この規格ページの目次
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C 5101-2-1 : 2009 (IEC 60384-2-1 : 2005)
注記 コンデンサがプリント配線板用に設計されていない場合には,個別規格のこの欄にそのこと
を明記することが望ましい。
[7] 互換性の上で重要な主要寸法を記載した外径図及び/又は外形に関する国内規格若しくは国際規格の
引用。この図は,個別規格の附属書としてもよい。
[8] 適用範囲若しくは適用グループの範囲及び/又は評価水準。
注記 個別規格に規定する評価水準は,品種別通則JIS C 5101-2の3.5.4から選定する。このブラン
ク個別規格の試験の群構成と同じであれば,個別規格に複数の評価水準を規定してもよい。
[9] 重要な特性に関する参照データ
例 社団法人電子情報技術産業協会 [1] 個別規格番号 [2]
例 電子機器用固定コンデンサ [3] 例 JIS C 5101-2-1(ブランク個別規格番号) [4]
第1部 : 品目別通則
個別規格の名称 [5]
JIS C 5101-1 : 1998
例 固定メタライズドポリエチレンテレフタレート
外形図(表1参照) [7] フィルム直流コンデンサ
(第三角法) 構造の説明 [6]
評価水準(複数も可) : [8]
例 E及びEZ
(規定寸法内であれば,外形は異なってもよい。)
性能等級 : 1
注記 [1][9]は前述の識別による。
この個別規格で認証されたコンデンサの詳しい内容は,品質認証電 [9]
子部品一覧法 (QPL) に示されている。*
注* この記載は,IEC 品質認証制度 (IECQ) の場合に適用する。
1 一般事項
1.0 適用範囲
この規格は,JIS C 5101-2を品種別通則とするブランク個別規格で,電子機器用固定メタライズドポリ
エチレンテレフタレートフィルム直流コンデンサ(以下,コンデンサという。)の評価水準E及びEZにつ
いて適用する。
注記 この規格の対応国際規格及びその程度を表す記号を,次に示す。
IEC 60384-2-1 : 2005,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 2-1 : Blank detail
specification : Fixed metallized polyethylene-terephthalate film dielectric d.c. capacitors−
Assessment levels E and EZ (IDT)
なお,対応の程度を表す記号 (IDT) は,ISO/IEC Guide 21に基づき,一致していることを
示す。
1.1 推奨する取付方法(挿入用)
推奨する取付方法は,JIS C 5101-2の1.4.2による。
1.2 寸法
寸法は,表1による。
――――― [JIS C 5101-2-1 pdf 6] ―――――
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C 5101-2-1 : 2009 (IEC 60384-2-1 : 2005)
表1−外形寸法記号及び寸法
寸法 (mm)
外形寸法記号
φ L H d ···
注記 1 外形寸法記号がない場合は,この表1は削除し,寸法を表2に記載してそれを表1とする。
注記 2 寸法は,最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。
1.3 定格及び性能
定格及び特性は,次による。
定格静電容量範囲 (表2による。)
定格静電容量許容差
定格電圧 (表2による。)
カテゴリ電圧(適用する場合) (表2による。)
耐候性カテゴリ
定格温度
最大交流電圧(適用する場合)
最大パルス負荷
誘電正接(tanδ)
絶縁抵抗
表2−外形寸法に組み合わせた定格電圧及び定格静電容量
定格電圧
カテゴリ電圧*
定格静電容量 外形寸法 外形寸法 外形寸法 外形寸法
nF 及び/又はF
注* 定格電圧と異なる場合。
1.4 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格はその最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 5101-2 : 2009 電子機器用固定コンデンサ−第2部 : 品種別通則 : 固定メタライズドポリエチレ
ンテレフタレートフィルム直流コンデンサ
注記 対応国際規格 : IEC 60384-2 : 2005,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 2 :
Sectional specification : Fixed metallized polyethylene-terephthalate film dielectric d.c.
