規格の1.5による。
b)
副群A2 ND S-3 0
4.1 寸法(ゲージ法)e) この規格の表1による。
群B検査(ロットごと)
b)
副群B1 ND S-3 0
4.5 はんだ付け性 加速蒸気エージングなし 端子に,はんだが良好に付着
(個別規格に規定 方法 : ··· しているか又ははんだ小
がある場合) 球法の場合は,··· s以内に
はんだが流れる。
4.14 表示の耐溶剤性 溶剤 : ··· 表示は,明瞭とする。
(個別規格に規定 溶剤の温度 : ···
がある場合) 方法1
ラビング材料 : 脱脂綿
後処理時間 : ···
――――― [JIS C 5101-11-1 pdf 9] ―――――
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C 5101-11-1 : 2014 (IEC 60384-11-1 : 2008)
表4−品質確認検査の試験計画 評価水準EZ(続き)
細分箇条番号及び D 試験条件a) 試料数及び 要求性能a)
試験項目a) 又は 合格判定数c)
ND c) p n c
群C検査(定期的)
副群C1A D 6 5 0 f)
副群C1の試料の一部
4.1 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
4.3.1 初期測定 静電容量
誘電正接(tan :
周波数
CN≦10 1 kHz
CN>10 50 Hz
120 Hz
4.3 端子強度 外観 外観に損傷がない。
4.4 はんだ耐熱性 方法 : ...
4.4.2 最終測定 外観 外観に損傷がない。
静電容量 4.3.1の測定値に対して,
|ΔC/C|≦2 %
4.13 部品の耐溶剤性 溶剤 : ... 個別規格の規定による。
(個別規格に規定が 溶剤の温度 : ...
ある場合) 方法2
後処理時間 : ...
副群C1B D 6 5 0 f)
副群C1の試料の一部
4.6.1 初期測定 静電容量
誘電正接(tan :
周波数
CN≦10 1 kHz
CN>10 50 Hz
120 Hz
4.6 温度急変 TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
5 サイクル
時間t1=30 min
外観 外観に損傷がない。
4.7 振動 取付方法 : この規格の1.1
による。
周波数範囲 : ... Hz... Hz
振幅 : 0.75 mm又は加速度 :
100 m/s2(いずれか緩い
方)
総試験時間 : 6 h
4.7.2 最終測定 外観 外観に損傷がない。
――――― [JIS C 5101-11-1 pdf 10] ―――――
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JIS C 5101-11-1:2014の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-11-1:2008(IDT)
JIS C 5101-11-1:2014の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.30 : 紙コンデンサ及びプラスチックコンデンサ
JIS C 5101-11-1:2014の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式