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C 5101-16 : 2021 (IEC 60384-16 : 2019)
3.3 出荷対象ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で購入者から要求があるときには,JIS C 5101-1:2019のQ.1.5によって,出
荷対象ロットの成績証明書を提出可能にしておく。耐久性試験後に要求される特性値は,静電容量の変化,
誘電正接(tan δ)及び絶縁抵抗とする。
3.4 品質認証手順
3.4.1 一般事項
品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1:2019のQ.2による。
ロットごとの試験及び定期的試験に基づく品質認証試験のための計画は,3.5に規定する。定数抜取手順
は,3.4.2による。
3.4.2 定数抜取手順に基づく品質認証
3.4.2.1 抜取り
定数抜取手順は,JIS C 5101-1:2019のQ.2.4による。試料は,認証を得ようとするコンデンサの全ての
範囲を代表とする。認証範囲は,個別規格に規定する全ての範囲又はその一部でもよい。
抜取りは,定格電圧の最低及び最高のものと,それぞれの電圧に対応する公称静電容量の最小及び最大
のものとの組合せで構成する。定格電圧が5種類以上ある場合は,中間の定格電圧のものと公称静電容量
との組合せのものも試験する。このように一つの認証範囲の試験には,4組合せ(公称静電容量と定格電
圧との組合せ)又は6組合せの試料を必要とする。認証範囲の試料が3組合せ以下の場合の試料数は,4
組合せの場合と同数とする。
予備試料は,製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として1組合せごとに2個(6組合
せの場合)又は3個(4組合せの場合)とする。
群0に規定する試料数は,全ての群の試験を適用する場合の試料数であり,全ての試験を適用しない場
合には,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
品質認証の試験計画に,群を追加する場合の群0の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。
品質認証試験のため,各群及び各副群で試験する試料数及び合格判定数を,表3に示す。
3.4.2.2 試験
表3及び表4の一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり,各群の
試験は,記載の順に従って実施する。
全ての試料は,群0の試験を実施した後,その他の群に分割する。
群0の試験中に発生した不適合品は,その他の群に用いてはならない。
各群又は各副群での不適合品数がゼロの場合に認証試験の判定は,合格とする。
表3及び表4は,定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を構成する。
表3は,各試験又は試験群に対する抜取計画及び合格判定数の詳細を規定している。
――――― [JIS C 5101-16 pdf 11] ―――――
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C 5101-16 : 2021 (IEC 60384-16 : 2019)
表4は,試験条件及び要求事項の要点の一覧を示すとともに,個別規格に選定する試験方法,試験条件
などを規定している。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求事項は,個別規格に規定する品質確認検
査と同じとする。
表3−品質認証試験の定数抜取試験計画 評価水準EZ
群番号 試験項目 この規格の 試料数(n)及び合格判定数(c)
細分箇条 1組合せ 4組合せ以下に対する 6組合せに対する試験
番号 b) b)
試験b)
当たりの 4n c 6n c
試料数
n
0 外観 4.1 29+2 c) 116+8 c) 0 174+12 c) 0
寸法 4.1
静電容量 4.2.2
誘電正接(tan δ) 4.2.3
耐電圧 4.2.1 (+5)a)(+20)a) (+30)a)
絶縁抵抗 4.2.4 (+5)a)(+20)a) (+30)a)
インダクタンスa) 4.2.5
気密性a) 4.16
1A 端子強度 4.3
はんだ耐熱性 4.4 3 12 0 18 0
部品の耐溶剤性 4.14
1B はんだ付け性 4.5
表示の耐溶剤性 4.15
温度急変 4.6 6 24 0 36 0
振動 4.7
バンプ又は衝撃a) 4.8又は4.9
1 一連耐候性 4.10 9 36 0 54 0
2 高温高湿(定常) 4.11 5 20 0 30 0
3 耐久性 4.12 10 40 0 60 0
4 温度特性a) 4.2.6
5 20 0 30 0
充放電 4.13
注a) 要求がある場合。
注b) 公称静電容量と定格電圧との組合せは,3.4.2による。
注c) 予備試料。
――――― [JIS C 5101-16 pdf 12] ―――――
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C 5101-16 : 2021 (IEC 60384-16 : 2019)
表4−品質認証の試験計画
細分箇条番号及び D 試験条件a) 試料数(n) 要求事項a)
試験項目a) 又は 及び
ND b) 合格判定数(c)
群0 ND 表3による。
4.1 外観 4.1.2による。 表示は明瞭とし,その他は
個別規格の規定による。
4.1 寸法(詳細) 4.1.2による。 個別規格の規定による。
4.2.2 静電容量 4.2.2.2による。 規定の許容差による。
4.2.3 誘電正接(tan δ) 4.2.3.2及び4.2.3.4による。 4.2.3.3及び4.2.3.5による。
4.2.1 耐電圧 4.2.1.2及び4.2.1.3による。 絶縁破壊又はフラッシオー
バがない。
4.2.4 絶抵抗縁 4.2.4.3による。 表10による。
4.2.5 インダクンスd) JIS C 5101-1:2019の4.11 個別規格の規定による。
による。
4.16 気密性 JIS C 5101-1:2019の4.20 含浸剤の浸出がない,又は
による。 ケースの有害な変形がな
い。
群1A D 表3による。
4.3 端子強度
JIS C 5101-1:2019の4.13
による。
4.3.2 初期測定
静電容量 4.2.2.2による。 規定の許容差による。
誘電正接(tan δ) 4.2.3.2及び4.2.3.4による。 初期規定値以下
