この規格ページの目次
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C 5101-20-1 : 2010 (IEC 60384-20-1 : 2008)
(7) 互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は外形に関する国内規格若しくは国際規格の
引用。この図は,個別規格の附属書としてもよい。
(8) 適用範囲若しくは適用グループの範囲及び/又は評価水準
注記 個別規格に規定する評価水準は,品種別通則 JIS C 5101-20の3.5.4(評価水準)から選定す
る。
ブランク個別規格の試験の群構成と同じであれば,個別規格に複数の評価水準を規定して
もよい。
(9) 重要な特性に関する参照データ
例 社団法人電子情報技術産業協会 (1) 個別規格番号 (2)
例 電子機器用固定コンデンサ 例 JIS C 5101-20-1(ブランク個別規格番号) (4)
第1部 : 品目別通則 (3) 個別規格の名称
JIS C 5101-1:2010 例 表面実装用固定メタライズドポリフェニレン
外形図(表1参照) スルフィドフィルム直流コンデンサ (5)
(第三角法) 構造の説明 (6)
(7) 評価水準(複数も可) : 例 EZ (8)
(規定寸法内であれば,外形は異なってもよい。) 性能等級
安定性等級
注記 (1)(8) : 個別規格の識別及びコンデンサの識別による。
この個別規格で認証されたコンデンサの詳しい内容は品質認証書 (Qualification approval
certificate) に示されている。*
注* この記載は,IEC 電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合に適用する。
(pdf 一覧ページ番号 )
注記 (9)は,コンデンサの識別による。
1 一般事項
1.0 適用範囲
この規格は,JIS C 5101-20を品種別通則とするブランク個別規格で,表面実装用固定メタライズドポリ
フェニレンスルフィドフィルム直流コンデンサの評価水準EZ(以下,コンデンサという。)について規定
する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 60384-20-1:2008,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 20-1: Blank detail
specification−Fixed metallized polyphenylene sulfide film dielectric surface mount d.c. capacitors
−Assessment level EZ (IDT)
なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
とを示す。
1.1 推奨する取付方法
推奨する取付方法は,JIS C 5101-20の1.4.2(取付け)による。
1.2 寸法
外形寸法記号及び寸法は,表1による。
――――― [JIS C 5101-20-1 pdf 6] ―――――
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C 5101-20-1 : 2010 (IEC 60384-20-1 : 2008)
表1−外形寸法記号及び寸法
単位 mm
外形寸法記号 寸法
L1 W1 H1 L2 L3 L4 ···
注記1 外形寸法記号がない場合は,この表1を削除し,寸法を表2に記載してそれを表1とする。
注記2 寸法は,最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。
1.3 定格及び特性
定格及び特性は,次による。
公称静電容量範囲(表2による。)
公称静電容量許容差
定格電圧(表2による。)
カテゴリ電圧(個別規格に規定がある場合)(表2による。)
耐候性カテゴリ
定格温度
最大交流電圧(個別規格に規定がある場合)
最大パルス負荷(個別規格に規定がある場合)
誘電正接 (tan δ)
絶縁抵抗
表2−外形寸法に組み合わせた公称静電容量及び定格電圧
定格電圧
カテゴリ電圧*
公称静電容量 外形寸法記号 外形寸法記号 外形寸法記号 外形寸法記号
nF及び/又はF
注* 定格電圧と異なる場合。
1.4 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 5101-1 電子機器用固定コンデンサ−第1部 : 品目別通則
JIS C 5101-20:2010 電子機器用固定コンデンサ−第20部 : 品種別通則 : 表面実装用固定メタライズ
ドポリフェニレンスルフィドフィルム直流コンデンサ
注記 対応国際規格 : IEC 60384-20:2008,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 20:
Sectional specification−Fixed metallized polyphenylene sulfide film dielectric surface mount d.c.
