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C 5101-21 : 2014 (IEC 60384-21 : 2011)
静電容量値がこの最低値よりも低い場合は,次による。
a) 個別規格には,カテゴリ上限温度及びカテゴリ下限温度での静電容量の許容変化値である公称温度係
数(α)の許容差に対する増加係数を規定する。
b) 特別な測定方法の必要がある場合は,個別規格に規定する。
表2−公称温度係数及びその許容差
公称温度係数(α) 公称温度係数の許容差 サブクラス 記号
10−6/K 10−6/K α 許容差
+100 ±30 1B A G
0 ±30 1B C G
−33 ±30 1B H G
−75 ±30 1B L G
−150 ±30 1B P G
−220 ±30 1B R G
−330 ±60 1B S H
−470 ±60 1B T H
−750 ±120 1B U J
−1000 ±250 1F Q K
−1500 ±250 1F V K
a)
+140≧α≧−1 000 1C SL −
注記1 下線は,推奨する公称温度係数(α)を示す。
注記2 公称温度係数とその許容差は,20 ℃と85 ℃との間の静電容量の変化で定義している。
注記3 例えば,公称温度係数0×10−6/Kで許容差±30×10−6/Kのコンデンサを,CGコンデンサ
(サブクラス1B)という。
注a) この温度係数は,表3に静電容量の許容変化率の規定がないため,検査の対象とはしない。
注記 基準温度を25 ℃とする場合は,附属書Bを参考にする。
2.2.5.2 静電容量変化の許容値
公称温度係数とその許容差との各組合せに対応する,カテゴリ上限温度及びカテゴリ下限温度での静電
容量変化の許容値は,表3による。静電容量変化の許容値は,公称温度係数及び温度差から算出でき,千
分率(×10−3)で表す(表3の注記3参照。)。また,公称温度係数及びその許容差は,1ケルビン当たり
の百万分率(10−6/K)で表す。
――――― [JIS C 5101-21 pdf 11] ―――――
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C 5101-21 : 2014 (IEC 60384-21 : 2011)
表3−静電容量変化の許容値
公称温度係数及び 20 ℃と表中の温度との間の静電容量変化の許容値(×10−3)
その許容差 カテゴリ下限温度 カテゴリ上限温度
α 許容差 −55 ℃ −40 ℃ −25 ℃ −10 ℃ +70 ℃ +85 ℃ +100 ℃ +125 ℃
10−6/K 10−6/K
+100 ±30 −9.75 / −7.80 / −5.85 / −3.90 / 3.50 / 4.55 / 5.60 / 7.35 /
−3.71 −2.96 −2.22 −1.48 6.50 8.45 10.4 13.7
0 ±30 −2.25 / −1.80 / −1.35 / −0.90 / −1.50 / −1.95 / −2.40 / −3.15 /
5.45 4.36 3.27 2.18 1.50 1.95 2.40 3.15
−33 ±30 0.225 / 0.180 / 0.135 / 0.090 / −3.15 / −4.10 / −5.04 / −6.62 /
8.47 6.77 5.08 3.39 −0.15 −0.195 −0.240 −0.32
−75 ±30 3.38 / 2.70 / 2.03 / 1.35 / −5.25 / −6.83 / −8.40 / −11.0 /
12.3 9.85 7.39 4.92 −2.25 −2.93 −3.60 −4.73
−150 ±30 9.00 / 7.20 / 5.40 / 3.60 / −9.00 / −11.7 / −14.4 / −18.9 /
19.2 15.3 11.5 7.67 −6.0 −7.80 −9.60 −12.6
−220 ±30 14.3 / 11.4 / 8.55 / 5.70 / −12.5 / −16.2 / −20.0 / −26.3 /
25.6 20.5 15.3 10.2 −9.50 −12.4 −15.2 −20.0
−330 ±60 20.3 / 16.2 / 12.2 / 8.10 / −19.5 / −25.4 / −31.2 / −41.0 /
38.4 30.7 23.0 15.4 −13.5 −17.6 −21.6 −28.4
−470 ±60 30.8 / 24.6 / 18.5 / 12.3 / −26.5 / −34.5 / −42.4 / −55.7 /
