JIS C 5101-1:2019 電子機器用固定コンデンサ―第１部：品目別通則

この規格ページの目次

電子機器用固定コンデンサ−第1部 : 品目別通則
序文
1 一般事項
1.1 適用範囲
1.2 引用規格
2 技術的なデータ
2.1 単位,図記号・文字記号及び略語
2.2 用語及び定義
JIS C 5101-1:2019の引用国際規格 ISO 一覧
JIS C 5101-1:2019の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5101-1:2019の関連規格と引用規格一覧

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           C 5101-1 : 2019
                                                                          (IEC 60384-1 : 2016)

電子機器用固定コンデンサ−第1部 : 品目別通則

Fixed capacitors for use in electronic equipment- Part 1: Generic specification

序文

  この規格は,2016年に第5版として発行されたIEC 60384-1を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所及び附属書JAは,対応国際規格にはない参考事項であ
る。

1 一般事項

1.1 適用範囲

  この規格は,品目別通則であり,電子機器用固定コンデンサ(以下,コンデンサという。)に適用する。
  この規格は,電子部品の品質評価又はその他の目的において,品種別通則及び個別規格で用いる用語,
検査手順及び試験方法について規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 60384-1:2016,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1: Generic specification
              (IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

1.2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 0617(規格群) 電気用図記号
      注記 対応国際規格 : IEC 60617 (all parts),Graphical symbols for diagrams(MOD)
    JIS C 5005-2 品質評価システム−第2部 : 電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択
        及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
      注記 対応国際規格 : IEC 61193-2,Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of sampling
             plans for inspection of electronic components and packages(IDT)
    JIS C 6484:2005 プリント配線板用銅張積層板−耐燃性ガラス布基材エポキシ樹脂
      注記 対応国際規格 : IEC 61249-2-7:2002,Materials for printed boards and other interconnecting
             structures−Part 2-7: Reinforced base materials clad and unclad−Epoxide woven E-glass laminated

――――― [JIS C 5101-1 pdf 6] ―――――

2
C 5101-1 : 2019 (IEC 60384-1 : 2016)
             sheet of defined flammability (vertical burning test), copper-clad
    JIS C 60062 抵抗器及びコンデンサの表示記号
      注記 対応国際規格 : IEC 60062,Marking codes for resistors and capacitors(IDT)
    JIS C 60063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
      注記 対応国際規格 : IEC 60063,Preferred number series for resistors and capacitors(IDT)
    JIS C 60068-1:2016 環境試験方法−電気・電子−第1部 : 通則及び指針
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-1:2013,Environmental testing−Part 1: General and guidance(IDT)
    JIS C 60068-2-1:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-1部 : 低温(耐寒性)試験方法(試験記号 : 
        A)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-1:2007,Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold(IDT)
    JIS C 60068-2-2:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-2部 : 高温(耐熱性)試験方法(試験記号 : 
        B)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-2:2007,Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat
             (IDT)
    JIS C 60068-2-6:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-6部 : 正弦波振動試験方法(試験記号 : Fc)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-6:2007,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration
             (sinusoidal)(IDT)
    JIS C 60068-2-13:1989 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-13:1983,Environmental testing−Part 2-13: Tests−Test M: Low air
             pressure(IDT)
    JIS C 60068-2-14:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-14部 : 温度変化試験方法(試験記号 : N)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-14:2009,Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of
             temperature(IDT)
    JIS C 60068-2-17:2001 環境試験方法−電気・電子−封止(気密性)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-17:1994,Basic environmental testing procedures−Part 2: Tests−Test
             Q: Sealing(IDT)
    JIS C 60068-2-20:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-20部 : 試験−試験T−端子付部品のはんだ
        付け性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-20:2008,Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test
             methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads(IDT)
    JIS C 60068-2-21:2009 環境試験方法−電気・電子−第2-21部 : 試験−試験U : 端子強度試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-21:2006,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness
             of terminations and integral mounting devices(IDT)
    JIS C 60068-2-27:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-27部 : 衝撃試験方法(試験記号 : Ea)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-27:2008,Environmental testing−Part 2-27: Tests−Test Ea and
             guidance: Shock(IDT)
    JIS C 60068-2-30:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-30部 : 温湿度サイクル(12+12時間サイク
        ル)試験方法(試験記号 : Db)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-30:2005,Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp
             heat, cyclic (12 h+12 h cycle)(IDT)