capacitors (IDT)
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
注記 対応国際規格 : IEC 60410 : 1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes
(MOD)
1.5 表示
適用する場合,コンデンサ及び包装の表示は,品種別通則 JIS C 5101-2の1.6(表示)による。
――――― [JIS C 5101-2-1 pdf 7] ―――――
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C 5101-2-1 : 2009 (IEC 60384-2-1 : 2005)
注記 コンデンサ及び包装への表示の詳細は,個別規格に規定する。
1.6 発注情報
この規格のコンデンサの発注情報には,少なくとも次の事項を,明りょうな文字又は記号によって示す。
a) 定格静電容量
b) 定格静電容量許容差
c) 定格直流電圧
d) 製造業者の形名又は個別規格に記載する形名
1.7 出荷対象ロットの成績証明書
成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。
注記 顧客からの成績証明書要求の有無を明記する。
1.8 追加情報(非検査目的)
注記 検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。
1.9 品目別通則及び/又は品種別通則への追加若しくはより厳しい要求事項
追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合にだけ規定し,表3による。
表3−その他の特性
この表は,品種別通則JIS C 5101-2の規定内容に対して,追加又はより厳しい特性
を規定するために,使用する。
2 検査要求事項
2.1 手順
2.1.1 品質認証の手順
品質認証の手順は,JIS C 5101-2の3.4による。
2.1.2 品質確認検査の試験計画
品質確認検査の試験計画(表4及び表5)は,抜取方法,周期,厳しさ及び要求性能を示す。検査ロッ
トの構成は,品種別通則JIS C 5101-2の3.5.1による。
――――― [JIS C 5101-2-1 pdf 8] ―――――
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C 5101-2-1 : 2009 (IEC 60384-2-1 : 2005)
表4−ロットごとの品質確認検査の試験計画(群A及び群B検査) 評価水準E及びEZ
細分箇条番号及び試験項目 試験条件a) 評価 評価水準 要求性能a)
a) D
水準 EZ
又は IL c)
E
ND c)
AQL c) n c) c)
群A(ロットごと)
副群A0 ND 100 %d)
4.2.2 静電容量 規定の許容差による。
4.2.3 誘電正接 (tan δ) 測定周波数 : 1 kHz 4.2.3.2による。
すべての容量範囲
4.2.1 耐電圧(試験A) 方法 : ··· 絶縁破壊又はフラッシ
測定点1a オーバがない。ただし
一時的瞬間破壊があ
ってもよい。
4.2.4 絶縁抵抗(試験A) 測定点1a 4.2.4.2による。
b)
副群A1 ND S-3 2.5% 0
4.1 外観 4.1による。
表示は明りょうとする。
この規格の1.5の規定に
よる。
4.1 寸法(ゲージ法) この規格の表1による。
副群A2 ND S-3 1.0%
4.2.2 静電容量 規定の許容差による。
4.2.3 誘電正接 (tan δ) 4.2.3.2による。
4.2.1 耐電圧(試験A) 絶縁破壊又はフラッシ
オーバがない。
4.2.4 絶縁抵抗(試験A) 4.2.4.2による。
群B(ロットごと)
b)
副群B1 ND S-3 2.5% 0 端子にはんだが良好に
4.5 はんだ付け性 エージングなし。 付着しているか又は
方法 : ··· はんだ小球法の場合
は...s以内にはんだが
流れる。
4.15 表示の耐溶剤性 溶剤 : ··· 表示は明りょうとする。
(適用する場合) 溶剤の温度 : ···
方法1
ラビングの材料
後処理時間
注a) この細分箇条番号及び要求性能は,箇条1及び品種別通則JIS C 5101-2による。
b) 試料数 (n) は,JIS Z 9015-1に規定する付表1の検査水準 (IL)/ロットサイズで割り当てるサンプル文字に従い,
付表2-Aのサンプル文字に対応する試料数。
c) この表の記号は,次による。
p : 周期(月),n : 試料数,c : 合格判定数,
D : 破壊試験,ND : 非破壊試験,
IL : 検査水準,AQL : 合格品質限界
d) この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水準は
部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するために抜取試料
をすべて検査する。
抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質水準
を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は,累積した検査データによって算出する。
――――― [JIS C 5101-2-1 pdf 9] ―――――
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C 5101-2-1 : 2009 (IEC 60384-2-1 : 2005)
表5−定期的品質確認検査の試験計画(群C検査) 評価水準E及びEZ
細分箇条番号及び試験 試験条件a) 試料数及び合格判定数b) 要求性能a)
D
項目 E EZ
a) 又は
p n c p n c
ND c) c)
群C 検査(定期的)
副群C1 A D 6 9 1 6 5 0
副群C1の試料の一部
4.1 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
4.3.1 初期測定 静電容量
誘電正接 (tan δ)
CR>1 F : 1 kHz
CR≦1 F : 10 kHz
4.3 端子強度 外観 外観に損傷がない。
4.4 はんだ耐熱性 方法 : ...
4.14 部品の耐溶剤性 溶剤 : ... 個別規格の規定による。
(適用する場合) 溶剤の温度 : ...
方法2 : ...
後処理時間 : ...
4.4.2 最終測定 外観 外観に損傷がない。
表示は明りょうとする。
静電容量 4.3.1の測定値に対して
ΔC/C≦2 %
誘電正接 (tan δ) tan δの4.3.1の値からの
増加量
等級1 (CR≦1 F) : ≦0.003
等級1 (CR>1 F) : ≦0.002
等級2 (CR≦1 F) : ≦0.005
等級2 (CR>1 F) : ≦0.003
――――― [JIS C 5101-2-1 pdf 10] ―――――
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JIS C 5101-2-1:2009の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-2-1:2005(IDT)
JIS C 5101-2-1:2009の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.30 : 紙コンデンサ及びプラスチックコンデンサ
JIS C 5101-2-1:2009の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式