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C 5101-21 : 2014 (IEC 60384-21 : 2011)
表5−品質認証の試験計画
細分箇条番号及び D又は 試験条件 試料数(n) 要求性能
試験項目 ND (注記1参照) 及び合格判 (注記1参照)
(注記1参照) 定数(c)
群0 ND 表4による。
4.4 外観 4.4.2による。
表示は明瞭である。
その他は個別規格の規定
による。
4.4 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
4.5.1 静電容量 周波数 : ··· Hz 規定の許容差による。
測定電圧 : ··· V(実効値)
4.5.2 誘電正接 周波数及び測定電圧は,4.5.1によ 4.5.2.2による。
(tan る。
4.5.3 絶縁抵抗 方法は,個別規格の規定による。 4.5.3.3による。
4.5.4 耐電圧 方法は,個別規格の規定による。 永久破壊及びフラッシオ
ーバがない。
群1A D 表4による。
4.15 端子強度 試験Ua1 力 : 2.5 N
(適用する場合) 試験Ub 方法1 : 力 : 2.5 N
曲げ回数 : 1回
外観 損傷がない。
4.9.1 初期測定 静電容量
4.9 はんだ耐熱性
方法は個別規格の規定による。
後処理時間 : 6 h24 h
4.9.4 最終測定 外観 4.9.4による。
静電容量 4.9.4による。
4.16 部品の耐溶剤性 溶剤 : ··· 個別規格の規定による。
(適用する場合) 溶剤の温度 : ···
方法2
後処理時間 : ···
群1B D 表4による。
4.10 はんだ付け性
方法は,個別規格の規定による。
4.10.3 最終測定 外観 4.10.3による。
4.17 表示の耐溶剤性a) 溶剤 : ··· 表示は明瞭である。
(適用する場合) 溶剤の温度 : ···
方法1
ラビングの材料 : 脱脂綿
後処理時間 : ···
群2 D 表4による。
4.8 耐プリント板曲げ性
曲げ深さ : ··· 個別規格の規定による。
曲げ回数 : ···
4.8.1 初期測定 静電容量
4.8.2 最終測定 静電容量(プリント配線板を曲げた |ΔC/C|≦5 %
状態)
外観 損傷がない。
――――― [JIS C 5101-21 pdf 16] ―――――
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C 5101-21 : 2014 (IEC 60384-21 : 2011)
表5−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D又は 試験条件 試料数(n) 要求性能
試験項目 ND (注記1参照) 及び合格判 (注記1参照)
(注記1参照) 定数(c)
群3 D 表4による。
4.3 取付け
プリント配線板の材質 : ···b)
外観 4.4.2による。
静電容量 規定の許容差による。
誘電正接 4.5.2による。
絶縁抵抗 4.5.3.3による。
耐電圧 永久破壊及びフラッシオ
ーバがない。
副群3.1 D 表4による。
4.7 固着性
外観 損傷がない。
4.11.1 初期測定 静電容量
4.11 温度急変
TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
5サイクル
t1=30 min
後処理時間 : 6 h24 h
4.11.4 最終測定 外観 損傷がない。
静電容量 ΔC/Cは4.11.4による。
4.12 一連耐候性
4.12.1 初期測定 静電容量
4.12.2 高温 温度 : カテゴリ上限温度
時間 : 16 h
4.12.3 温湿度サイクル
(試験Db),
最初のサイクル
4.12.4 低温 温度 : カテゴリ下限温度
時間 : 2 h
外観 損傷がない。
4.12.5 温湿度サイクル 後処理時間 : 6 h24 h
(試験Db),
残りのサイクル
4.12.6 最終測定 外観 損傷がなく表示が明瞭で
ある。
静電容量 ΔC/Cは4.12.6による。
誘電正接 4.12.6による。
絶縁抵抗 4.12.6による。
副群3.2 D 表4による。
4.13 高温高湿(定常)
4.13.1 初期測定 静電容量
後処理時間 : 6 h24 h
4.13.4 最終測定 外観 損傷がなく表示が明瞭で
ある。
静電容量 ΔC/Cは4.13.4による。
誘電正接 4.13.4による。
絶縁抵抗 4.13.4による。
――――― [JIS C 5101-21 pdf 17] ―――――
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C 5101-21 : 2014 (IEC 60384-21 : 2011)
表5−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D又は 試験条件 試料数(n) 要求性能
試験項目 ND (注記1参照) 及び合格判 (注記1参照)
(注記1参照) 定数(c)
副群3.3 D 表4による。
4.14 耐久性
時間 : ··· h
温度 : ··· ℃
電圧 : ··· V
4.14.1 初期測定 静電容量
後処理時間 : 6 h24 h
4.14.4 最終測定 外観 損傷がなく表示が明瞭で
ある。
静電容量 ΔC/Cは4.14.4による。
誘電正接 4.14.4による。
絶縁抵抗 4.14.4による。
副群3.4 D 表4による。
4.18 加速耐湿性(定常) 時間 : ··· h
(適用する場合) 温度 : 85 ℃±2 ℃
相対湿度 : (85±3)%
4.18.1 初期測定 絶縁抵抗 4.18.1による。
後処理時間 : 6 h24 h
4.18.4 最終測定 絶縁抵抗 4.18.4による。
群4 ND 表4による。
4.6 静電容量の温度係数 予備乾燥 : 16 h24 h ΔC/Cは4.6.3による。
及び温度サイクルによる
静電容量のずれ
注記1 試験の細分箇条番号,試験条件及び要求性能は,箇条4を参照。
注記2 この表でDは破壊試験,NDは非破壊試験を表す。
注記3 “...”で示す値は,この規格では規定せずに,個別規格で規定することを示す。
注a) この試験は,コンデンサをプリント配線板に取り付けた状態で実施してもよい。
b) 各副群で異なるプリント配線板材料を用いる場合は,それぞれの副群で用いるプリント配線板材料を個別規