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                                                                                              3
                                                                C 5101-1 : 2019 (IEC 60384-1 : 2016)
    JIS C 60068-2-45:1995 環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-45:1980,Environmental testing−Part 2-45: Tests−Test XA and
             guidance: Immersion in cleaning solvents及びAmendment 1:1993(IDT)
    JIS C 60068-2-58:2016 環境試験方法−電気・電子−第2-58部 : 表面実装部品(SMD)のはんだ付け
        性,電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-58:2015,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test
             methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface
             mounting devices (SMD)(MOD)
    JIS C 60068-2-67:2001 環境試験方法−電気・電子−基本的に構成部品を対象とした高温高湿,定常
        状態の促進試験
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-67:1995,Environmental testing−Part 2-67: Tests−Test Cy: Damp
             heat, steady state, accelerated test primarily intended for components(IDT)
    JIS C 60068-2-69:2019 環境試験方法−電気・電子−第2-69部 : 試験−試験Te/Tc : 電子部品及びプリ
        ント配線板のはんだ付け性試験方法(平衡法)
      注記1    対応国際規格 : IEC 60068-2-69:2007,Environmental testing−Part 2-69: Tests−Test Te:
               Solderability testing of electronic components for surface mounting devices (SMD)   y the wetting
               balance method
      注記2    この規格の対応国際規格での引用は2007年版であるが,既に,2017年版が発行されてい
               るため,この対応国際規格に対応した最新のJISを採用した。また,この対応国際規格IEC
               60068-2-69には,IEC 60068-2-54を取り込んだ内容で発行されている。
    JIS C 60068-2-78:2015 環境試験方法−電気・電子−第2-78部 : 高温高湿(定常)試験方法(試験記
        号 : Cab)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-78:2012,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp
             heat, steady state(IDT)
    JIS C 60068-2-82:2009 環境試験方法−電気・電子−第2-82部 : 試験−試験XW1 : 電気・電子部品の
        ウィスカ試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-82:2007,Environmental testing−Part 2-82: Tests−Test XW1: Whisker
             test methods for electronic and electric components(IDT)
    JIS C 60695-11-5:2007 耐火性試験−電気・電子−第11-5部 : 試験炎−ニードルフレーム(注射針バ
        ーナ)試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針
      注記 対応国際規格 : IEC 60695-11-5:2004,Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−Needle-flame
             test method−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance(IDT)
    JIS Z 8000-1 量及び単位−第1部 : 一般
      注記 対応国際規格 : ISO 80000-1,Quantities and units−Part 1: General(MOD)
    JIS Z 8601 標準数
      注記 対応国際規格 : ISO 3,Preferred numbers−Series of preferred numbers(MOD)
    IEC 60027 (all parts),Letter symbols to be used in electrical technology
    IEC 60050 (all parts),International Electrotechnical Vocabulary
    IEC 60294,Measurement of the dimensions of a cylindrical component with axial terminations
    IEC 60717,Method for the determiniation of the space required by capacitors and resistors with unidirectional

――――― [JIS C 5101-1 pdf 8] ―――――

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C 5101-1 : 2019 (IEC 60384-1 : 2016)
        terminations

