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C 5101-16 : 2009 (IEC 60384-16 : 2005)
specification : Fixed metallized polypropylene film dielectric d.c. capacitors (IDT)
なお,対応の程度を表す記号 (IDT) は,ISO/IEC Guide21に基づき,一致していることを
表す。
1.2 目的
この規格の目的は,推奨する定格及び特性を規定するとともに,JIS C 5101-1から適切な品質評価手順
と試験方法及び測定方法とを選定し,一般的要求性能を規定することである。
この品種別通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は,この規格と同等又は高い
水準とする。
1.3 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 5063 : 1997 抵抗器及びコンデンサの標準数列
注記 対応国際規格 : IEC 60063 : 1963,Preferred number series for resistors and capacitors並びに
Amendment No.1 : 1967及びAmendment No.2 : 1977(IDT)
JIS C 5101-1 : 1998 電子機器用固定コンデンサ−第1部 : 品目別通則
注記 対応国際規格 : IEC 60384-1 : 1982,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1 :
Generic specification 並びにAmendment 2 : 1987, Amendment 3 : 1989 及びAmendment 4 : 1992
(MOD)
なお,JIS C 5101-1 : 1998は,対応国際規格 : IEC 60384-1 : 1999,Fixed capacitors for use in
electronic equipment−Part 1 : Generic specificationの最新版として制定されておらず,該当する
事項の項番は,JIS C 5101-1の該当事項のものと一致しない場合がある。両者で引用する項
番に相違がある場合は,IEC 60384-1 : 1999の項番を注記に示す。
JIS C 5101-16-1 : 2009 電子機器用固定コンデンサ−第16-1部 : ブランク個別規格 : 固定メタライズド
ポリプロピレンフィルム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
注記 対応国際規格 : IEC 60384-16-1 : 2005,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 16-1 :
Blank detail specification : Fixed metallized polypropylene film dielectric d.c. capacitors−
Assessment levels E and EZ
JIS C 60068-1 : 1993 環境試験方法−電気・電子−通則
注記 対応国際規格 : IEC 60068-1 : 1988,Environmental testing−Part 1 : General and guidance 及び
Amendment 1 : 1992 (IDT)
JIS Z 8601 : 1954 標準数
注記 対応国際規格 : ISO 3 : 1973,Preferred numbers−Series of preferred numbers (MOD)
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
注記 対応国際規格 : IEC 60410 : 1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes
(MOD)
1.4 個別規格に規定する事項
個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。
個別規格は,品目別通則,品種別通則又はブランク個別規格の要求性能よりも低い水準の内容を規定し
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てはならない。より厳しい要求性能を規定する場合は,その内容を個別規格の1.9の中に記載し,更に,
試験計画の中に,例えば,アステリスク (*) を付けて明示する。
注記 1.4.1の外形図及び寸法は,一覧表で示してもよい。
各個別規格に次の事項を規定し,引用する値は,この規格の該当する項目の中から選定する。
1.4.1 外形図及び寸法
外形図及び寸法は,その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。コンデンサ
の互換性及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。また,すべての寸法値は,
通常ミリメートルで規定する。
寸法は,本体の長さ,幅,高さ及び端子間隔とする。円筒形の場合は,本体の直径及び長さ,並びに端
子の長さ及び直径を規定する。“寸法及び定格静電容量と定格電圧との組合せ範囲”のように幾つかの組合
せを個別規格に規定する場合は,必要に応じてそれぞれの寸法及び寸法許容差を図の下に表で示す。
