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C 5101-20-1 : 2010 (IEC 60384-20-1 : 2008)
表4−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 及び合格判定数c)
NDc) p n c
副群C3 D
4.1 取付け i) プリント配線板の材質 : ...i)
4.2.1 外観 個別規格の規定による。
4.3.2 静電容量 副群A0の測定値に対し
て,|ΔC/C|≦2 %
−
4.3.3 誘電正接 周波数 : 4.3.3.2による。
1 kHz(すべての静電容量値 (副群C3.1,副群C3.2,
に適用) 副群C3.3及び副群C3.4
10 kHz,CN≦1 ‰ 極 の最終測定に対する初
(追加として,4.3.3.3に 期値)
よる。)
4.3.4 絶縁抵抗 4.3.4.3による。
副群C3.1 D 6 27 0 g)
4.4 固着性
最終測定(JIS C 5101-1の 外観 外観に損傷がない。
4.34.3)
4.8 温度急変
4.8.1 初期測定 行わない。副群C3 の測定
値による。
4.8.2 試験条件 TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
5 サイクル
時間t1=30 min
4.8.3 中間測定 外観 外観に損傷がない。
4.9 一連耐候性
4.9.1 初期測定 行わない。群3 の測定値に
よる。
4.9.2 高温 温度 : カテゴリ上限温度
時間 : 16 h
4.9.3 温湿度サイクル
(試験Db),最初のサイク
ル
4.9.4 低温 温度 : カテゴリ下限温度
時間 : 2 h
4.9.5 温湿度サイクル 試験槽から取出し後,15分
(試験Db),残りのサ 以内に定格電圧を1分間
イクル 印加する。
――――― [JIS C 5101-20-1 pdf 11] ―――――
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C 5101-20-1 : 2010 (IEC 60384-20-1 : 2008)
表4−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 及び合格判定数c)
NDc) p n c
副群C3.1(続き)
4.9.6 最終測定 外観 外観に損傷がない。
表示は,明りょうとする。
静電容量 副群C3の測定値に対して,
性能等級1及び2
|ΔC/C|≦3 %,
性能等級3
|ΔC/C|≦5 %
誘電正接 : 誘電正接の増加 :
CN≦1 10 kHz 副群C3の測定値に対して,
性能等級1, ≦0.002 5
性能等級2, ≦0.004
性能等級3, ≦0.005
CN>1 1 kHz 副群C3の測定値に対して,
性能等級1, ≦0.001 5
性能等級2, ≦0.002 5
性能等級3, ≦0.003
絶縁抵抗 4.3.4.3の値に対して,
性能等級1及び2
≧50 %,
性能等級3
≧25 %
副群C3.2 6 15 0g)
4.10 高温高湿(定常)
4.10.1 初期測定 行わない。副群C3の測定値
による。
後処理時間 : ...
4.10.2 最終測定 外観 外観に損傷がない。
静電容量 副群C3の測定値に対して,
性能等級1及び2
|ΔC/C|≦3 %,
性能等級3
|ΔC/C|≦5 %
誘電正接 : 誘電正接の増加 :
1 kHz 副群C3の測定値に対して,
≦0.002 5
絶縁抵抗 4.3.4.3の値に対して,
性能等級1及び2
≧50 %,
性能等級3
≧25 %
――――― [JIS C 5101-20-1 pdf 12] ―――――
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C 5101-20-1 : 2010 (IEC 60384-20-1 : 2008)
表4−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 及び合格判定数c)
NDc) p n c
副群C3.3 D 3 15 0 g)
4.11 耐久性
4.11.1 初期測定 行わない。副群C3の測定値
による。
4.11.2 試験条件 4.11.2,4.11.3及び4.11.4に
よる。
4.11.5 最終測定 外観 外観に損傷がない。
表示は,明りょうとする。
静電容量 副群C3の測定値に対して,
性能等級1
|ΔC/C|≦5 %,
性能等級2及び3
|ΔC/C|≦8 %
誘電正接 : 誘電正接の増加 :
CN≦1 10 kHz 副群C3の測定値に対して,
性能等級1
≦0.003,
性能等級2及び3
≦0.005
CN>1 1 kHz 副群C3の測定値に対して,
性能等級1
≦0.002,
性能等級2及び3
≦0.003
絶縁抵抗 4.3.4.3の値に対して,
性能等級1及び2
≧50 %,
性能等級3
≧30 %
副群C3.4 D 6 9 0 g)
4.12 充放電
4.12.1 初期測定 行わない。副群C3の測定値
による。
4.12.2 試験条件 10 000サイクル
4.12.3 最終測定 静電容量 副群C3の測定値に対して,
性能等級1
|ΔC/C|≦3 %,
性能等級2
|ΔC/C|≦5 %,
性能等級3
|ΔC/C|≦8 %
――――― [JIS C 5101-20-1 pdf 13] ―――――
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C 5101-20-1 : 2010 (IEC 60384-20-1 : 2008)
表4−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 及び合格判定数c)
ND c) p n c
副群C3.4(続き)
4.12.3 最終測定(続き) 誘電正接 : 誘電正接の増加 :
CN≦1 10 kHz 副群C3の測定値に対して,
性能等級1
≦0.003,
性能等級2及び3
≦0.005
CN>1 1 kHz 副群C3の測定値に対して,
性能等級1
≦0.002,
性能等級2及び3
≦0.003
絶縁抵抗 4.3.4.3 の値に対して,
性能等級1及び2
≧50 %,
性能等級3
≧30 %
注記 取付け後に不適合となった試料は,その後に行う試験の許容不適合の計算に加えてはならない。それらは,
予備の試料と置き換える。
注a) 試験の細分箇条番号及び要求性能は,JIS C 5101-20及びこの規格の箇条1による。
b) 試料数 (n) は,JIS Z 9015-1に規定の付表1[サンプル(サイズ)文字]の検査水準 (IL) とロットサイズ
とで割り当てるサンプル文字に従い,付表2-A[なみ検査の1回抜取方式(主抜取表)]のサンプル文字に
対応する試料数とする。
c) この表の記号は,次による。
IL : 検査水準
p : 周期(月)
n : 試料数
c : 合格判定個数(許容不良数)
D : 破壊試験
ND : 非破壊試験
d) この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水
準は部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するために
抜取試料をすべて検査する。
抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質
水準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は累積した検査データによって算出する。
e) 製造業者が,管理限界を超えるコンデンサを取り除くため,寸法測定に統計的工程管理 (SPC) 又はその他
の仕組みを取り入れている場合は,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。
f) この試験は,コンデンサをプリント配線板に取り付けた状態で実施してもよい。
g) 不適合が1 個発生した場合,新しい試料によって副群のすべての試験を再度行い,新たな不適合が発生し
ないとき合格とする。再試験の間,製品の出荷は継続してもよい。
h) IS C 5101-1の4.5(絶縁抵抗)及び4.6(耐電圧)による。
i) 各副群で異なるプリント配線板材料を用いる場合は,それぞれの副群で用いるプリント配線板材料を個別規
格に規定する。
j) 本体に表示がある場合に適用する。
JIS C 5101-20-1:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-20-1:2008(IDT)
JIS C 5101-20-1:2010の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5101-20-1:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5101-1:2019
- 電子機器用固定コンデンサ―第1部:品目別通則
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式