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C 5101-16 : 2009 (IEC 60384-16 : 2005)
表4−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D 試験条件 a) 試料数 (n) 及び 要求性能 a)
試験項目a) 又は 合格判定数c) (c)
ND b)
群2 D 表3又は
4.11 高温高湿(定常) 表3Aによる。
4.11.1 初期測定 静電容量
誘電正接 (tan
: 1 kHz
4.11.3 最終測定 外観 外観に損傷がない。
表示は明りょうとする。
静電容量 4.11.1の測定値に対して
ΔC/Cは,
等級1.1 : ≦1 %
等級1.2 : ≦3 %
等級2 : ≦5 %
誘電正接 (tan tan 湘青 は4.11.1の測定値
に対して
CR≦1 F
等級1 : ≦0.001
等級2 : ≦0.002
CR>1 F : 個別規格の規定に
よる。
絶縁抵抗 4.2.4.2の規定値の50 %以上
群3 D 表3又は
4.12 耐久性 時間 : 表3Aによる。
等級1 : 2 000 h
等級2 : 1 000 h
4.12.1 初期測定 静電容量
誘電正接 (tan
CR>1 F : 1 kHz
CR≦1 F : 10 kHz
4.12.5 最終測定 外観 外観に損傷がない。
表示は明りょうとする。
静電容量 4.12.1の測定値に対して
一
等級1.1 : ≦1 %
等級1.2 : ≦3 %
等級2 : ≦5 %
誘電正接 (tan tan 湘青 は4.12.1の測定値
に対して
CR≦1 F
等級1 : ≦0.002
等級2 : ≦0.004
CR>1 F : 個別規格の規定
による。
絶縁抵抗 4.2.4.2の規定値の50 %以上
――――― [JIS C 5101-16 pdf 16] ―――――
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C 5101-16 : 2009 (IEC 60384-16 : 2005)
表4−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D 試験条件 a) 試料数 (n) 及び 要求性能 a)
試験項目a) 又は 合格判定数c) (c)
ND b)
群4 D
4.2.6 温度特性(適用する 静電容量 4.2.6による。
場合) 絶縁抵抗 4.2.6による。
4.13 充放電
4.13.1 初期測定 静電容量
誘電正接 (tan
CR>1 F : 1 kHz
CR≦1 F : 10 kHz
充電時間 : ...s
放電時間 : ...s
4.13.3 最終測定 静電容量 4.13.1の測定値に対して
ΔC/Cは,
等級1.1 : ≦1 %
等級1.2 : ≦3 %
等級2 : ≦5 %
誘電正接 (tan tan 湘青 は4.13.1の測定値
に対して
CR≦1 F
等級1 : ≦0.003
等級2 : ≦0.005
CR>1 F : 個別規格の規定
による。
絶縁抵抗 4.2.4.2の規定値の50 %以上
注a) 試験の細分箇条番号及び要求性能は,箇条4による。
b) この表でDは破壊試験,NDは非破壊試験を示す。
c) 合否判定の不適合品の数を示し,この数以下の場合を合格とする。
3.5 品質確認検査
3.5.1 検査ロットの構成
a) 群A及び群B検査 この検査は,ロットごとに行う。
製造業者は,次の条件でコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
1) 検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2参照)。
2a) 試料は,検査ロットに含まれる定格電圧と定格静電容量との組合せ及び外形寸法の代表とする。
− 試料数
− 1組合せ当たり5個以上
2b) EC 電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合は,1 組合せ当たりの抜取数が4個以下のとき,製造業
者は,国内監督検査機関の承認を必要とする。
b) 群C検査 この検査は,定期的に行う。
試料は,定期検査周期期間内に製造されたものを代表するもので,かつ,定格電圧の高電圧群,中電圧
群及び低電圧群に分類する。その期間に認証範囲の定格電圧の高電圧群,中電圧群及び低電圧群ごとに一
つの外形寸法のものを試験した場合,その後の期間では,認証のすべての範囲を包含するために,製造中
のその他の定格電圧及び/又は外形寸法のものを試験する。
3.5.2 試験計画
――――― [JIS C 5101-16 pdf 17] ―――――
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C 5101-16 : 2009 (IEC 60384-16 : 2005)
ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画は,ブランク個別規格JIS C 5101-16-1の
箇条2の表4による。
3.5.3 長期保管後の出荷
JIS C 5101-1の3.5.2の規定に従い,はんだ付け性及び静電容量について群A及び群Bの再検査を行う。
注記 JIS C 5101-1の3.5.2は,対応国際規格IEC 60384-1 : 1999の3.10と同等である。
3.5.4 評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は,表5及び表6から選定するのが望ましい。
表5−ロットごとの品質確認検査
検査副群 b) D a) E F a) G a) EZ
IL AQL IL AQL IL AQL IL AQL IL n c
% % % %
A0 100 % c)
A1 S-3 2.5 S-3 d)
0
A2 S-3 1.0 S-3 d)
0
B1 S-3 2.5 S-3 d)
0
注記 IL=検査水準,AQL=合格品質限界,n=試料数,c=合格判定数
注a),b) 表6参照。
c)この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。
抜取水準は部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視
するために抜取試料をすべて検査する。
抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品
質水準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は,累積した検査データによって算出す
