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C 5101-11 : 2014 (IEC 60384-11 : 2008)
4.2.1.2 試験電圧
JIS C 5101-1の表3(測定箇所)に規定する測定箇所に,表5の試験電圧を,品質認証試験の場合は1
分間印加し,ロットごとの品質確認検査の場合は1秒間印加する。
表5−試験電圧
測定箇所 試験電圧
1a 2UR
1b及び1c 2UR又は200 Vのいずれか高い値
4.2.2 静電容量
静電容量は,JIS C 5101-1の4.7(静電容量)によるほか,次による。
4.2.2.1 測定条件
静電容量は,測定周波数1 kHzで測定するか,又は1 kHzの値に補正する。
公称静電容量が10 識 は,測定周波数50 Hz120 Hzで測定してもよい。
測定時の印加電圧の測定周波数1 kHzにおけるピーク値は,定格電圧の3 %以下とし,測定周波数50 Hz
120 Hzにおけるピーク値は,定格電圧の20 %又は100 V(70 V r.m.s.)のいずれか小さい方の値以下と
する。
4.2.2.2 要求性能
静電容量は,規定する許容差の範囲内とする。
4.2.3 誘電正接(tan
誘電正接(tan は,JIS C 5101-1の4.8[誘電正接(損失角の正接)及び等価直列抵抗(ESR)]によ
るほか,次による。
4.2.3.1 測定周波数1 kHzにおける測定条件
誘電正接(tan は,次の方法で測定する。
− 測定周波数 : 1 kHz
− ピーク電圧 : 定格電圧の3 %以下
− 確度 : 10×10−4以下(絶対値)
測定周波数は,4.2.2.1の静電容量測定と同じとする。
測定器の確度は,10−4以下とする。
4.2.3.2 測定周波数1 kHzにおける要求性能
誘電正接(tan は,10×10−4以下とする。
4.2.4 絶縁抵抗
絶縁抵抗は,JIS C 5101-1の4.5(絶縁抵抗)によるほか,次による。
4.2.4.1 前処理
測定の前にコンデンサを十分に放電する。放電回路の抵抗値とコンデンサの公称静電容量との積は,0.01
秒以上又は個別規格の規定による。
4.2.4.2 測定電圧
測定電圧は,JIS C 5101-1の4.5.2(測定条件)による。
電圧は,電源の内部抵抗を通じて規定値を直接印加する。
電源の内部抵抗とコンデンサの公称静電容量との積は,1秒未満又は個別規格の規定による。
――――― [JIS C 5101-11 pdf 16] ―――――
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C 5101-11 : 2014 (IEC 60384-11 : 2008)
絶縁抵抗は,表6に示す要求性能を満足する。
表6−絶縁抵抗の要求性能
要求性能
RC積の最小値 端子間 端子・外装間
JIS C 5101-1の表3によ (R=端子間絶縁抵抗 絶縁抵抗の最小値 絶縁抵抗の最小値
る測定箇所 CN=公称静電容量)
s M 圀 M 圀
CN>0.33 F CN≦0.33 F
1a 10 000 30 000 −
1b及び1c − − 3 000
4.2.4.3 温度補正
20 ℃以外の温度で測定した場合は,必要に応じて測定値に適切な補正係数を乗じて20 ℃の値に補正す
る。疑義が生じた場合は,20 ℃で測定する。表7に示す補正係数は,ポリエチレンテレフタレートフィ
ルム金属はくコンデンサの平均値を示す。
表7−試験温度に対する補正係数
温度 補正係数 温度 補正係数 温度 補正係数
℃ ℃ ℃
15 0.79 22 1.10 29 1.52
16 0.83 23 1.15 30 1.59
17 0.87 24 1.20 31 1.66
18 0.91 25 1.26 32 1.74
19 0.95 26 1.32 33 1.82
20 1.00 27 1.38 34 1.91
21 1.05 28 1.45 35 2.00
4.2.5 温度による静電容量変化(個別規格に規定がある場合)
温度による静電容量変化は,JIS C 5101-1の4.24.1(静的方法)によるほか,次による。
静電容量の測定は,b) 及びf) の温度で行い,表8及び表9に規定する要求性能を満足する。
表8−カテゴリ下限温度における温度特性
b) の試験温度 静電容量変化率
Δ
−5 %≦CC
−10 ℃及び−25 ℃ ≦0 %
Δ
−7 %≦CC
−40 ℃ ≦0 %
Δ
−10 %≦CC
−55 ℃ ≦0 %
――――― [JIS C 5101-11 pdf 17] ―――――
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C 5101-11 : 2014 (IEC 60384-11 : 2008)
