JIS C 5101-11-1:2014 電子機器用固定コンデンサ―第１１－１部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデンサ　評価水準ＥＺ | ページ 3

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                                                           C 5101-11-1 : 2014 (IEC 60384-11-1 : 2008)
                       表4−品質確認検査の試験計画 評価水準EZ(続き)
    細分箇条番号及び   D           試験条件a)           試料数及び            要求性能a)
       試験項目a)     又は                             合格判定数c)
                      ND c)                           p     n     c
 副群C1B(続き)
 4.8 バンプ                 取付方法 : この規格の1.1
 (又は4.9 衝撃)             による。
                            バンプ回数 : ...
                            ピーク速度 : ... m/s2
                            作用時間 : ... ms
 4.9 衝撃                   取付方法 : この規格の1.1
 (又は4.8 バンプ)         による。
                            ピーク速度 : ... m/s2
                            作用時間 : ... ms
 4.8.3又は4.9.3 最終測      外観                                      外観に損傷がない。
   定                       静電容量                                  4.6.1の測定値に対して,
                                                                       |ΔC/C|≦5 %
                            誘電正接(tan                             個別規格の規定による。
 副群C1                 D                             6     10   0 f)
 副群C1A及び副群C1B
   を合わせた試料
 4.10 一連耐候性
 4.10.2 高温                温度 : カテゴリ上限温度
                            時間 : 16 h
 4.10.3 温湿度サイクル
 (試験Db),最初のサイ
 クル
 4.10.4 低温                温度 : カテゴリ下限温度
                            時間 : 2 h
 4.10.5 減圧(個別規格      気圧 : 8 kPa
   に規定がある場合)
 4.10.5.3 中間測定          外観                                      永久破壊,フラッシオーバ又
                                                                        はケースに異常な変形が
                                                                        ない。
 4.10.6 温湿度サイクル      後処理時間 : 1 h2 h
 (試験Db),残りのサイ
   クル
 4.10.6.2 最終測定          外観                                      外観に損傷がない。
                                                                      表示は,明瞭とする。
                            静電容量                                  4.4.2,4.8.3又は4.9.3の測定
                                                                      値に対して,
                                                                        |ΔC/C|≦5 %
                            誘電正接(tan                             tan                 は4.3.1若しく
                                                                        は4.6.1の測定値の1.2倍
                                                                        のいずれか大きい方の値
                                                                        以下
                            絶縁抵抗                                  4.2.4.2の規定値の50 %以上

――――― [JIS C 5101-11-1 pdf 11] ―――――

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C 5101-11-1 : 2014 (IEC 60384-11-1 : 2008)
                       表4−品質確認検査の試験計画 評価水準EZ(続き)
    細分箇条番号及び   D           試験条件a)           試料数及び            要求性能a)
       試験項目a)     又は                             合格判定数c)
                      ND c)                          p      n     c
 副群C2                 D                             6     10   0 f)
 4.11 高温高湿(定常)
 4.11.1 初期測定            静電容量
                            誘電正接(tan     : 
                              周波数
                              CN≦10        1 kHz
                              CN>10        50 Hz
                                        120 Hz
                            後処理時間 : 1 h2 h
 4.11.3 最終測定            外観                                      外観に損傷がない。
                                                                      表示は,明瞭とする。
                            静電容量                                  4.11.1の測定値に対して,
                                                                       |ΔC/C|≦5 %
                            誘電正接(tan                             tan               は4.11.1の測定
                                                                        値の1.2倍のいずれか大き
                                                                        い方の値以下
                            絶縁抵抗                                  4.2.4.2の規定値の50 %以上
 副群C3                 D                             6     10   0 f)
 4.12 耐久性                試験時間 : 1 000 h
 4.12.1 初期測定            静電容量
                            誘電正接(tan     : 
                              周波数
                              CN≦10        1 kHz
                              CN>10        50 Hz
                                        120 Hz
                            後処理時間 : 1 h2 h
 4.12.5 最終測定            外観                                      外観に損傷がない。
                                                                      表示は,明瞭とする。
                            静電容量                                  4.12.1の測定値に対して,
                                                                       |ΔC/C|≦5 %
                            誘電正接(tan                             tan                 は4.12.1の測
                                                                        定値の1.2倍のいずれか大
                                                                        きい方の値以下
                            絶縁抵抗                                  4.2.4.2の規定値の50 %以上
 副群C4                ND                             6     10   0 f)
 4.2.5 温度による静電       静電容量                                  4.2.5による。
   容量変化(個別規格に
   規定がある場合)

――――― [JIS C 5101-11-1 pdf 12] ―――――

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                                                           C 5101-11-1 : 2014 (IEC 60384-11-1 : 2008)
                       表4−品質確認検査の試験計画 評価水準EZ(続き)
 注a) 試験の細分箇条番号,試験項目及び試験条件並びに要求性能は,JIS C 5101-11及びこの規格の箇条1による。
    b) 試料数(n)は,JIS Z 9015-1に規定する付表1[サンプル(サイズ)文字]の検査水準(IL)とロットサイ
      ズとで割り当てるサンプル文字に従い,付表2-A[なみ検査の1回抜取方式(主抜取表)]のサンプル文字に
      対応する試料数とする。
    c) この表の記号は,次による。
        IL=検査水準,p=検査周期(月),n=試料数,c=合格判定数(許容不適合数)
        D=破壊試験,ND=非破壊試験
    d) この検査は,工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水
      準は,部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するため
      に,抜取試料を全て検査する。
        抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質
      水準を算出するために全て数える。ppmで示す出荷品質水準は,累積した検査データによって算出する。
    e) 製造業者が,管理限界を超えるコンデンサを取り除くため,寸法測定に統計的工程管理(SPC)又はその他の
      仕組みを取り入れている場合は,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。
    f) 不適合が1個発生した場合には,新しい試料によって副群の全ての試験を再度行い,新たな不適合が発生し
      ないとき合格とする。再試験の間,製品の出荷は継続してもよい。