この規格ページの目次
12
C 5101-16 : 2021 (IEC 60384-16 : 2019)
表4−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D 試験条件a) 試料数(n) 要求事項a)
試験項目a) 又は 及び
ND b) 合格判定数(c)
群2 D 表3による。
4.11 高温高湿(定常)
4.11.3による。
4.11.2 初期測定 4.11.2による。
静電容量 4.2.2.2による。 規定の許容差による。
誘電正接(tan δ) 4.2.3.2及び4.2.3.4による。 初期規定値以下
4.11.4 後処理d) 4.11.4による。
4.11.3 最終測定
外観 4.1.2による。 外観に損傷がない。
表示は明瞭とする。
静電容量 4.2.2.2による。 4.11.2の測定値に対してc)
ΔC/Cは,
等級1.1 : ≦1 %
等級1.2 : ≦3 %
等級2 : ≦5 %
誘電正接(tan δ) 4.2.3.2及び4.2.3.4による。 tan δの増加は4.11.2の測定
値に対してc)
CN≦1 Fの場合 :
等級1 : ≦0.001
等級2 : ≦0.002
CN>1 Fの場合 :
個別規格の規定による。
絶縁抵抗 4.2.4.3による。 4.2.4の規定値の50 %以上
群3 D 表3による。
4.12 耐久性
4.12.3による。
4.12.2 初期測定
静電容量 4.2.2.2による。 規定の許容差による。
誘電正接(tan δ) CN>1 F : 4.2.3.2による。 初期規定値以下
CN≦1 F : 4.2.3.4による。
4.12.4 後処理 4.12.4による。
4.12.5 最終測定
外観 4.1.2による。 外観に損傷がない。
表示は明瞭とする。
静電容量 4.2.2.2による。 4.12.2の測定値に対して
ΔC/Cは,
等級1.1 : ≦1 %
等級1.2 : ≦3 %
等級2 : ≦5 %
誘電正接(tan δ) 4.2.3.2及び4.2.3.4による。 tan δの増加は4.12.2の測定
値に対してc)
CN≦1 Fの場合 :
等級1 : ≦0.002
等級2 : ≦0.004
CN>1 Fの場合 :
個別規格の規定による。
絶縁抵抗 4.2.4.3による。 4.2.4の規定値の50 %以上
――――― [JIS C 5101-16 pdf 16] ―――――
13
C 5101-16 : 2021 (IEC 60384-16 : 2019)
表4−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D 試験条件a) 試料数(n) 要求事項a)
試験項目a) 又は 及び
ND b) 合格判定数(c)
群4 D 表3による。
4.2.6 温度特性d) 4.2.6.2による。
4.2.6.3 要求事項
静電容量 4.2.2.2による。 表12及び表13による。
絶縁抵抗 4.2.4.3による。 表10による。
4.13 充放電
4.13.3による。
4.13.2 初期測定
静電容量 4.2.2.2による。 規定の許容差による。
誘電正接(tan δ) CN>1 F : 4.2.3.2による。 初期規定値以下
CN≦1 F : 4.2.3.4による。
4.13.4 後処理d) 4.13.4による。
4.13.5 最終測定
静電容量 4.2.2.2による。 4.13.2の測定値に対して
ΔC/Cは,
等級1.1 : ≦1 %
等級1.2 : ≦3 %
等級2 : ≦5 %
誘電正接(tan δ) 4.2.3.2及び4.2.3.4による。 tan δの増加は4.13.2の測定
値に対してc)
CN≦1 Fの場合 :
等級1 : ≦0.003
等級2 : ≦0.005
CN>1 Fの場合 :
個別規格の規定による。
絶縁抵抗 4.2.4.3による。 4.2.4の規定値の50 %以上
注a) 試験の細分箇条番号及び要求事項は,箇条4による。
注b) この表でDは破壊試験,NDは非破壊試験を示す。
注c) CN=公称静電容量(μF)。
注d) 要求がある場合。
注e) 参考値。
注f) 4.4.4,4.8.5又は4.9.5のいずれを適用するかは,個別規格に規定する。
注g) 4.8.5又は4.9.5のいずれを適用するかは,個別規格に規定する。
3.5 品質確認検査
3.5.1 検査ロットの構成
3.5.1.1 群A及び群B検査
これらの検査は,ロットごとに実施する。
製造業者は,次の条件でコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
a) 検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2参照)。
b) 試料は,検査ロットに含まれる定格電圧と公称静電容量との組合せ及び外形寸法の代表とする。
− 試料数
− 1組合せ当たり5個以上
――――― [JIS C 5101-16 pdf 17] ―――――
14
C 5101-16 : 2021 (IEC 60384-16 : 2019)
c) IEC電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,1組合せ当たりの抜取数が4個以下のとき,製造業者
は,認証機関(CB)の承認を必要とする。
3.5.1.2 群C検査
この検査は,定期的に実施する。
試料は,特定の期間に工程に流れている製品を代表するものとし,かつ,定格電圧の高電圧群,中電圧
群及び低電圧群に分類する。その期間に認証範囲の定格電圧の高電圧群,中電圧群及び低電圧群ごとに一
つの外形寸法のものを試験した場合,その後の期間では,認証の全ての範囲を対象とするために,製造中
のその他の定格電圧及び/又は外形寸法のものを試験する。
3.5.2 試験計画
ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画は,ブランク個別規格による。
3.5.3 長期保管後の出荷
JIS C 5101-1:2019のQ.1.7の規定に従い,はんだ付け性及び静電容量について群A及び群Bの再検査を
