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日本工業規格(日本産業規格) JIS
C 5101-21 : 2014
(IEC 60384-21 : 2011)
電子機器用固定コンデンサ−
第21部 : 品種別通則 :
表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 21: Sectional specification-Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric, Class 1
序文
この規格は,2011年に第2版として発行されたIEC 60384-21を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。
1 一般事項
1.1 適用範囲
この規格は,JIS C 5101-1を品目別通則とする品種別通則で,電子機器用の外装なし固定積層磁器コン
デンサ種類1の表面実装用コンデンサ(以下,コンデンサという。)について規定する。この規格に規定す
るコンデンサは,金属化電極又ははんだ付け用板端子をもち,プリント配線板又はハイブリッド回路用基
板に直接搭載することを意図している。
電磁障害防止固定コンデンサは,この規格を適用せず,JIS C 5101-14を適用する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 60384-21:2011,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 21: Sectional specification
−Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric, Class 1(IDT)
なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
とを示す。
1.2 目的
この規格の目的は,コンデンサの推奨する定格及び特性について規定するとともに,JIS C 5101-1から
適切な品質評価手順,試験方法及び測定方法を選定し,一般要求性能を規定することである。この品種別
通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は,この規格よりも低い水準であってはな
らず,同等又は高い水準とする。
1.3 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。
JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部 : 電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式
――――― [JIS C 5101-21 pdf 6] ―――――
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C 5101-21 : 2014 (IEC 60384-21 : 2011)
の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
注記 対応国際規格 : IEC 61193-2:2007,Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of
sampling plans for inspection of electronic components and packages(IDT)
JIS C 5063:1997 抵抗器及びコンデンサの標準数列
注記 対応国際規格 : IEC 60063:1963,Preferred number series for resistors and capacitors,Amendment
1:1967及びAmendment 2:1977(IDT)
JIS C 5101-1:2010 電子機器用固定コンデンサ−第1部 : 品目別通則
注記 対応国際規格 : IEC 60384-1:2008,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1: Generic
specification(IDT)
JIS C 60068-1:1993 環境試験方法−電気・電子−通則
注記 対応国際規格 : IEC 60068-1:1988,Environmental testing−Part 1: General and guidance及び
Amendment 1:1992(IDT)
JIS C 60068-2-58:2006 環境試験方法−電気・電子−表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の
耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-58:2004,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test
methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface
mounting devices (SMD)(IDT)
JIS Z 8601:1954 標準数
注記 対応国際規格 : ISO 3:1973,Preferred numbers−Series of preferred numbers(IDT)