形状が上記の場合と異なる場合は,個別規格にそのコンデンサを適切に表す寸法を規定する。
コンデンサがプリント配線板用でない場合には,個別規格の中にそのことを明記する
1.4.2 取付け
個別規格に通常の使用の場合の取付方法並びに振動及びバンプ又は衝撃の各試験を行う場合の取付方法
を規定する。コンデンサは,その規定された方法で取り付ける。コンデンサの設計上特別な取付具を必要
とする場合には,個別規格にその取付具を規定し,振動及びバンプ又は衝撃の各試験には,この取付具を
使用する。
1.4.3 定格及び特性
定格及び特性は,この規格の関連項目によるほか,次による。
1.4.3.1 定格静電容量範囲
定格静電容量の範囲は,2.2.1による。
注記 IEC 電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合は,個別規格の定格静電容量範囲と認証を受けた範
囲とが異なるとき,次の文章を追加する。“各定格電圧での定格静電容量の範囲は,品質認証
電子部品一覧表 (QPL) による。”
1.4.3.2 特殊な特性
設計及び使用目的によって,特殊な特性が必要な場合は,追加の規定をしてもよい。
1.4.3.3 はんだ付け
はんだ付け性及びはんだ耐熱性で適用する試験方法,厳しさ及び要求性能は,個別規格の規定による。
1.4.4 表示
コンデンサ及びその包装に対する表示項目は個別規格に規定する。この規格の1.6と異なる場合は,そ
の事項を個別規格に明記する。
1.5 用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5101-1によるほか,次による。
1.5.1
性能等級 (performance grades)
1.5.1.1
性能等級1のコンデンサ(長寿命用)[performance grade 1 capacitors (long life) ]
長期間にわたって特性が安定であることが必要なコンデンサ。
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1.5.1.2
性能等級2のコンデンサ(一般用)[performance grade 2 capacitors (general purpose) ]
一般に広く使用されているコンデンサで,性能等級1のコンデンサのような高い性能水準を必要としな
いコンデンサ。
1.5.2
安定性等級 (stability grade)
耐候性試験,機械的試験及び耐久性試験の後の静電容量の安定度を示す等級。
性能等級及び安定性等級は,個別規格に規定する。
1.5.3
性能等級及び安定性等級の組合せ (performance grade and stability grade combinations)
(安定性等級を交流用及びパルスコンデンサに適用する場合)
性能等級及び安定性等級の組合せ(推奨記号)を,表1に示す。
表1−推奨記号
性能等級 安定性等級 組合せ記号(等級)
1 1.1
1
2 1.2
2 − 2
性能等級及び安定性等級との三つの組合せには,静電容量の安定性と誘電正接 (tan ‰
ある。
三つの組合せの等級の相違点を,表4に示す。
1.5.4
定格電圧 (UR)
定格温度でコンデンサに連続して印加できる直流電圧の最大値。
注記 コンデンサに印加される直流電圧と交流電圧のピーク値との和は,定格電圧以下である。種々
の周波数に対する許容ピーク交流電圧値は,検討中である。
1.6 表示
表示は,JIS C 5101-1の2.4によるほか,次による。
1.6.1 コンデンサ及び包装の表示
表示内容は,次の項目から選定する。表示の優先順位は,記載の順による。
a) 定格静電容量
b) 定格電圧(直流電圧を表す記号d.c.は,記号 又は で表してもよい。)
c) 静電容量許容差
d) 製造年月(又は週)
e) 製造業者名又はその商標
f) 耐候性カテゴリ
g) 製造業者の形名
h) 引用個別規格
1.6.2 コンデンサ本体への表示
コンデンサには,1.6.1のa),b),c) 及び必要な項目をできる限り多く,明りょうに表示する。また,コ
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ンデンサの表示は,重複を避けることが望ましい。
1.6.3 コンデンサの包装への表示
コンデンサの包装には,1.6.1のすべての事項を明りょうに表示する。
1.6.4 表示の追加
1.6.1に規定するもの以外に,表示を追加する場合は,混乱しないように表示する。
2 推奨特性及び定格
2.1 推奨特性
個別規格に規定する特性は,次の中から選定するのが望ましい。
2.1.1 推奨耐候性カテゴリ
この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは,JIS C 60068-1の8.によって分類する。
カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選定する。
カテゴリ下限温度 : −55 ℃,−40 ℃,−25 ℃及び−10 ℃
カテゴリ上限温度 : +70 ℃,+85 ℃,+100 ℃及び+105 ℃
高温高湿(定常)の試験期間 : 4日,10日,21日及び56日
低温及び高温の試験温度は,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。
2.2 推奨定格値
2.2.1 定格静電容量 (CR)
定格静電容量の推奨値は,JIS C 5063に規定するE 標準数列から選定することが望ましい。
2.2.2 定格静電容量許容差
定格静電容量に対する推奨値は,次による。