表9−カテゴリ上限温度における温度特性
f) の試験温度 静電容量変化率
Δ
0 %≦CC
85 ℃ ≦+5 %
Δ
0 %≦CC
100 ℃ ≦+10 %
Δ
0 %≦CC
105 ℃ ≦+13 %
Δ
0 %≦CC
125 ℃ ≦+20 %
4.3 端子強度
端子強度は,JIS C 5101-1の4.13(端子強度)によるほか,次による。
4.3.1 初期測定
静電容量は,4.2.2によって測定する。誘電正接は,4.2.3.1によって測定する。
4.4 はんだ耐熱性
はんだ耐熱性は,JIS C 5101-1の4.14(はんだ耐熱性)によるほか,次による。
4.4.1 試験条件
初期乾燥は,行わない。
4.4.2 最終測定及び要求性能
コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,表2に規定する要求性能を満足する。
4.5 はんだ付け性
はんだ付け性は,JIS C 5101-1の4.15(はんだ付け性)によるほか,次による。
4.5.1 試験条件
エージングは,行わない。
はんだ小球法の要求事項は,個別規格による。はんだ槽法又ははんだ小球法のいずれも適用できない場
合は,はんだこて法のはんだこて先Aを用いて試験する。
4.5.2 要求性能
表2に規定する要求性能を満足する。
4.6 温度急変
温度急変は,JIS C 5101-1の4.16(温度急変)によるほか,次による。
4.6.1 初期測定
初期測定は,4.3.1による。
4.6.2 試験サイクル数
試験のサイクル数は,5回とする。
カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度での放置時間は,30分間とする。
4.7 振動
振動は,JIS C 5101-1の4.17(振動)によるほか,次による。
4.7.1 試験条件
次の厳しさを適用する。10 Hz55 Hz,10 Hz500 Hz又は10 Hz2 000 Hzのうちの一つの周波数範囲
で,振幅0.75 mm又は加速度100 m/s2のいずれか緩い方の振幅とする。総試験時間は,6時間とする。
――――― [JIS C 5101-11 pdf 18] ―――――
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C 5101-11 : 2014 (IEC 60384-11 : 2008)
個別規格には,周波数範囲及び取付方法を規定する。リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端
子)のコンデンサをリード線だけで固定する場合は,本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.7.2 最終測定及び要求性能
表2に規定する要求性能を満足する。
4.8 バンプ
バンプは,JIS C 5101-1の4.18(バンプ)によるほか,次による。
バンプ又は衝撃のいずれかを適用するかは,個別規格に規定する。
4.8.1 初期測定
初期測定は,行わない。
4.8.2 試験条件
次に示す試験条件のいずれかを適用するかは,個別規格に規定する。
バンプの回数は,1 000回又は4 000回のいずれかを選択し,かつ,ピーク加速度400 m/s2及び作用時間
6 ms又はピーク加速度100 m/s2及び作用時間16 msのいずれかと組み合わせた試験条件を用いる。
個別規格には,取付方法も規定する。リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子)のコンデン
サをリード線だけで固定する場合は,本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.8.3 最終測定及び要求性能
コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,表2に規定する要求性能を満足する。
4.9 衝撃
衝撃は,JIS C 5101-1の4.19(衝撃)によるほか,次による。
バンプ又は衝撃のいずれかを適用するかは,個別規格に規定する。
4.9.1 初期測定
初期測定は,行わない。
4.9.2 試験条件
表10に規定する試験条件のいずれかを適用するかは,個別規格に規定する。
パルス波形 : 正弦半波
表10−ピーク加速度及び作用時間
ピーク加速度 作用時間
m/s2 ms
300 18
500 11
1 000 6
個別規格には,取付方法も規定する。リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子)コンデンサ
