JIS C 5101-16-1:2009 電子機器用固定コンデンサ―第１６－１部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ　評価水準Ｅ及びＥＺ | ページ 4

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C 5101-16-1 : 2009 (IEC 60384-16-1 : 2005)
                    表4−品質確認検査の試験計画 評価水準E及びEZ(続き)
 細分箇条番号及び試験項目           試験条件         試料数及び合格判定数e)       要求性能a)
           a)            D
                        又は                             E            EZ
                        ND c)                     p   n      c     p  n   c
 副群C5                  ND                       12   6     1     6  10 0
 4.2.5 インダクタンス(適                                                    L≦... mH
   用する場合)
 注 a) この細分箇条番号及び要求性能は,箇条1及び品種別通則JIS C 5101-16による。
   b) 試料数は,JIS Z 9015-1の付表2-Aのサンプル文字に対応する試料数
   c) この表の記号は,次による。
      p : 周期(月),n : 試料数,c : 合格判定数
      D : 破壊試験,ND : 非破壊試験
      IL : 検査水準,AQL : 合格品質限界
   d) この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水準
      は部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するために抜取
      試料をすべて検査する。
       抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質水
      準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は,累積した検査データによって算出する。
   e) 合否判定の不適合品の数を示し,この数以下の場合を合格とする。