2 技術的なデータ

2.1 単位,図記号・文字記号及び略語

2.1.1  一般
  単位,図記号及び文字記号は,次の規格の中からできるだけ引用することが望ましい。
− JIS C 0617(規格群)
− JIS Z 8000-1
− IEC 60027シリーズ
− IEC 60050シリーズ
  これらの規格に規定していない用語が必要となった場合は,上記の規格の原則に従って用いることが望
ましい。
2.1.2  文字記号
  この規格及びこの規格群で用いる文字記号は,次による。
   CN                公称静電容量(nominal capacitance)
   DA                誘電吸収(dielectric absorption)
   du/dt             パルス電圧勾配(pulse handling capability)
   fr                自己共振周波数(self-resonat frequency)
   Ileak             漏れ電流(leakage current)
   k0                最大許容パルス特性(maximum permissible pulse characteristic)
   L                 自己インダクタンス(self-inductance)
   RINS              絶縁抵抗(insulation resistance)
   TA                カテゴリ下限温度(lower category temperature)
   tan δ            損失角の正接(tangent of loss angle)
   TB                カテゴリ上限温度(upper category temperature)
   TC                カテゴリ温度(category temperature)
   Top               使用温度又は動作温度(operating temperature)
   TR                定格温度(rated temperature)
   UC                カテゴリ電圧(category voltage)
   Uop               使用電圧又は動作電圧(operating voltage)
   UR                定格電圧(rated voltage)
   URS               サージ電圧(surge voltage)
   Z                 インピーダンス(impedance)
   α                静電容量の温度係数(temperature coefficient of capacitance)
   τ                時定数(time constant)=CN×RINS
2.1.3  略語
  この規格及びこの規格群で用いる略語は,次による。
   CA                能力認証(Capability Approval)
   CB                認証機関(Certification Body)
   CQC               能力認証用部品(Capability Qualifying Components)

――――― [JIS C 5101-1 pdf 9] ―――――

                                                                                              5
                                                                C 5101-1 : 2019 (IEC 60384-1 : 2016)
   DMR               管理責任者(Designated Management Representative)
   ESR               等価直列抵抗(Equivalent Series Resistance)
   IPA               イソプロピルアルコール(Isopropyl alcohol)
   PCP               工程管理計画(Process Control Plan)
   QA                品質認証(Quality Approval)
   SMD               表面実装部品(Surface Mount Device)
   TA                技術認証(Technology Approval)
   TADD              技術認証宣言書(Technology Approval Declaration Document)

2.2 用語及び定義

  この規格及びこの規格群で用いる主な用語及び定義は,次による。
    注記 用語及び定義は,対応英語のアルファベット順に記載している。
2.2.1
交流コンデンサ(a.c. capacitor)
  本質的に交流電圧の用途に設計したコンデンサ。
2.2.2
両極性コンデンサ(bipolar capacitor)
  電解コンデンサの中で,交流電圧及び/又は直流電圧の極性反転に耐えるように設計したコンデンサ。
2.2.3
耐炎性カテゴリ(category of passive flammability)
  炎を規定時間当てた後の最大燃焼時間によって規定する耐炎性の分類。
2.2.4
カテゴリ温度範囲(category temperature range)
  設計上,コンデンサを連続的に使用できる周囲温度範囲。
    注記 温度範囲は,カテゴリ下限温度(2.2.10)とカテゴリ上限温度(2.2.41)とによって規定してい
          る。
2.2.5
カテゴリ電圧,UC(category voltage,UC)
  カテゴリ上限温度(2.2.41)でコンデンサに連続して印加できる最高電圧。
2.2.6
直流コンデンサ(d.c. capacitor)
  本質的に直流電圧の用途に設計したコンデンサ。
    注記 直流コンデンサは,交流電圧への用途には適していない。
2.2.7
ファミリ(family)
  電子部品において,主に特徴的な物理特性を表し,及び/又は規定する明確な機能を満たす部品群。
2.2.8
等級(grade)
  部品の意図する用途に対して一般的な特性を補足する用語。

――――― [JIS C 5101-1 pdf 10] ―――――

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JIS C 5101-1:2019の引用国際規格 ISO 一覧

IEC 60384-1:2016(IDT)

JIS C 5101-1:2019の国際規格 ICS 分類一覧

31 : エレクトロニクス　>　31.060 : コンデンサ　>　31.060.10 : 固定コンデンサ

JIS C 5101-1:2019の関連規格と引用規格一覧

規格番号: 規格名称
JISC5005-2:2010: 品質評価システム―第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
JISC60062:2019: 抵抗器及びコンデンサの表示記号
JISC60063:2018: 抵抗器及びコンデンサの標準数列
JISZ8000-1:2014: 量及び単位―第1部:一般
JISZ8601:1954: 標準数