JIS C 5101-16:2021 電子機器用固定コンデンサ―第１６部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ | ページ 5

                                                                                            17
                                                              C 5101-16 : 2021 (IEC 60384-16 : 2019)
− 確度    : 5×10−4(絶対値)以下
4.2.3.3 1 kHzでの要求事項
  誘電正接(tan δ)は,表8に示す要求事項を満足しなければならない。
                             表8−誘電正接(tan δ)規定値(1 kHz)
                    公称静電容量               誘電正接tan δ(絶対値)
                                           性能等級1            性能等級2
                      CN≦1 F             ≦10×10−4          ≦20×10−4
                 注記 1 Fを超えるコンデンサのtan δ値は,個別規格に規定することになる。
4.2.3.4 10 kHzでの測定条件
  誘電正接(tan δ)の測定は,次による。
− 周波数    : 10 kHz
− ピーク電圧 : ≦1 V(実効値)
− 確度    : ≦5×10−4(絶対値)
4.2.3.5 10 kHzでの要求事項
  誘電正接(tan δ)は,表9に示す要求事項を満足しなければならない。
                             表9−誘電正接(tan δ)規定値(10 kHz)
                    公称静電容量               誘電正接tan δ(絶対値)
                                           性能等級1            性能等級2
                      CN≦1 F             ≦20×10−4          ≦40×10−4
                 注記 1 Fを超えるコンデンサのtan δ値は,個別規格に規定することになる。
4.2.4 絶縁抵抗
4.2.4.1 一般事項
  絶縁抵抗は,4.2.4.24.2.4.5によるほか,JIS C 5101-1:2019の4.5による。
4.2.4.2 前処理
  測定の前にコンデンサを十分に放電する。放電抵抗値と供試品の公称静電容量値との積は,0.01秒間以
上又は個別規格の規定による。
4.2.4.3 測定条件
  測定電圧は,JIS C 5101-1:2019の4.5.2による。
  測定電圧は,電源の内部抵抗を通して規定値を直接印加する。
  電源の内部抵抗値とコンデンサの公称静電容量値との積は,1秒間未満又は個別規格の規定による。
4.2.4.4 要求事項
  絶縁抵抗は,表10に示す要求事項を満足しなければならない。

――――― [JIS C 5101-16 pdf 21] ―――――

           18
C 5101-16 : 2021 (IEC 60384-16 : 2019)
                                   表10−絶縁抵抗の要求事項
            要求事項          RC積の最小値a)             端子間      端子−外装間
                                                       絶縁抵抗最小値 絶縁抵抗最小値
                                     s                     GΩ            GΩ
          CN                     >0.33 F               ≦0.33 F    全ての静電容量
          UR             >100 V        ≦100 V       全ての電圧     全ての電圧
           性能等級     1      2      1      2      1      2    全ての性能等級
           要求値     30 000 7 500  15 000 3 750   100     25        100
           測定箇所b)                      1a                            1b,1c
            注a) R : 端子間絶縁抵抗,C : 公称静電容量(CN)
            注b) JIS C 5101-1:2019の表3による。
4.2.4.5 温度補正
  20 ℃以外の温度で測定した場合は,必要に応じて測定値に適切な補正係数を乗じて20 ℃の値に補正す
る。判定に疑義のある場合は,20 ℃で測定する。表11に示す補正係数は,メタライズドポリプロピレン
フィルムコンデンサの平均値である。
                                        表11−補正係数
                                       温度     補正係数
                                        ℃
                                        15        0.75
                                        20        1
                                        23        1.25
                                        27        1.50
                                        30        1.75
                                        35        2
4.2.5 インダクタンス(要求がある場合)
4.2.5.1 一般事項
  インダクタンスは,4.2.5.2によるほか,JIS C 5101-1:2019の4.11による。
4.2.5.2 要求事項
  表4による。
  近似値は,共振周波数及び4.2.2の静電容量測定値から算出可能である。
4.2.6 温度特性(要求がある場合)
4.2.6.1 一般事項
  温度特性は,4.2.6.2及び4.2.6.3によるほか,JIS C 5101-1:2019の4.24.1による。
4.2.6.2 測定条件
  静電容量の測定は,JIS C 5101-1:2019の4.24.1.2のb),d)及びf)で実施する。
  絶縁抵抗の測定は,JIS C 5101-1:2019の4.24.1.2のf)で実施する。