capacitors (IDT)
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1 部 : ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
――――― [JIS C 5101-20-1 pdf 7] ―――――
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C 5101-20-1 : 2010 (IEC 60384-20-1 : 2008)
注記 対応国際規格 : IEC 60410 : 1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes (MOD)
1.5 表示
コンデンサの本体及び包装の表示は,JIS C 5101-20の1.6(表示)による。
コンデンサの本体及び包装への表示の詳細は,個別規格に規定する。
1.6 発注情報
この規格のコンデンサの発注情報には,少なくとも次の事項を,明りょうな文字又は記号によって規定
する。
a) 公称静電容量
b) 公称静電容量許容差
c) 定格直流電圧
d) 個別規格の番号及び発行年並びにコンデンサの種類
e) 包装形態
1.7 出荷対象ロットの成績証明書
成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。
注記 顧客からの成績証明書要求の有無を明記する。
1.8 追加情報(非検査目的)
注記 検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。
1.9 品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項
品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項は,表3による。
注記 追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合に規定する。
表3−その他の特性
この表は,JIS C 5101-20の規定への追加又はより厳しい特性を規定するために使用する。
2 検査要求事項
2.1 手順
2.1.1 品質認証の手順は,JIS C 5101-20の3.4(品質認証)による。
2.1.2 品質確認検査の試験計画(表4)は,抜取方法,周期,厳しさ及び要求性能を示す。検査ロットの
構成は,JIS C 5101-20の3.5.1(検査ロットの構成)による。
――――― [JIS C 5101-20-1 pdf 8] ―――――
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C 5101-20-1 : 2010 (IEC 60384-20-1 : 2008)
表4−品質確認検査の試験計画
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数及び 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 合格判定数c)
NDc) IL n c
群A検査
(ロットごと)
副群A0 ND 100 % d)
4.3.2 静電容量 規定の許容差による。
4.3.3 誘電正接 周波数 : 1 kHz(すべての 4.3.3.2による。
静電容量値に適用)
4.3.1 耐電圧(試験A)h) 方法 : ...
測定点 : 1ah) 絶縁破壊又はフラッシオ
ーバがない。ただし,
一時的瞬時破壊はあっ
てもよい。
4.3.4 絶縁抵抗(試験A)h) 測定点 : 1ah) 4.3.4.3による。
b)
副群A1 ND S-3 0
4.2.1 外観 4.2.2による。
表示[適用する場合j)]は
明りょうとし,その他
は,この規格の1.5 に
よる。
b)
副群A2 ND S-3 0
4.2 寸法e) この規格の表1による。
群B検査
(ロットごと)
b)
副群B1 D S-3 0
4.7 はんだ付け性 エージングは行わない。
方法 : ...
4.7.2 最終測定 外観検査 4.7.2による。
b)
副群B2 D S-3 0
4.14 表示の耐溶剤性f),j) 溶剤 : ... 表示は,明りょうとする。
(個別規格に規定があ 溶剤の温度 : ...
る場合) 方法1
ラビングの材料 : 脱脂綿
後処理時間 : ...
――――― [JIS C 5101-20-1 pdf 9] ―――――
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C 5101-20-1 : 2010 (IEC 60384-20-1 : 2008)
表4−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 及び合格判定数c)
NDc) p n c
群C検査
(定期的)
副群C1 D 3 12 0g)
4.6 はんだ耐熱性 方法 : ...
4.6.1 初期測定 静電容量
4.6.2 試験条件 時間 : ...
方法1 を適用する場合,
浸せき及び引上げの速
さは,25 mm/s±2.5
mm/sとする。
後処理時間 : 24 h±2 h
4.6.3 最終測定 外観 4.6.3による。
静電容量 4.6.1の測定値に対して,
性能等級1及び2
|ΔC/C|≦2 %,
性能等級3
|ΔC/C|≦3 %
4.13 部品の耐溶剤性 溶剤 : ... 個別規格の規定による。
(個別規格に規定があ 溶剤の温度 : ...
る場合) 方法2
後処理時間 : ...
副群C2 D 3 12 0 g)
4.5 耐プリント板曲げ性
(電極の接着強度)
4.5.1 初期測定 静電容量
4.5.2 最終測定 静電容量(プリント配線 4.5.1の測定値に対して,
板を曲げた状態) 性能等級1及び2
|ΔC/C|≦2 %,
性能等級3
|ΔC/C|≦5 %
外観 外観に損傷がない。
――――― [JIS C 5101-20-1 pdf 10] ―――――
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JIS C 5101-20-1:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-20-1:2008(IDT)
JIS C 5101-20-1:2010の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5101-20-1:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5101-1:2019
- 電子機器用固定コンデンサ―第1部:品目別通則
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式