格に規定する。
3.5 品質確認検査
3.5.1 検査ロットの構成
3.5.1.1 群A検査及び群B検査
これらの検査は,ロットごとに実施する。
製造業者は,次の条件の下にコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
1) 検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2参照)。
2a) 検査試料は,検査ロットに含まれる公称静電容量と定格電圧との組合せ及び外形寸法を代表するよ
うに選び,試料数に関しては1組合せ当たり5個以上とする。
2b) EC電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,1組合せ当たりの試料数が4個以下のとき,製造業
者は,認証機関(CB)の承認を必要とする。
3.5.1.2 群C検査
この検査は,定期的に実施する。
試料は,特定の期間に工程に流れている製品を代表するものとし,外形寸法を小,中及び大に分類する。
いかなる期間でも認証の範囲を対象とするために,外形寸法の分類ごとに一つの定格電圧のものを試験す
――――― [JIS C 5101-21 pdf 18] ―――――
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C 5101-21 : 2014 (IEC 60384-21 : 2011)
る。
その後の期間では,認証の全ての範囲を対象とするために,製造中のその他の外形寸法及び/又は定格
電圧のものを試験する。
3.5.2 試験計画
ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画は,ブランク個別規格の箇条2に規定す
る。
3.5.3 長期保管後の出荷
JIS C 5101-1のQ.10(長期保管後の出荷)に従い,はんだ付け性及び静電容量について,群A及び群B
の再検査を実施する。
3.5.4 評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は,表6A及び表6Bから選定することが望ましい。
表6A−ロットごとの品質確認検査
検査副群d) 評価水準 EZ
IL a) n a) c a)
A0 100 % b)
c)
A1 S-4 0
c)
A2 S-3 0
c)
B1 S-3 0
c)
B2 S-2 0
注a) L=検査水準
n=試料数
c=合格判定数
b) この検査は,工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に実施する抜取試料による検査で
ある。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するために,抜取試料を全
て検査する。抜取水準は,製造業者が選定する。その場合JIS C 5005-2の附属書A[信頼水準60 %
における100万個当たりの不適合品率(ppm)で示す統計的工程品質限界(SVQL)の推定]によ
ることが望ましい。抜取試料中に1個以上の不適合を発見した場合には,このロットは不合格とす
るが,品質水準を算出するために,不適合品の数を全て数える。ppmで示す出荷品質水準は,JIS C
5005-2の6.2(SVQLの算出)に規定する方法によって,累積した検査データから算出する。
c) 試料数(n)は,JIS C 5005-2の4.3.2(なみ検査による抜取検査方式)によって決定する。
d) 検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条2に規定する。
――――― [JIS C 5101-21 pdf 19] ―――――
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C 5101-21 : 2014 (IEC 60384-21 : 2011)
表6B−定期的品質確認検査
検査副群 b) 評価水準 EZ
p a) n a) c a)
C1 3 12 0
C2 3 12 0
C 3.1 6 27 0
C 3.2 6 15 0
C 3.3 3 15 0
C 3.4 c) 6 15 0
C4 6 9 0
注a) =検査周期(月)
n=試料数
c=合格判定数
b) 検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条2に規定する。
c) 要求がある場合に実施する。
4 試験及び測定方法
この箇条は,JIS C 5101-1の箇条4(試験及び測定手順)に規定する事項を補足するものである。
4.1 予備乾燥
予備乾燥は,JIS C 5101-1の4.3(乾燥)による。
4.2 測定条件
測定条件は,JIS C 5101-1の4.2.1[測定及び試験のための標準大気条件(標準状態)]による。
4.3 取付け
取付けは,JIS C 5101-1の4.33(取付け)による。
4.4 外観及び寸法検査
外観及び寸法は,JIS C 5101-1の4.4(外観検査及び寸法検査)によるほか,次による。
4.4.1 外観検査
外観は,供試品及び要求する品質水準に適切な照明及び約10倍の拡大鏡を用いて検査する。
注記 検査員は,適切な測定設備に加えて直接又は間接照明の設備を用意することが望ましい。
4.4.2 要求事項
次の要求事項の数値は,個別規格又は製造業者の仕様書に規定してもよい。
4.4.2.1 磁器部についての要求事項
コンデンサの磁器部については,次による。
a) 表面の小さな損傷を除き,コンデンサの性能を損なうようなクラック又は亀裂があってはならない(例
えば,図1及び図2参照)。
図1−不適合 : クラック又は亀裂
――――― [JIS C 5101-21 pdf 20] ―――――
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JIS C 5101-21:2014の引用国際規格 ISO 一覧
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JIS C 5101-21:2014の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5101-21:2014の関連規格と引用規格一覧
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