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C 5101-16 : 2009 (IEC 60384-16 : 2005)
各群又は各副群での不適合品数が合格判定数以下であり,かつ,不適合品数の合計が総合格判定数以下
の場合の品質認証は,合格とする。
注記 表3及び表4は,定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を構成する。表3は,各試験又は
試験群に対する抜取計画及び合格判定数の詳細を規定している。表4は,箇条4に規定する試
験の詳細と併せて,試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに,個別規格に選定する
試験方法,試験条件などを規定している。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は,個別規格に規定する品質確認検
査と同じとする。
表3−品質認証試験の定数抜取試験計画 評価水準E
群番号 試験項目 この規格の 試料数 (n) 及び合格判定数d) (c)
細分箇条番
1組合せ c) 4組合せ c) 以下に対する
号 6組合せ c) に対する試験
につき 試験
n 4n c c合計 6n c c合計
0 外観 4.1
寸法 4.1
静電容量 4.2.2
誘電正接 (tan 4.2.3 29 116 2 b) 174 3 b)
耐電圧 4.2.1
絶縁抵抗 4.2.4
インダクタンス a) 4.2.5
a)
気密性 a)
予備試料 2 8 12
1A 端子強度a) 4.3
はんだ耐熱性 4.4 3 12 1 18 1
部品の耐溶剤性 4.14
1B はんだ付け性 4.5
表示の耐溶剤性 4.15
温度急変 4.6 6 24 1 36 2 b)
耐振性 4.7
バンプ又は衝撃 a)
4.8又は4.9
1 一連耐候性 4.10 9 36 2 4 54 3 6
2 高温高湿(定常) 4.11 5 20 1 30 2 b)
3 耐久性 4.12 10 40 2 b) 60 3 b)
4 温度特性 a) 4.2.6
5 20 1 30 2
充放電 4.13
注a) 適用は,個別規格の規定による。
b) 1組合せで1個を超える不適合があってはならない。
c) 定格静電容量と定格電圧との組合せは,3.4.1による。
d) 合否判定の不適合品の数を示し,この数以下の場合を合格とする。
3.4.2A 試験(評価水準EZの場合)
表3A及び表4の一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり,各群
の試験は,記載の順に従って行う。
――――― [JIS C 5101-16 pdf 11] ―――――
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C 5101-16 : 2009 (IEC 60384-16 : 2005)
すべての試料は,群0の試験を行った後,その他の群に分割する。
群0の試験中に発生した不適合品は,その他の群に用いてはならない。
1個のコンデンサが,一つの群内で二つ以上の項目で不適合になっても“不適合品は1個”と数える。
各群又は各副群での不適合品数が合格判定数以下であり,かつ,不適合品数の合計が総合格判定数以下
の場合の品質認証は,合格とする。
注記 表3及び表4は,定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を構成する。表3は,各試験又は
試験群に対する抜取計画及び合格判定数の詳細を規定している。表4は,箇条4に規定する試
験の詳細と併せて,試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに,個別規格に選定する
試験方法,試験条件などを規定している。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は,個別規格に規定する品質確認検
査と同じとする。
表3A−品質認証試験の定数抜取試験計画及び合格判定個数 評価水準EZ
群番号 試験項目 この規格の細分箇条番 試料数 合格判定数c)
号 n b) c
0 外観 4.1
寸法 4.1
静電容量 4.2.2 0
誘電正接 (tan 132
4.2.3
耐電圧 4.2.1
絶縁抵抗 4.2.4
インダクタンス a) 4.2.5
気密性 a) a)
予備試料 12
1 1A 端子強度 4.3 12 0
はんだ耐熱性 4.4
部品の耐溶剤性 a) 4.14
1B はんだ付け性 4.5 24 0
表示の耐溶剤性 a) 4.15
温度急変 4.6
振動 4.7
バンプ又は衝撃 a) 4.8又は4.9
一連耐候性 4.10 36 0
2 高温高湿(定常) 4.11 24 0
3 耐久性 4.12 36 0
4 温度特性 a) 4.2.6 24 0
充放電 4.13
注a) 個別規格の規定による。
b) 定格電圧と定格静電容量との組合せで3.4.1による。
c) 合否判定の不適合品の数を示し,この数以下の場合を合格とする。
――――― [JIS C 5101-16 pdf 12] ―――――
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C 5101-16 : 2009 (IEC 60384-16 : 2005)
表4−品質認証の試験計画
細分箇条番号及び D 試験条件 a) 試料数 (n) 及び 要求性能 a)
試験項目 a) 又は 合格判定数c) (c)
ND b)
群0 ND 表3又は
4.1 外観 表3Aによる。 4.1による。
表示は明りょうとし,その他
は個別規格の規定による。
4.1 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
4.2.2 静電容量 規定の許容差による。
4.2.3 誘電正接 (tan 周波数 : 1 kHz 4.2.3.2による。
4.2.1 耐電圧 方法は,個別規格の規定に 絶縁破壊又はフラッシオーバ
よる。 がない。