る。
d) 試料数 (n) は,JIS Z 9015-1に規定する付表1の検査水準 (IL)/ロットサイズで割り当てるサンプル文字に
従い,付表2-Aのサンプル文字に対応する試料数とする。
表6−定期的品質確認検査
検査副群 b) D a) E F a) G a) EZ
p n c p n c p n c p n c p n c
C1A 6 9 1 6 5 0
C1B 6 18 1 6 5 0
C1 6 27 2 6 10 0
C2 6 15 1 6 10 0
C3 3 21 1 6 10 0
C4 3 9 1 6 10 0
C5 12 6 1 6 10 0
注記 p =検査周期(月),n =試料数,c =合格判定数
注a) 評価水準D,F 及びG は,検討中。
b) 検査副群の内容は,ブランク個別規格JIS C 5101-16-1の箇条2による。
4 試験及び測定方法
この箇条は,JIS C 5101-1の4.に規定する事項を補足する。
4.1 外観及び寸法
外観及び寸法は,JIS C 5101-1の4.4による。
4.2 電気的性能
――――― [JIS C 5101-16 pdf 18] ―――――
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C 5101-16 : 2009 (IEC 60384-16 : 2005)
4.2.1 耐電圧
耐電圧は,JIS C 5101-1の4.6によるほか,次による。
4.2.1.1 試験回路
コンデンサC1を削除する。
R1と定格静電容量 (CX) との積は,0.01秒を超え1秒以下とする。
R1は,電源の内部抵抗を含む値とする。
R2は,放電電流を1 A以下に制限する値とする。
4.2.1.2 試験電圧
JIS C 5101-1の4.5.3の表1の測定箇所間に,品質認証試験の場合では1分間,ロットごとの品質確認試
験では1秒間,表7に規定する試験電圧を印加する。
表7−試験電圧
測定箇所 試験電圧
1a) 性能等級1 : 1.6 UR
性能等級2 : 1.4 UR
1b),1c) 2 UR又は200 Vのいずれか高い値
注記 試験電圧の印加中に自己回復作用があってもよい。
注記 JIS C 5101-1の4.5.3の表1は,対応国際規格IEC 60384-1 : 1999の4.5.3の表3と同等である。
4.2.2 静電容量
静電容量は,JIS C 5101-1の4.7によるほか,次による。
4.2.2.1 測定条件
静電容量は,1 kHz で測定する。ただし,10 Fを超える定格静電容量のものは,50 Hz120 Hzで測定
してもよいが,推奨周波数は1 kHzとする。
1 kHz での測定電圧のピーク電圧値は,定格電圧の3 %以下とし,50 Hz120 Hz でのピーク電圧値は,
定格電圧の20 %又は100 V (70 V r.m.s.) のいずれか小さい値以下とする。
4.2.2.2 要求性能
静電容量は,規定の許容差による。
4.2.3 誘電正接 (tan
誘電正接 (tan ‰ JIS C 5101-1の4.8によるほか,次による。
4.2.3.1 1 kHzでの測定条件
誘電正接 (tan ‰湮 定は,次による。
− 周波数 : 1 kHz
− ピーク電圧 : ≦定格電圧の3 %
− 確度 : ≦5×10−4(絶対値)
4.2.3.2 1 kHz での要求性能
誘電正接 (tan ‰ 表8に示す要求性能を満足する。
表8−誘電正接 (tan
測定周波数 定格静電容量 誘電正接 (tan
性能等級1 性能等級2
1 000 Hz CR≦1 F ≦10×10−4 ≦20×10−4
注記 1 Fを超えるコンデンサのtan 個別規格の規定による。
――――― [JIS C 5101-16 pdf 19] ―――――
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C 5101-16 : 2009 (IEC 60384-16 : 2005)
4.2.3.3 10 kHzでの測定条件
誘電正接 (tan ‰湮 定は,次による。
CR≦1 Fのコンデンサのtan 湮 定は,次による。
− 周波数 : 10 kHz;
− ピーク電圧 : ≦1 Vr.m.s.;
− 確度 : ≦5×10−4(絶対値)
4.2.4 絶縁抵抗
絶縁抵抗は,JIS C 5101-1の4.5によるほか,次による。
4.2.4.1 測定条件
測定の前にコンデンサを十分に放電する。放電抵抗と試料の定格静電容量との積は,0.01秒以上又は個
別規格の規定による。
4.2.4.2 要求性能 測定電圧は,JIS C 5101-1の4.5.2による。測定電圧は,電源の内部抵抗を通して規定
値を直接印加する。電源の内部抵抗値とコンデンサの定格静電容量との積は,1秒未満又は個別規格の規
定による。
絶縁抵抗は,表9に示す要求性能を満足する。
表9−絶縁抵抗の要求性能
RC 積の最小値 端子間絶縁抵抗の最小値 端子外装間
(R : 端子間絶縁抵抗) G 絶縁抵抗最小値
[C : 定格静電容量(CR)] G 圀
s
測定箇所は,JIS C 5101-1の表1による。
1a) 1a) 1b), 1c)
定格静電容量
>0.33 F ≦0.33 F
定格電圧
>100 V ≦100 V >100 V ≦100 V
性能等級
1 2 1 2 1 2 1 2
30 000 7 500 15 000 3 750 100 25 50 12.5 100
4.2.4.3 温度補正
20 ℃以外の温度で測定した場合は,必要に応じて測定値に適切な補正係数を乗じて20 ℃の値に補正す
る。疑わしい場合は,20 ℃で測定する。表10に示す補正係数は,メタライズドポリプロピレンフィルム
コンデンサの平均値である。
表10−補正係数
温度
補正係数
℃
15 0.75
20 1
23 1.25
27 1.50
30 1.75
35 2
――――― [JIS C 5101-16 pdf 20] ―――――
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JIS C 5101-16:2009の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-16:2005(IDT)
JIS C 5101-16:2009の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.30 : 紙コンデンサ及びプラスチックコンデンサ
JIS C 5101-16:2009の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式