1.4 個別規格に規定する事項
個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。
個別規格は,品目別通則,品種別通則又はブランク個別規格の要求性能よりも低い水準の要求性能を規
定してはならない。より厳しい要求性能を規定する場合は,その内容を個別規格の1.9に記載し,更に,
試験計画の中に,例えば,アステリスク(*)を付けて明示する。
注記 1.4.1の外形図及び寸法は,一覧表で示してもよい。
個別規格には,次の事項を規定し,引用する値は,この規格の該当する項目の中から選定することが望
ましい。
1.4.1 外形図及び寸法
外形図及び寸法は,その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。コンデンサ
の互換性及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。また,全ての寸法は,ミリ
メートル(mm)で規定する。
寸法表示は,本体の長さ,幅及び高さを規定する。必要がある場合,例えば,幾つかの組合せ(寸法及
び公称静電容量と定格電圧との組合せ範囲)を個別規格に規定する場合は,寸法及び寸法許容差を図の下
に表で示す。
形状が上記のコンデンサと異なる場合は,そのコンデンサを適切に表す寸法表示を個別規格に規定する。
1.4.2 取付け
個別規格には,通常に使用する場合の取付方法を規定する。試験及び測定のための取付方法(適用する
場合)は,4.3による。
1.4.3 定格及び特性
定格及び特性は,この規格の関連項目によるほか,次による。
――――― [JIS C 5101-21 pdf 7] ―――――
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C 5101-21 : 2014 (IEC 60384-21 : 2011)
1.4.3.1 公称静電容量範囲
2.2.4.1による。
注記 IEC電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,個別規格の公称静電容量範囲と認証を受けた範
囲とが異なるとき,次の文章を追加する。
“各定格電圧での公称静電容量の範囲は,品質認証電子部品一覧表(QPL)による。”
なお,品質認証電子部品一覧表(QPL)は,IECオンラインサービス(http://certificates.iecq.org/)
で参照できる[JIS C 5101-1のQ.1.2.2(標準カタログ部品)参照]。
1.4.3.2 特殊な特性
設計及び使用目的によって,特殊な特性が必要な場合は,追加規定してもよい。
1.4.3.3 はんだ付け
はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験で適用する試験方法,厳しさ及び要求性能は,個別規格の規定によ
る。
1.4.4 表示
コンデンサ及びその包装に対する表示項目を個別規格に規定する。1.6と異なる場合は,その事項を個別
規格に明記する。
1.5 用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5101-1によるほか,次による。
1.5.1
表面実装用コンデンサ(surface mount capacitor)
寸法が小形で,端子の形状がハイブリッド回路及びプリント配線板の表面実装用に適したコンデンサ。
1.5.2
固定磁器コンデンサ種類1(fixed capacitors, ceramic dielectric, Class 1)
電子機器の共振回路,その他一般に損失が低く,温度などに対する静電容量の安定性が必要な回路で,
主に温度補償用に用いる磁器を誘電体としたコンデンサ。
注記 この磁器の誘電体は,公称温度係数(α)によって区別している。
1.5.3
サブクラス(subclass)
公称温度係数とその許容差との組合せによる種類1の下位分類(表2参照)。
注記 公称温度係数及びその許容差は,温度範囲が+20 ℃+85 ℃のものである。ただし,温度と
静電容量との関係(TC Curve)は厳密には直線でないため,その他の温度に対する静電容量変
化(ΔC/C)の限界値を規定する必要がある(表3参照)。
1.5.4
カテゴリ温度範囲(category temperature range)
設計上,コンデンサを連続的に使用できる周囲温度範囲。カテゴリ下限温度とカテゴリ上限温度とによ
って規定する[JIS C 5101-1の2.2.4(カテゴリ温度範囲)参照]。
1.5.5
定格温度,TR(rated temperature)
定格電圧を連続して印加してもよい最高周囲温度[JIS C 5101-1の2.2.24(定格温度)参照]。
1.5.6
定格電圧,UR(rated d.c. voltage)
――――― [JIS C 5101-21 pdf 8] ―――――
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C 5101-21 : 2014 (IEC 60384-21 : 2011)
カテゴリ下限温度と定格温度との間の任意の温度で,コンデンサに連続して印加できる最高直流電圧。
注記1 最高直流電圧は,コンデンサに印加する直流電圧と,交流電圧のピーク値又はパルス電圧の
ピーク値との和である。
注記2 この規格では,対応国際規格の用語“rated d.c. voltage”を“定格電圧”とした。また,JIS C