実施する。
3.5.4 評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準はEZとし,品質確認検査は表5及び表6による。
表5−ロットごとの品質確認検査
検査副群a) 評価水準EZ
IL b) n b) c b)
A0 100 % c)
A1 d)
S-4 0
A2 d)
S-3 0
B1 d)
S-3 0
注a) 検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条2に規定する。
注b) IL=検査水準,
n=試料数,
c=合格判定数
注c) この検査は,工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に実施する抜取試料による
検査である。検査ロットの合否にかかわらず,100万個当たりの不適合品率(×10−6)で示
す出荷品質水準を監視するために,抜取試料を全て検査する。抜取水準は,製造業者が選定
する。その場合,JIS C 5005-2:2010の附属書Aによることが望ましい。抜取試料中に1個
以上の不適合を発見した場合には,このロットは不合格とするが,品質水準を算出するため
に,不適合品の数を全て数える。100万個当たりの不適合品率(×10−6)で示す出荷品質水
準は,JIS C 5005-2:2010の6.2に規定する方法によって,累積した検査データから算出す
る。
注d) 試料数(n)は,JIS C 5005-2:2010の4.3.2によって決定する。
――――― [JIS C 5101-16 pdf 18] ―――――
15
C 5101-16 : 2021 (IEC 60384-16 : 2019)
表6−定期的品質確認検査
検査副群a) 評価水準EZ
p b) n b) c b)
C1A 6 5 0
C1B 6 5 0
C1 6 10 0
C2 6 10 0
C3 6 10 0
C4 6 10 0
C5 6 10 0
注a) 検査副群の内容は,ブランク個別規格の箇条2による。
注b) p =検査周期(月),
n =試料数,
c =合格判定数
4 試験及び測定方法
注記 この箇条は,JIS C 5101-1:2019の箇条4に規定する事項を補足する。
4.1 外観及び寸法
4.1.1 一般事項
外観及び寸法は,4.1.2及び4.1.3によるほか,JIS C 5101-1:2019の4.4による。
4.1.2 試験条件
外観は,供試品を要求する品質水準に適切な照明及び約10倍の拡大鏡を用いて検査する。
検査員には,適切な測定設備に加えて直接又は間接照明の設備を提供することが望ましい。
コンデンサは,材料,設計,構造及び物理的寸法を検証するために検査する。
4.1.3 要求事項
表4による。
出来栄えは,個別規格に規定する適用可能な要求事項による。
4.2 電気的性能
4.2.1 耐電圧
4.2.1.1 一般事項
耐電圧は,4.2.1.24.2.1.4によるほか,JIS C 5101-1:2019の4.6による。
4.2.1.2 試験回路
JIS C 5101-1:2019の図3からコンデンサC1を削除する。
R1の抵抗値と供試品の静電容量(CX)との積は,0.01秒間を超え1秒間以下とする。
――――― [JIS C 5101-16 pdf 19] ―――――
16
C 5101-16 : 2021 (IEC 60384-16 : 2019)
R1の抵抗値には,電源の内部抵抗を含む。
R2は,放電電流を1 A以下に制限する抵抗値とする。
4.2.1.3 試験条件
JIS C 5101-1:2019の表3の測定箇所間に,品質認証試験の場合では1分間,ロットごとの品質確認試験
では1秒間,表7に規定する試験電圧を印加する。
表7−試験電圧
測定箇所a) 試験電圧
1a 性能等級1 : 1.6 UR
性能等級2 : 1.4 UR
1b,1c 2 UR又は200 Vのいずれか高い値
注記 試験電圧の印加中に自己回復作用は許容されている。
注a) JIS C 5101-1:2019の表3の測定箇所
4.2.1.4 要求事項
表4による。
4.2.2 静電容量
4.2.2.1 一般事項
静電容量は,4.2.2.2及び4.2.2.3によるほか,JIS C 5101-1:2019の4.7による。
4.2.2.2 測定条件
静電容量の測定は,周波数1 kHzで実施する又はその他の周波数での測定値を周波数1 kHzでの値に補
正する。ただし,10 Fを超える公称静電容量のコンデンサは,周波数50 Hz120 Hzで測定してもよい
が,判定周波数は1 kHzとする。
周波数1 kHzでの測定電圧のピーク電圧値は,定格電圧の3 %以下とし,周波数50 Hz120 Hzでのピ
ーク電圧値は,定格電圧の20 %又は100 V(実効値70 V)のいずれか小さい値以下とする。
4.2.2.3 要求事項
表4による。
4.2.3 誘電正接(tan δ)
4.2.3.1 一般事項
誘電正接(tan δ)は,4.2.3.24.2.3.5によるほか,JIS C 5101-1:2019の4.8による。
4.2.3.2 1 kHzでの測定条件
誘電正接(tan δ)の測定条件は,次による。
− 周波数 : 1 kHz
− ピーク電圧 : 定格電圧の3 %以下
――――― [JIS C 5101-16 pdf 20] ―――――
次のページ PDF 21
JIS C 5101-16:2021の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-16:2019(IDT)
JIS C 5101-16:2021の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.30 : 紙コンデンサ及びプラスチックコンデンサ
JIS C 5101-16:2021の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60063:2018
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISZ8601:1954
- 標準数