4.3.4 最終測定
外観 4.1.2による。 外観に損傷がない。
静電容量 4.2.2.2による。 個別規格の規定による。
誘電正接(tan δ) 4.2.3.2及び4.2.3.4による。 個別規格の規定による。
4.4 はんだ耐熱性
JIS C 5101-1:2019の4.14
による。
4.4.2 前処理 4.4.2による。
4.4.4 最終測定
外観 4.1.2による。 外観に損傷がない。
静電容量 4.2.2.2による。 4.3.2の測定値に対して
ΔC/Cは,
等級1.1 : ≦1 %
等級1.2 : ≦2 %
等級2 : ≦3 %
誘電正接(tan δ) 4.2.3.2及び4.2.3.4による。 tan δの増加
CN≦1 Fの場合 :
等級1.1 : ≦0.001
等級1.2 : ≦0.002
等級2 : ≦0.004
CN>1 Fの場合 :
個別規格の規定による。
4.14 部品の耐溶剤性
d) JIS C 5101-1:2019の4.31 による。――――― [JIS C 5101-16 pdf 13] ―――――
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C 5101-16 : 2021 (IEC 60384-16 : 2019)
表4−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D 試験条件a) 試料数(n) 要求事項a)
試験項目a) 又は 及び
ND b) 合格判定数(c)
群1B D 表3による。
4.5 はんだ付け性
4.5.3による。
4.5.2 前処理 4.5.2による。
4.5.4 最終測定
外観 4.1.2による。 端子にはんだが良好に付い
ているか又は個別規格の規
定による。
4.15 表示の耐溶剤性
d) JIS C 5101-1:2019の4.32 による。4.6 温度急変
4.6.3による。
4.6.2 初期測定
静電容量 4.2.2.2による。 規定の許容差による。
誘電正接(tan δ) 4.2.3.2及び4.2.3.4による。 初期規定値以下
4.6.4 後処理d) 4.6.4による。
4.6.5 最終測定
外観 4.1.2による。 外観に損傷がない。
静電容量 4.2.2.2による。 個別規格の規定による。
誘電正接(tan δ) 4.2.3.2及び4.2.3.4による。 個別規格の規定による。
4.7 振動
4.7.3による。
4.7.2 取付け 4.7.2による。
4.7.4 最終測定
外観 4.1.2による。 外観に損傷がない。
4.8 バンプ 4.8.4による。
(又は4.9 衝撃)d)
4.9 衝撃(又は 4.9.4による。
4.8 バンプ)d)
4.8.2又は4.9.2 取付け 4.8.2又は4.9.2による。
4.8.5又は4.9.5 最終測定
外観 4.1.2による。 外観に損傷がない。
静電容量 4.2.2.2による。 4.6.2の測定値に対して
ΔC/Cは,
等級1.1 : ≦1 %
等級1.2 : ≦2 %
等級2 : ≦3 %
誘電正接(tan δ) 4.2.3.2及び4.2.3.4による。 tan δの増加は4.6.2の測定
値に対して
CN≦1 Fの場合 :
等級1.1 : ≦0.001
等級1.2 : ≦0.002
等級2 : ≦0.004
CN>1 Fの場合 :
個別規格の規定による。
絶縁抵抗 4.2.4.3による。 4.2.4の規定値の50 %以上
――――― [JIS C 5101-16 pdf 14] ―――――
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C 5101-16 : 2021 (IEC 60384-16 : 2019)
表4−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D 試験条件a) 試料数(n) 要求事項a)
試験項目a) 又は 及び
ND b) 合格判定数(c)
群1 D 表3による。
4.10 一連耐候性
4.10.2 初期測定
外観 4.1.2による。 外観に損傷がない。
静電容量e), f) 4.2.2.2による。 個別規格の規定による。
誘電正接 4.2.3.2及び4.2.3.4による。 個別規格の規定による。
(tan δ)e), f)
絶縁抵抗e), g) 4.2.4.3による。 個別規格の規定による。
4.10.3 高温 JIS C 5101-1:2019の4.21.3
による。
4.10.4 温湿度サイクル(試験 JIS C 5101-1:2019の4.21.4
Db),最初のサイクル による。
4.10.5 低温 JIS C 5101-1:2019の4.21.5
による。
4.10.6 減圧d) 4.10.6.2による。
4.10.6.3 最終測定
外観 4.1.2による。 永久破壊,フラッシオーバ
又はケースの有害な変形が
ない。
4.10.7 温湿度サイクル(試験 4.10.7.2による。
Db),残りのサイクル
4.10.7.3 後処理d) 4.10.7.3による。
4.10.7.4 最終測定
外観 4.1.2による。 外観に損傷がない。
表示は明瞭とする。
静電容量 4.2.2.2による。 4.10.2の測定値に対してc)
ΔC/Cは,
等級1.1 : ≦1 %
等級1.2 : ≦3 %
等級2 : ≦5 %
誘電正接(tan δ) 4.2.3.2及び4.2.3.4による。 tan δの増加
CN≦1 Fの場合 :
等級1.1 : ≦0.001 5
等級1.2 : ≦0.003
等級2 : ≦0.005
CN>1 Fの場合 :
個別規格の規定による。
絶縁抵抗 4.2.4.3による。 4.2.4の規定値の50 %以上
――――― [JIS C 5101-16 pdf 15] ―――――
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JIS C 5101-16:2021の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-16:2019(IDT)
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- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.30 : 紙コンデンサ及びプラスチックコンデンサ
JIS C 5101-16:2021の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60063:2018
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISZ8601:1954
- 標準数