4.2.4 絶抵抗縁 方法は,個別規格の規定に 4.2.4.2による。
よる。
4.2.5 インダクンス 方法は,個別規格の規定に インダクタンス : ≦...mH
よる。 (個別規格の規定による。)
気密性 方法は,個別規格の規定に 個別規格の規定による。
よる。
群1A D 表3又は
4.3.1 初期測定 静電容量 表3Aによる。
誘電正接 (tan
CR>1 F : 1 kHz
CR≦1 F : 10 kHz
4.3 端子強度 外観 外観に損傷がない。
4.4 はんだ耐熱性 初期乾燥なし
方法は個別規格の規定によ
る。
(1A又は1B)
4.14 部品の耐溶剤性 溶剤 : ··· 個別規格の規定による。
(適用する場合) 溶剤の温度 : ···
方法2
後処理時間 : ···
4.4.2 最終測定 外観 外観に損傷がない。
静電容量 4.3.1の測定値に対して
ΔC/Cは,
等級1.1 : ≦1 %
等級1.2 : ≦2 %
等級2 : ≦3 %
誘電正接 (tan tan 湘青 は4.3.1の測定値
に対して
CR≦1 F
等級1.1 : ≦0.001
等級1.2 : ≦0.002
等級2 : ≦0.004
CR>1 F : 個別規格の規定に
よる。
――――― [JIS C 5101-16 pdf 13] ―――――
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C 5101-16 : 2009 (IEC 60384-16 : 2005)
表4−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D 試験条件a) 試料数 (n) 及び 要求性能 a)
試験項目 a) 又は 合格判定数c) (c)
ND b)
群1B D 表3又は
4.5はんだ付け性 エージングは行わない。 表3Aによる。 端子にはんだが良好に付いて
方法は個別規格の規定 いるか又ははんだ小球法の
による。 場合···s以内にはんだが流
れる。
個別規格の規定による。
4.15 表示の耐溶剤性(適 溶剤 : ... 表示は明りょうとする。
用する場合) 溶剤の温度 : ...
方法2
後処理時間 : 1 h
4.6.1 初期測定 静電容量
誘電正接 (tan
CR>1 F : 1 kHz
CR≦1 F : 10 kHz
4.6 温度急変 TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
5 サイクル
時間t1=30 min
外観 外観に損傷がない。
4.7 振動 取付方法は,個別規格の規
定による。
周波数範囲 : ...Hz...Hz
振幅0.75 mm又は,
加速度100 m/s2
(いずれか緩い方)
合計時間 : 6 h
4.7.2 最終測定 外観 外観に損傷がない。
4.8 バンプ(又は4.9衝 取付方法は,個別規格の規
撃) 定による。
バンプ回数 : ...回
ピーク加速度 : ...m/s2
作用時間 : ...ms
4.9 衝撃(又は4.8バン 取付方法は,個別規格の規
プ) 定による。
ピーク加速度 : ...m/s2
作用時間 : ...ms
4.8.3又は4.9.3 最終測定 外観 外観に損傷がない。
静電容量 4.6.1の測定値に対して
ΔC/Cは,
等級1.1 : ≦1 %
等級1.2 : ≦2 %
等級2 : ≦3 %
誘電正接 (tan tan 湘青 は4.6.1の測定値に
対して
CR≦1 F
等級1.1 : ≦0.001
等級1.2 : ≦0.002
等級2 : ≦0.004
CR>1 F : 個別規格の規定に
よる。
絶縁抵抗 4.2.4.2の規定値の50 %以上
――――― [JIS C 5101-16 pdf 14] ―――――
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C 5101-16 : 2009 (IEC 60384-16 : 2005)
表4−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D 試験条件 a) 試料数 (n) 及び 要求性能 a)
試験項目 a) 又は 合格判定数c) (c)
ND b)
群1 D 表3又は
4.10 一連耐候性 表3Aによる。
4.10.2 高温 温度 : カテゴリ上限温度
時間 : 16 h
4.10.3 温湿度サイクル
(12+12時間サイク
ル)
4.10.4 低温 温度 : カテゴリ下限温度
時間 : 2 h
4.10.5 減圧(個別規格に 空気圧 : 8 kPa
規定がある場合)
4.10.5.3 最終測定 外観 永久破壊,フラッシオーバ又
はケースの有害な変形がな
い。
4.10.6 温湿度サイクル
(12+12時間サイク
ル)残りのサイクル
4.10.6.2 最終測定 外観 外観に損傷がない。
表示は明りょうとする。
静電容量 4.4.2,4.8.3又は4.9.3の測定
値に対して
ΔC/Cは,
等級1.1 : ≦1 %
等級1.2 : ≦3 %
等級2 : ≦5 %
誘電正接 (tan tan ‰湘青 は4.3.1又は4.6.1
の測定値に対して
CR≦1 F
等級1.1 : ≦0.001 5
等級1.2 : ≦0.003
等級2 : ≦0.005
CR>1 F : 個別規格の規定に
よる。
絶縁抵抗 4.2.4.2の規定値の50 %以上
――――― [JIS C 5101-16 pdf 15] ―――――
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JIS C 5101-16:2009の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-16:2005(IDT)
JIS C 5101-16:2009の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.30 : 紙コンデンサ及びプラスチックコンデンサ
JIS C 5101-16:2009の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式