51.2 41.0 30.7 20.5 −20.5 −26.7 −32.8 −43.1
−750 ±120 47.3 / 37.8 / 28.4 / 18.9 / −43.5 / −56.6 / −69.6 / −91.4 /
82.3 65.8 49.4 32.9 −31.5 −41.0 −50.4 −66.2
−1000 ±250 56.3 / 45.0 / 33.8 / 22.5 / −62.5 / −81.3 / −100 / −131 /
117 93.7 70.2 46.8 −37.5 −48.8 −60.0 −78.8
−1500 ±250 93.8 / 75.0 / 56.3 / 37.5 / −87.5 / −114 / −140 / −184 /
163 130 97.7 65.1 −62.5 −81.3 −100 −131
カテゴリ上限温度が125 ℃を超える場合は,静電容量変化の許容値を個別規格に規定する。
注記1 下線は,推奨する公称温度係数(α)を示している。
注記2 +20 ℃カテゴリ上限温度の温度範囲における温度係数限界値(静電容量変化の許容値)は,公称温
度係数及びその許容差によって算出している[注記3のa)参照]。
+20 ℃−55 ℃の温度範囲における温度係数限界値(静電容量変化の許容値)は,注記3のb)及
びc)によって算出している。
注記3 カテゴリ下限温度における静電容量変化の許容値は,b)及びc)によって算出している。
a) カテゴリ上限温度における静電容量変化の許容範囲 :
ΔC/C×(10−3)=(公称温度係数±温度係数許容差*)×(カテゴリ上限温度−20)/1 000
b) カテゴリ下限温度における静電容量変化の許容下限値 :
ΔC/C×(10−3)=(公称温度係数+温度係数許容差*)×(カテゴリ下限温度−20)/1 000
c) カテゴリ下限温度における静電容量変化の許容上限値 :
ΔC/C×(10−3)=[(−36)−(1.22×温度係数許容差*)+(0.22×公称温度係数)+公称温度係数]×(カテ
ゴリ下限温度−20)/1 000
ここに,“温度係数許容差*”は,絶対値である。
注記4 表中の表記A/Bの,Aは下限値を示し,Bは上限値を示している。
2.2.6 寸法
寸法記号及び規定に関する指針は,附属書Aによる。寸法の詳細は,個別規格に規定する。
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C 5101-21 : 2014 (IEC 60384-21 : 2011)
3 品質評価手順
3.1 製造の初期工程
製造の初期工程は,誘電体に内部電極を塗布したものの最初の焼成工程とする。
3.2 構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサは,外形寸法及び定格値が異なっていても,同じ工程及び同じ材料で製造し
たコンデンサとする。
3.3 出荷対象ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で購入者から要求があるときは,JIS C 5101-1のQ.9(出荷ロット成績証明書)
によって出荷対象ロットの成績証明書を提出しなければならない。耐久性試験後の要求性能は,静電容量
の変化,誘電正接(tan 及び絶縁抵抗とする。
3.4 品質認証
品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1のQ.5(品質認証手順)による。
ロットごと及び定期的品質確認検査に基づく品質認証試験の計画は,3.5による。定数抜取手順は,3.4.1
及び3.4.2による。
3.4.1 定数抜取手順に基づく品質認証
定数抜取手順は,JIS C 5101-1のQ.5.3(品質認証用試験手順)のb)の規定による。
試料は,認証を得ようとするコンデンサの全ての範囲を代表するものとし,個別規格に規定する全ての
範囲であっても,また,その一部でもよい。
公称温度係数ごとに試料は,外形寸法の最大及び最小と,定格電圧の最高及び最低との4組合せとし,
それぞれの公称静電容量が最大のものを選定する。定格電圧が5種類以上の場合は,中間の定格電圧につ
いても試験をする。したがって,品質認証試験は,公称温度係数ごとに,4組合せ又は6組合せ(公称静
電容量と定格電圧との組合せ)の試料が必要である。また,認証範囲で3組合せ以下の場合の試料数は,4
組合せと同じ試料数とする。公称温度係数が二つ以上のものについて同時に認証試験を実施する場合の試
料数は,3.4.2による。
評価水準EZを適用する場合の予備試料は,次による。
予備試料は,製造業者の責任でない事故による不適合品置換え用として1組合せごとに2個(6組合せ