±20 %,±10 %,±5 %,±2 %,±1 %
2.2.3 定格静電容量及びその許容差
定格静電容量の数列と定格静電容量許容差との推奨値組合せは,表2による。
表2−推奨組合せ
数列 許容差
E6 ±20 %
E 12 ±10 %
E 24 ±5%
E 48 ±2%
E 96 ±1%
2.2.4 定格電圧 (UR)
定格電圧の推奨値は,JIS Z 8601に規定するR5標準数列を使用し,次による。
40 V,63 V,100 V,160 V,250 V,400 V,630 V,1 000 V,1 600 V,2 500 V
2.2.5 カテゴリ電圧 (UC)
カテゴリ電圧は,カテゴリ上限温度が85 ℃以下の場合は定格電圧 (UR) とし,カテゴリ上限温度が
85 ℃を超える場合は定格電圧 (UR) の0.7倍とする。
2.2.6 定格温度
定格温度は,85 ℃とする。カテゴリ上限温度が70 ℃の場合は,70 ℃とする。
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C 5101-16 : 2009 (IEC 60384-16 : 2005)
3 品質評価手順
3.1 製造の初期工程
製造の初期工程は,コンデンサ素子の巻取り又はそれと同等な工程とする。
3.2 構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサとは,外形寸法及び定格値が異なっていても,類似の生産工程及び類似の材
料で製造したコンデンサとする。
3.3 出荷対象ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で購入者から要求があるときは,JIS C 5101-1の3.5.1によって,出荷対象ロ
ットの成績証明書を提出する。耐久性試験後に要求される特性値は,静電容量の変化,誘電正接 (tan
び絶縁抵抗とする。
注記 JIS C 5101-1の3.5.1は,対応国際規格IEC 60384-1 : 1999の3.9と同等である。
3.4 品質認証
品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1の3.4による。
ロットごとの試験及び定期的試験に基づく品質認証試験のための計画は,3.5に規定する。定数抜取手順
は,3.4.1及び3.4.2による。
注記 JIS C 5101-1の3.4は,対応国際規格IEC 60384-1 : 1999の3.5と同等である。
3.4.1 定数抜取手順に基づく品質認証
定数抜取手順は,JIS C 5101-1の3.4.2 b) による。試料は,認証を得ようとするコンデンサのすべての
範囲を代表し,個別規格に規定するすべての範囲であっても,又はその一部でもよい。
注記1 JIS C 5101-1の3.4.2 b) は,対応国際規格IEC 60384-1 : 1999の3.5.3 b) と同等である。
抜き取る試料は,最低及び最高の定格電圧のもので,それぞれの電圧に対応する最小及び最大の定格静
電容量のもので構成する。定格電圧が5種類以上ある場合は,中間の定格電圧のものも試験する。このよ
うに一つの認証範囲の試験には,4組合せ(定格静電容量と定格電圧との組合せ)又は6組合せの試料を
必要とする。認証範囲の試料が3組合せ以下の場合の試料数は,4組合せの場合と同数とする。
予備試料は,次による。
予備試料は,製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として1組合せごとに2個(6組合
せの場合)又は3個(4組合せの場合)とする。
a) 群0での許容不適合品置換え用として1組合せごとに1個
b) 製造業者の責任でない事故による不適合品置換え用として1組合せごとに1個
群0に規定する試料数は,すべての群の試験を適用する場合の試料数であり,すべての試験を適用しな
い場合は,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
品質認証の試験計画に,群を追加する場合の群0の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。
品質認証試験のため,各群及び各副群で試験する試料数及び合格判定数を,表3及び表3Aに示す。
注記2 合格判定数の数は,許容不適合数を示している。
3.4.2 試験(評価水準Eの場合)
表3及び表4の一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり,各群の
試験は,記載の順に従って行う。
すべての試料は,群0の試験を行った後,その他の群に分割する。
群0の試験中に発生した不適合品は,その他の群に用いてはならない。
1個のコンデンサが,一つの群内で二つ以上の項目で不適合になっても,不適合品は1個と数える。
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JIS C 5101-16:2009の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-16:2005(IDT)
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- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.30 : 紙コンデンサ及びプラスチックコンデンサ
JIS C 5101-16:2009の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式