――――― [JIS C 5101-16 pdf 22] ―――――

                                                                                            19
                                                              C 5101-16 : 2021 (IEC 60384-16 : 2019)
  絶縁抵抗の測定箇所は,JIS C 5101-1:2019の表3の1a,1b及び1cとする。
4.2.6.3 要求事項
  カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度での要求事項は,それぞれ表12及び表13による。
                                表12−カテゴリ下限温度での特性
                                                     静電容量の温度特性
                         JIS C 5101-1:2019の4.24.1.2の
                               b)での試験温度
                             −10 ℃及び−25 ℃       0≦C ≦+2.25 %
                                                           C
                                  −40 ℃             0≦C ≦+3 %
                                                           C
                                  −55 ℃             0≦C ≦+3.75 %
                                                           C
                                表13−カテゴリ上限温度での特性
  JIS C 5101-1:2019静電容量の温度特性              絶縁抵抗                   絶縁抵抗
    の4.24.1.2の                                                          [JIS C 5101-1:2019の
                                      [JIS C 5101-1:2019の表3の測定箇所1a]
   b)での試験温度                        CN>0.33 F       CN≦0.33 F      表3の測定箇所1b
                                            R1×CN             R1             及び1c]
                                               s               GΩ               GΩ
        70 ℃     −2.5 %≦C ≦0          1500               5                  5
                            C
        85 ℃     −3.25 %≦C ≦0         1200               4                  4
                             C
       100 ℃     −4 %≦C ≦0              750              2.5                2.5
                          C

4.3 端子強度

4.3.1 一般事項
  端子強度は,4.3.24.3.4によるほか,JIS C 5101-1:2019の4.13による。
4.3.2 初期測定
  表4による。
4.3.3 試験方法
  JIS C 5101-1:2019の4.13による。
4.3.4 最終検査及び要求事項
  表4による。

4.4 はんだ耐熱性

4.4.1 一般事項
  はんだ耐熱性は,4.4.24.4.4によるほか,JIS C 5101-1:2019の4.14による。

――――― [JIS C 5101-16 pdf 23] ―――――

           20
C 5101-16 : 2021 (IEC 60384-16 : 2019)
4.4.2 前処理
  初期乾燥は,適用しない。
4.4.3 試験条件
  JIS C 5101-1:2019の4.14による。
4.4.4 最終測定及び要求事項
  表4による。

4.5 はんだ付け性

4.5.1 一般事項
  はんだ付け性は,4.5.24.5.4によるほか,JIS C 5101-1:2019の4.15による。
4.5.2 前処理
  エージングは,適用しない。
4.5.3 試験条件
  JIS C 5101-1:2019の4.15.3による。
  はんだ小球法を適用する場合は,個別規格の規定による。はんだ槽法又ははんだ小球法のいずれの試験
も適用することが不可能な場合は,はんだこて法のこて先寸法Aを用いて試験を実施する。
4.5.4 要求事項
  表4による。

4.6 温度急変

4.6.1 一般事項
  温度急変は,4.6.24.6.5によるほか,JIS C 5101-1:2019の4.16による。
4.6.2 初期測定
  表4による。
4.6.3 試験条件
  試験条件は,次による。
  サイクル数は,5回とする。
− 個別規格に規定がない場合,各温度でのさらし時間は,30分間とする。
4.6.4 後処理(要求がある場合)
  後処理時間は,個別規格に規定する。

――――― [JIS C 5101-16 pdf 24] ―――――

                                                                                            21
                                                              C 5101-16 : 2021 (IEC 60384-16 : 2019)
4.6.5 最終測定及び要求事項
  表4による。

4.7 振動

4.7.1 一般事項
  振動は,4.7.24.7.4によるほか,JIS C 5101-1:2019の4.17による。
4.7.2 取付け
  個別規格には,取付方法を規定する。
  リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子付き)のコンデンサで,リード線端子だけで取り付
ける場合,コンデンサ本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.7.3 試験条件
  試験条件は,次による。
− 振幅又は加速度 : 片振幅0.75 mm又は加速度100 m/s2のいずれか振幅の小さい方
− 周波数 10 Hz55 Hz,10 Hz500 Hz又は10 Hz2 000 Hz(個別規格に規定がない場合)
− 合計時間 6時間[3方向(X軸,Y軸及びZ軸)各2時間]
4.7.4 最終測定及び要求事項
  表4による。

4.8 バンプ(要求がある場合)

4.8.1 一般事項
  バンプは,4.8.24.8.5によるほか,JIS C 5101-1:2019の4.18による。
  バンプ又は衝撃のいずれの試験を適用するかは,個別規格に規定する。
4.8.2 取付け
  個別規格には,取付方法を規定する。
  リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子付き)のコンデンサで,リード線端子だけで取り付
ける場合,コンデンサ本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.8.3 初期測定
  初期測定は,適用しない。
4.8.4 試験条件
  個別規格には,次の推奨する厳しさのいずれかを規定する。
   バンプの総回数 : 1 000回又は4 000回

――――― [JIS C 5101-16 pdf 25] ―――――

次のページ PDF 26