をリード線だけで固定する場合は,本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.9.3 最終測定及び要求性能
コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,表2に規定する要求性能を満足する。
4.10 一連耐候性
一連耐候性は,JIS C 5101-1の4.21(一連耐候性)によるほか,次による。
4.10.1 初期測定
初期測定は行わないで,4.4.2,4.8.3又は4.9.3の測定値を適用する。
――――― [JIS C 5101-11 pdf 19] ―――――
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C 5101-11 : 2014 (IEC 60384-11 : 2008)
4.10.2 高温
JIS C 5101-1の4.21.2(高温)による。
4.10.3 温湿度サイクル(試験Db),最初のサイクル
JIS C 5101-1の4.21.3[温湿度サイクル(試験Db),最初のサイクル]による。
4.10.4 低温
JIS C 5101-1の4.21.4(低温)による。
4.10.5 減圧
JIS C 5101-1の4.21.5(減圧)によるほか,次による。
4.10.5.1 試験条件
この試験は,個別規格に規定がある場合に適用し,温度15 ℃35 ℃,気圧8 kPaの条件下で試験を行
う。試験時間は,1時間とする。
4.10.5.2 試験方法
規定する圧力に達した後,1時間の試験時間の最後の5分間,定格電圧を印加する。この試験を適用す
る必要がある場合には,試料は,2分割又は3分割し,それぞれJIS C 5101-1の表3(測定箇所)に規定
する測定箇所Aに電圧を印加する。
4.10.5.3 中間測定及び要求性能
コンデンサは,外観検査を行い,表2に規定する要求性能を満足する。
4.10.6 温湿度サイクル(試験Db),残りのサイクル
JIS C 5101-1の4.21.6[温湿度サイクル(試験Db),残りのサイクル]によるほか,次による。
4.10.6.1 試験方法
試験槽からコンデンサを取り出し,15分間以内に4.2.1に規定する試験回路及び条件によって測定箇所
Aに定格電圧を1分間印加する。
注記 測定箇所A : 端子相互間[JIS C 5101-1の表3(測定箇所)参照]
4.10.6.2 最終測定及び要求性能
後処理後,コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,表2に規定する要求性能を満足する。
4.11 高温高湿(定常)
高温高湿(定常)は,JIS C 5101-1の4.22[高温高湿(定常)]によるほか,次による。
4.11.1 初期測定
初期測定は,4.3.1によって行う。
4.11.2 試験方法
試験槽からコンデンサを取り出し,15分間以内に4.2.1の規定によって耐電圧試験を行う。ただし,印
加電圧は,定格電圧とする。
4.11.3 最終測定及び要求性能
後処理後,コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,表2に規定する要求性能を満足する。
4.12 耐久性
耐久性は,JIS C 5101-1の4.23(耐久性)によるほか,次による。
4.12.1 初期測定
初期測定は,4.3.1によって行う。
4.12.2 試験方法
コンデンサは,試験を1 000時間行う。個別規格に規定がない場合は,表11による。
――――― [JIS C 5101-11 pdf 20] ―――――
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JIS C 5101-11:2014の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-11:2008(IDT)
JIS C 5101-11:2014の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.30 : 紙コンデンサ及びプラスチックコンデンサ
JIS C 5101-11:2014の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5062:2008
- 抵抗器及びコンデンサの表示記号
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISZ8601:1954
- 標準数
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式