5101-1の2.2.25.1(定格直流電圧)の定義を変更している。
1.5.7
カテゴリ電圧,UC(category voltage)
カテゴリ上限温度でコンデンサに連続して印加してもよい最高電圧[JIS C 5101-1の2.2.5(カテゴリ電
圧)参照]。
1.6 表示
1.6.1 一般事項
表示は,JIS C 5101-1の2.4(表示)によるほか,次による。
表示事項は,次の項目から選定する。表示の優先順位は,記載の順とする。
− 公称静電容量
− 定格電圧(直流電圧は,記号 又は で表してもよい。)
− 公称静電容量許容差
− 公称温度係数及び適用できる場合はその許容差(2.2.5参照)
− 製造年月(又は年週)
− 製造業者名又はその商標
− 耐候性カテゴリ
− 製造業者の形名
− 引用個別規格
1.6.2 コンデンサ本体への表示
コンデンサ本体には表示しない。ただし,表示が可能な場合は,1.6.1に規定する項目から選定し,明瞭
に表示する。また,コンデンサ本体への表示の重複は避けることが望ましい。
1.6.3 表示の要求事項
全ての表示は,明瞭で,かつ,指でこすって汚れたり消えてはならない。
1.6.4 コンデンサの包装への表示
コンデンサの包装には,1.6.1の全項目を明瞭に表示する。
1.6.5 表示の追加
表示項目を追加する場合には,混乱しないように表示する。
2 推奨特性及び定格
2.1 推奨特性
ここでは,推奨特性の中で推奨耐候性カテゴリだけを規定する。
この規格に規定するコンデンサは,JIS C 60068-1の附属書A(部品の耐候性カテゴリー)に規定する一
般原則に基づく耐候性カテゴリに分類する。
カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選定する。
− カテゴリ下限温度 : −55 ℃,−40 ℃,−25 ℃,−10 ℃及び+10 ℃
− カテゴリ上限温度 : +70 ℃,+85 ℃,+100 ℃,+125 ℃及び+150 ℃
――――― [JIS C 5101-21 pdf 9] ―――――
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C 5101-21 : 2014 (IEC 60384-21 : 2011)
− 高温高湿(定常)(温度40 ℃,相対湿度93 %)の試験期間 : 4日,10日,21日及び56日
低温及び高温試験の厳しさは,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。
注記 上記の耐候性カテゴリによる耐湿性[高温高湿(定常)]は,取付け前のコンデンサに対するも
ので,取付け後のコンデンサの耐候性能は,取付用プリント配線板,取付方法(4.3参照)及び
最終保護コーティングに大きく影響を受ける。
2.2 推奨定格値
2.2.1 定格温度(TR)
カテゴリ上限温度が125 ℃以下の場合,この規格に規定するコンデンサの定格温度は,カテゴリ上限温
度と同じとする。
2.2.2 定格電圧(UR)
定格電圧の推奨値は,JIS Z 8601に規定するR5の標準数列とする。ただし,その他の値が必要な場合は,
R10の標準数列の値から選定する。
コンデンサに印加する電圧は,直流電圧に重畳した交流電圧の波形の電圧ピーク値,又は交流電圧のピ
ーク間の電圧のいずれか大きい値で,その値は,定格電圧以下でなければならない。さらに,交流電圧の
ピーク値は,コンデンサの許容電力によって決まる値以下でなければならない。
2.2.3 カテゴリ電圧(UC)
定格温度がカテゴリ上限温度と同じ場合,JIS C 5101-1の2.2.5(カテゴリ電圧)によって,カテゴリ電
圧は,定格電圧と同じとする。
カテゴリ上限温度が125 ℃を超える場合,又は定格電圧が500 Vを超える場合のカテゴリ電圧は,個別
規格に規定する。
2.2.4 公称静電容量及びその許容差の推奨値
2.2.4.1 公称静電容量(CN)の推奨値
公称静電容量の推奨値は,JIS C 5063に規定のE6,E12及びE24の標準数列から選定する。
2.2.4.2 公称静電容量の許容差の推奨値
公称静電容量の許容差の推奨値は,表1による。
表1−公称静電容量の許容差の推奨値
標準数列 許容差
CN≧10 pF 記号 CN<10 pF 記号
の場合 の場合
E6 ±20 % M ±2 pF G
E12 ±10 % K ±1 pF F
E24 ±5 % J ±0.5 pF D
±2 % G ±0.25 pF C
±1 % F ±0.1 pF B
2.2.5 静電容量の温度係数
2.2.5.1 公称温度係数及びその許容差
表2に,公称温度係数及びその許容差を1ケルビン当たりの百万分率(10−6/K)で表し,対応するサブ
クラス及び記号を規定する。
個別規格には,それぞれの公称温度係数に対して,その許容差を確認できる静電容量の最小値を規定す
る。また,この最小値は,規定した静電容量測定方法の確度を考慮する。
――――― [JIS C 5101-21 pdf 10] ―――――
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JIS C 5101-21:2014の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5101-21:2014の関連規格と引用規格一覧
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