の場合)又は3個(4組合せの場合)としてもよい。
群0に規定する試料数は,全ての群の試験を適用する場合の試料数であり,全ての試験を適用しない場
合は,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
品質認証の試験計画に群を追加する場合,群0の試料数は,追加する群に必要な個数を追加する。
品質認証試験の場合の各群又は副群の抜取数及び合格判定数は,表4による。
3.4.2 試験
表4及び表5に規定する一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり,
各群の試験は,規定の順に従って実施する。
全ての試料は,群0の試験を実施した後,その他の群に分割する。
群0で発生した不適合品は,その他の群に用いてはならない。
一つのコンデンサが,一つの群内の全て又は一部の項目で不適合となったとき,“1個の不適合品”と数
える。
公称温度係数が二つ以上のものについて同時に認証試験を実施する場合,公称温度係数が最も小さいも
のの試験計画及び試料数は,群1,群2及び群3の試験の規定による。その他の公称温度係数のものは,
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C 5101-21 : 2014 (IEC 60384-21 : 2011)
副群3.3及び群4の試験だけを規定の試料数で実施する。
品質認証の判定は,それぞれの公称温度係数ごとに,表4に規定する合格判定数によって実施する。最
も小さい公称温度係数の群1,群2及び群3での合計不適合品数と,対象となる公称温度係数の副群3.3
及び群4での不適合品数との合計で判定する。
判定では,各群又は副群での不適合品数が合格判定数以下であり,さらに,各項目合計の合格判定数以
下の場合に,承認する。
注記 表4及び表5は,定数抜取手順に基づく品質認証試験計画を構成する。表4は,各試験群に対
する試験項目,試料数及び合格判定数の詳細を規定している。一方,表5は,箇条4に規定す
る試験の詳細と合わせて,試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに,個別規格に選
定する試験方法,試験条件などを規定している。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は,個別規格に規定する
品質確認検査と同じとすることが望ましい。
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C 5101-21 : 2014 (IEC 60384-21 : 2011)
表4−品質認証試験の定数抜取試験計画−評価水準EZ
群又は副 試験項目 細分箇条番号 試料数 合格判定数
群の番号 n e) c
0 外観 4.4 132+24 f) 0
寸法 4.4
静電容量 4.5.1
誘電正接 4.5.2
絶縁抵抗 4.5.3
耐電圧 4.5.4
予備試料 − 12 −
1A 端子強度g) 4.15 12 0
はんだ耐熱性 4.9
部品の耐溶剤性b) 4.16
1B はんだ付け性 4.10 12 0
表示の耐溶剤性b) 4.17
2 耐プリント板曲げ性d) 4.8 12 0
3 a) 取付け 4.3 84+24 f) 0 c)
外観 4.4
静電容量 4.5.1
誘電正接 4.5.2
絶縁抵抗 4.5.3
耐電圧 4.5.4
3.1 固着性h) 4.7 24 0
温度急変 4.11
一連耐候性 4.12
3.2 高温高湿(定常) 4.13 24 0
3.3 耐久性 4.14 36 0
3.4 加速耐湿性(定常)b) 4.18 24 f) 0
4 静電容量の温度係数及び温度サ 4.6 12 0
イクルによる静電容量のずれ
注a) この測定値は,その後の副群3.13.4の試験での初期値とする。
b) 個別規格に規定がある場合に適用する。
c) 取付後に不適合品が見つかったコンデンサは,続く試験の許容不適合品数の算出に用いては
ならない。これらの不適合品は予備試料と交換する。
d) 個別規格にアルミナ基板だけに取り付けると規定しているコンデンサには適用しない。
e) 定格電圧と公称静電容量との組合せで3.4.1による。
f) 副群3.4を試験する場合の追加試料。
g) 板端子をもつコンデンサに適用する。
h) 板端子をもつコンデンサには適用しない。
――――― [JIS C 5101-21 pdf 15] ―――――
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